[發(fā)明專利]基于激光陀螺的轉(zhuǎn)臺分度誤差檢測方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201410552578.8 | 申請日: | 2014-10-17 |
| 公開(公告)號: | CN104316081A | 公開(公告)日: | 2015-01-28 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 謝元平;龍興武;羅暉;金世龍;胡紹民;于旭東;魏國;張鵬飛;李耿 | 申請(專利權(quán))人: | 中國人民解放軍國防科學(xué)技術(shù)大學(xué) |
| 主分類號: | G01C25/00 | 分類號: | G01C25/00 |
| 代理公司: | 長沙永星專利商標(biāo)事務(wù)所 43001 | 代理人: | 周詠;林毓俊 |
| 地址: | 410073 湖*** | 國省代碼: | 湖南;43 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 基于 激光 陀螺 轉(zhuǎn)臺 分度 誤差 檢測 方法 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及一種轉(zhuǎn)臺分度誤差的檢測方法,特別涉及一種采用激光陀螺對轉(zhuǎn)臺分度誤差進(jìn)行檢測的方法。
背景技術(shù)
精密轉(zhuǎn)臺是航空、航天、航海、計量等領(lǐng)域不可缺少的重要設(shè)備,常用作慣性系統(tǒng)或慣性儀表等精密儀器的性能測試、誤差標(biāo)定、仿真研究和工作平臺,其分度精度直接影響系統(tǒng)或儀表的精度。在工業(yè)生產(chǎn)中,轉(zhuǎn)臺或回轉(zhuǎn)軸是多軸數(shù)控機床不可或缺的關(guān)鍵性部件,對機床加工精度影響巨大。因此,轉(zhuǎn)臺角位置精度測量是精密轉(zhuǎn)臺研制、生產(chǎn)和使用中一項必不可少的工作。同時,對于一些絕對角位置精度較低而重復(fù)性較高的轉(zhuǎn)臺(例如,內(nèi)部集成了角度編碼器、軸承的一體化電機與工作臺面構(gòu)成的低成本轉(zhuǎn)臺),通過分度誤差檢測和誤差補償?shù)姆椒梢杂行У靥岣咿D(zhuǎn)臺的精度,以較低的成本達(dá)到較高的精度要求。
對轉(zhuǎn)臺角位置檢測精度要求較高時,通常采用光電自準(zhǔn)直儀(或激光干涉儀)與多面棱體配合,光電自準(zhǔn)直儀(或激光干涉儀)與反射鏡、多齒分度臺配合進(jìn)行檢測。這些方法往往存在系統(tǒng)復(fù)雜、安裝調(diào)整困難、對測試環(huán)境要求較高等缺點,且只能標(biāo)校由多面棱體或多齒分度臺確定的固定角度。
因此,尋找可對轉(zhuǎn)臺任意角位置進(jìn)行檢測、檢測精度高、操作簡單、適用范圍廣的轉(zhuǎn)臺分度誤差檢測方法是本領(lǐng)域技術(shù)人員極為關(guān)注的技術(shù)問題。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的是:克服現(xiàn)有技術(shù)的不足,提供一種可檢測轉(zhuǎn)臺任意角位置、檢測精度高、操作簡單、適用范圍廣的基于激光陀螺的轉(zhuǎn)臺分度誤差檢測方法。
為實現(xiàn)本發(fā)明而采用的技術(shù)解決方案是:一種基于激光陀螺的轉(zhuǎn)臺分度誤差檢測方法,包括下述步驟:
(1)將激光陀螺安裝到被檢轉(zhuǎn)臺上,使激光陀螺敏感軸與轉(zhuǎn)臺回轉(zhuǎn)軸線基本平行,激光陀螺工作,每1/Ns秒記錄一次激光陀螺輸出脈沖增量;
(2)轉(zhuǎn)臺由零位正向轉(zhuǎn)動M整周,截取所記錄數(shù)據(jù)中的連續(xù)K點數(shù)據(jù)并累加得到該段數(shù)據(jù)所屬時間間隔內(nèi)激光陀螺總輸出脈沖數(shù)N0+,截取的K點數(shù)據(jù)包含轉(zhuǎn)臺正轉(zhuǎn)期間和正轉(zhuǎn)前、后各K2、K1、K3點數(shù)據(jù);
轉(zhuǎn)臺反向轉(zhuǎn)動M整周回到零位,截取所記錄數(shù)據(jù)中的連續(xù)K點數(shù)據(jù)并累加得到該段數(shù)據(jù)所屬時間間隔內(nèi)激光陀螺總輸出脈沖數(shù)N0-,截取的K點數(shù)據(jù)包含轉(zhuǎn)臺反轉(zhuǎn)期間和反轉(zhuǎn)前、后各K5、K4、K6點數(shù)據(jù);
其中K1~K6、K取值滿足:截取的K點數(shù)據(jù)的起始點與結(jié)束點均對應(yīng)轉(zhuǎn)臺靜止?fàn)顟B(tài);K1+K2+K3=K4+K5+K6=K;
(3)轉(zhuǎn)臺由零位正向轉(zhuǎn)動到待測角度θi,截取所記錄數(shù)據(jù)中的連續(xù)K’點數(shù)據(jù)并累加得到該段數(shù)據(jù)所屬時間間隔內(nèi)激光陀螺總輸出脈沖數(shù)Ni+,截取的K’點數(shù)據(jù)包含轉(zhuǎn)臺正轉(zhuǎn)期間和正轉(zhuǎn)前、后各K2’、K1’、K3’點數(shù)據(jù);
轉(zhuǎn)臺反向轉(zhuǎn)動角度θi回到零位,截取所記錄數(shù)據(jù)中的連續(xù)K’點數(shù)據(jù)并累加得到該段數(shù)據(jù)所屬時間間隔內(nèi)激光陀螺總輸出脈沖數(shù)Ni-,截取的K’點數(shù)據(jù)包含轉(zhuǎn)臺反轉(zhuǎn)期間和反轉(zhuǎn)前、后各K5’、K4’、K6’點數(shù)據(jù);
其中K1’~K6’、K’取值滿足:截取的K’點數(shù)據(jù)的起始點與結(jié)束點均對應(yīng)轉(zhuǎn)臺靜止?fàn)顟B(tài);K1’+K2’+K3’=K4’+K5’+K6’=K’;
(4)根據(jù)下式計算被檢轉(zhuǎn)臺角位置θi處的分度誤差為:
Δθi=360·M·(Ni+-Ni-)(N0+-N0-)-θi(°)。
本發(fā)明還可以包括步驟(5):改變待測角度θi,重復(fù)步驟(3)~(4),直至轉(zhuǎn)臺所有待測角度檢測完畢。
作為進(jìn)一步的改進(jìn),激光陀螺敏感軸與轉(zhuǎn)臺回轉(zhuǎn)軸線二者夾角小于1°。
本發(fā)明可以采用脈沖記錄裝置記錄激光陀螺輸出脈沖增量,被檢轉(zhuǎn)臺工作于角位置模式。
在上述方法中,轉(zhuǎn)臺由零位正向轉(zhuǎn)動到某個待測角度以及由該位置反向回到零位的時間相等或接近。
作為優(yōu)選,轉(zhuǎn)臺角速率為10~100°/s。優(yōu)選采用零偏穩(wěn)定性優(yōu)于0.01°/h的激光陀螺。優(yōu)選Ns為1~10的整數(shù),M為>1的整數(shù)。
作為優(yōu)選,取值上使K1和K6相接近,K3和K4相接近,K1’和K6’相接近,K3’和K4’相接近。
本發(fā)明的優(yōu)點在于:
(1)原理簡單,檢測精度高;
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