[發(fā)明專利]光學(xué)傳感器及其圖像形成裝置有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201410548720.1 | 申請日: | 2014-10-16 |
| 公開(公告)號: | CN104570647B | 公開(公告)日: | 2018-09-11 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 越智照通;和井田匠;加藤真治;石井稔浩;平井秀二;藤田貴史;行方伸一;山科亮太;吉浦有信;山野元義 | 申請(專利權(quán))人: | 株式會社理光 |
| 主分類號: | G03G15/00 | 分類號: | G03G15/00 |
| 代理公司: | 北京市柳沈律師事務(wù)所 11105 | 代理人: | 張祥 |
| 地址: | 日本*** | 國省代碼: | 日本;JP |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 記錄紙 擴散反射光 檢測器 正反射光 受光 圖像形成裝置 法線 光學(xué)傳感器 擴散反射 照射光 反射 測定對象物 記錄材料 反射光 平滑度 入射角 正反射 光源 | ||
1.一種光學(xué)傳感器,其包括:
發(fā)光部,其發(fā)出照射到測定對象物上的光;
正反射光受光部,其對所述發(fā)光部發(fā)出的照射光中由測定對象物來正反射的正反射光進行受光;
擴散反射光受光部,其對所述發(fā)光部發(fā)出的照射光中由測定對象物來擴散反射的擴散反射光進行受光,
其特征在于,相對于所述測定對象物的面的所述照射光的入射角是在75°以上85°以下的范圍內(nèi),
所述擴散反射光受光部的構(gòu)成為,在由所述測定對象物的面來擴散反射的反射光中,對于反射角度相對于所述測定對象物的面的法線為大于0°并小于所述正反射光相對于所述測定對象物的面的法線的反射角度的擴散反射光進行受光,并且,對于反射角度在相對于所述測定對象物的面的法線為66°以上70°以下的范圍內(nèi)的擴散反射光進行受光。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光學(xué)傳感器,其特征在于:
光學(xué)傳感器還包括設(shè)置在測定對象物與正反射光受光部之間的透鏡。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光學(xué)傳感器,其特征在于:
所述擴散反射光受光部包括聚光構(gòu)件,其對以所述擴散反射光的反射角度為中心的±2°的角度范圍內(nèi)的擴散反射光進行聚光。
4.根據(jù)權(quán)利要求1至3中任何一項所述的光學(xué)傳感器,其特征在于:
從所述發(fā)光部照射來的光是紅外線光。
5.根據(jù)權(quán)利要求1至3中任何一項所述的光學(xué)傳感器,其特征在于:
所述正反射光受光部的構(gòu)成為,不僅對所述正反射光,還對所述發(fā)光部發(fā)出的照射光中不通過所述測定對象物的面來反射的直接光進行受光。
6.一種在記錄材料上形成圖像的圖像形成裝置,其特征在于包括:
所述權(quán)利要求1至3中任何一項所述的光學(xué)傳感器,和
根據(jù)所述光學(xué)傳感器中的正反射光受光部及擴散反射光受光部的受光結(jié)果來判別所述記錄材料的種類的記錄材料種類判別機構(gòu)。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的圖像形成裝置,其特征在于:
所述記錄材料種類判別機構(gòu)根據(jù)所述光學(xué)傳感器中的正反射光受光部及擴散反射光受光部的受光結(jié)果來計算所述記錄材料的表面的平滑度,并根據(jù)計算的平滑度來判別所述記錄材料的種類。
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G03G 電記錄術(shù);電照相;磁記錄
G03G15-00 應(yīng)用電荷圖形的電記錄工藝的設(shè)備
G03G15-01 .用于生產(chǎn)多色復(fù)制品的
G03G15-02 .用于沉積均勻電荷的,即感光用的;電暈放電裝置
G03G15-04 .曝光用的,即將原件圖像光學(xué)投影到光導(dǎo)記錄材料上而進行圖像曝光
G03G15-05 .用于圖像充電,例如,光敏控制屏、光觸發(fā)充電裝置
G03G15-054 .用X射線,例如,電放射術(shù)





