[發(fā)明專利]光學傳感器及其圖像形成裝置有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201410548720.1 | 申請日： | 2014-10-16 |
| 公開（公告）號： | CN104570647B | 公開（公告）日： | 2018-09-11 |
| 發(fā)明（設(shè)計）人： | 越智照通;和井田匠;加藤真治;石井稔浩;平井秀二;藤田貴史;行方伸一;山科亮太;吉浦有信;山野元義 | 申請（專利權(quán)）人： | 株式會社理光 |
| 主分類號： | G03G15/00 | 分類號： | G03G15/00 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律師事務所 11105 | 代理人： | 張祥 |
| 地址： | 日本*** | 國省代碼： | 日本;JP |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 記錄紙 擴散反射光 檢測器 正反射光 受光 圖像形成裝置 法線 光學傳感器 擴散反射 照射光 反射 測定對象物 記錄材料 反射光 平滑度 入射角 正反射 光源 | ||
本發(fā)明的目的在于提供一種能夠更高精度地測定記錄材料等的測定對象物的平滑度的光學傳感器和圖像形成裝置。其包括對光源(110)來的照射光中由記錄紙(20)來正反射的正反射光進行受光的正反射光檢測器(130)，和對該記錄紙來擴散反射的擴散反射光進行受光的擴散反射光檢測器(230)，對于記錄紙的面的照射光的入射角(θ1)是在(75°)以上(85°)以下的范圍內(nèi)，擴散反射光檢測器的構(gòu)成是，對于通過記錄紙的面來擴散反射后的反射光之中相對于記錄紙的面的法線的反射角度(θ3)為大于(0°)，并且小于正反射光相對于記錄紙的面的法線的反射角度(θ2)的擴散反射光進行受光。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及對從發(fā)光部照射后由對象物反射的正反射光及擴散反射光進行受光的反射型的光學傳感器，以及包括該光學傳感器的打印機、復印機、傳真機等的圖像形成裝置。
背景技術(shù)
電子照片方式的圖像形成裝置是通過在記錄紙等的記錄材料上轉(zhuǎn)印調(diào)色劑像，并以規(guī)定的條件來加熱及加壓后，使得調(diào)色劑像定影到記錄材料上來形成圖像。在這種圖像形成裝置中，為了實現(xiàn)高畫質(zhì)化而需要考慮的是在定影調(diào)色劑像時的溫度或壓力等的定影條件。這是因為，記錄在記錄材料上的圖像品質(zhì)會受到記錄材料的材質(zhì)、厚度、濕度、平整光滑性、涂覆狀態(tài)等的影響。例如，對于平滑性來說，定影條件的不同，有時會導致對記錄材料中的表面凹部的調(diào)色劑定影率的降低，在發(fā)生圖像濃度不均或顏色不均后會得不到高畫質(zhì)的圖象。
在專利文獻1中，公開的是將通過對記錄材料面的入射角θ1光源來入射到記錄材料上的光相對于記錄材料的法線的角度(入射角θ1)為80°≤θ1≤88°后，并對其正反射光及擴散反射光進行受光的光學傳感器。通過以該光學傳感器那樣的角度來使得光從光源向記錄材料入射后，來自于該記錄材料的正反射光量和該記錄材料的平滑度之間就會有高的相關(guān)。因此，就能夠從該光學傳感器的正反射光量來高精度地測定記錄材料的平滑度。而且，在該光學傳感器中，因為不僅是正反射光量，還是利用擴散反射光的受光量來計算記錄材料的平滑度，所以記錄材料的平滑度是從正反射光量和擴散反射光量等兩種數(shù)據(jù)來計算的。由此，比起從正反射光量的一種數(shù)據(jù)來計算記錄材料的平滑度的情況來，能夠進一步地高精度地測定記錄材料的平滑度。其結(jié)果是，根據(jù)從該光學傳感器的正反射光量及擴散反射光量計算的記錄材料的平滑度就可以高精度地選擇適合該記錄材料的定影條件，從而可以對于各種記錄材料來獲得高畫質(zhì)的圖像。
另外，本申請人在有關(guān)前述專利文獻1的專利申請之后，在特愿2012-187596號(以下稱為“先申請”)中，提案了一種根據(jù)記錄材料來的正反射光量的不同而能夠簡易地測定平滑度的光學傳感器。這是通過使得光對記錄材料面的入射角θ1在75°≤θ1≤85°之間后，發(fā)現(xiàn)能夠在該正反射光量和記錄材料面的平滑度之間獲得高的相關(guān)，來講光學傳感器構(gòu)成為具有這樣的入射角的。即使在該先申請所涉及的光學傳感器中，也不僅是正反射光量，還利用擴散反射光的受光量來計算記錄材料的平滑度，并從正反射光量和擴散反射光量等兩種數(shù)據(jù)來計算記錄材料的平滑度的。由此，比起從正反射光量的一種數(shù)據(jù)來計算記錄材料的平滑度的情況來，能夠?qū)崿F(xiàn)更高精度的記錄材料的平滑度測定。
然而，在專利文獻1或先申請中的光學傳感器里，用于計算記錄材料的平滑度的擴散反射光是通過記錄材料面擴散反射的擴散反射光中朝向該記錄材料面的法線方向的擴散反射光。本案申請人為了實現(xiàn)更高精度的平滑度的測定而進行了銳意研究之后，發(fā)現(xiàn)通過改變測定平滑度所用的擴散反射光對記錄材料面的法線的反射角度，從正反射光量及擴散反射光量計算的平滑度和實際的平滑度的相關(guān)程度會變化。然后得知，通過改變平滑度的測定所用的擴散反射光對記錄材料面的法線的反射角度，就能夠比前述專利文獻1或前述先申請的光學傳感器進行更高精度的平滑度的測定。
【專利文獻1】(日本)特開2012-194445號公報
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明鑒于上述背景，目的在于提供能夠更高精度地測定記錄材料等的測定對象物的平滑度的光學傳感器及其圖像形成裝置。
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