[發明專利]基于不同校準平面的RRU駐波比的檢測方法和裝置

有效

• 申請號: 201410543053.8
• 申請日: 2014-10-14
• 公開（公告）號: CN104270209B
• 公開（公告）日: 2016-11-23
• 發明（設計）人: 王世華;艾寶強;王杰麗;薛斌;何艷輝
• 申請（專利權）人: 大唐移動通信設備有限公司
• 主分類號: H04B17/12
• 分類號: H04B17/12
• 代理公司: 北京潤澤恒知識產權代理有限公司 11319
• 代理人: 趙娟

技術領域

本發明涉及測量技術領域，特別是涉及一種基于不同校準平面的遠端射頻單元RRU駐波比的檢測方法和一種基于不同校準平面的遠端射頻單元RRU駐波比的檢測裝置。

背景技術

當前較為流行的基站系統架構中主要采用了分布式結構，是由RRU(Remote?Radio?Unit，遠端射頻單元)及BBU(Building?Base?band?Unit，室內基帶處理單元)構成。基站系統架構的一個重要的功能就是實現系統駐波比的檢測，駐波比是測量反射性特性的一個指標。SWR(Standard?Wave?Ratio，駐波比)/VSWR(Voltage?Standing?Wave?Ratio，電壓駐波比)是指對RRU的各天線通道進行檢測，從而測量得到RRU的各天線端口的駐波值，從而及時獲知天線端口的匹配狀況，駐波比檢測主要包括OPD(Output?Power?Detector，輸出功率檢測)和RPD(Return?Power?Detector，反射功率檢測)。

在實施駐波比檢測時，需要規定一個校準平面，用來計算RRU所包含的誤差。但由于基站在生產時與外場實際使用是存在差異的，因此其進行駐波比檢測的校準平面不一致，并且，在目前可知的技術中均未提及關于校準平面不一致所帶來的駐波比檢測精度的問題。

因此，本領域技術人員迫切需要解決的問題之一在于，提出一種基于不同校準平面的遠端射頻單元RRU駐波比檢測的方法及裝置，用以在校準平面不一致時，精確檢測RRU的駐波比。

發明內容

本發明實施例所要解決的技術問題是提供一種基于不同校準平面的遠端射頻單元RRU駐波比的檢測方法，用以在校準平面不一致時，精確檢測RRU的駐波比。

相應的，本發明實施例還提供了一種基于不同校準平面的遠端射頻單元RRU駐波比的檢測裝置，用以保證上述方法的實現及應用。

為了解決上述問題，本發明公開了一種基于不同校準平面的遠端射頻單元RRU駐波比的檢測方法，所述校準平面包括第一校準平面和第二校準平面，所述RRU中存儲有由第二校準平面的校準數據推導出的第一校準平面處的校準數據；所述方法包括：

計算第一校準平面處的反射參數；

采用所述第一校準平面處的反射參數和第一校準平面處的校準數據計算駐波比。

優選地，所述計算第一校準平面處的反射參數的步驟包括：

生成掃頻信號；

采用預置的訓練序列發射所述掃頻信號至待測設備；

采用所述RRU抓取所述待測設備的反射功率檢測RPD反饋數據及輸出功率檢測OPD反饋數據；

依據所述反射功率檢測RPD反饋數據及輸出功率檢測OPD反饋數據計算第一校準平面處的反射參數。

優選地，所述依據反射功率檢測RPD反饋數據及輸出功率檢測OPD反饋數據計算第一校準平面處的反射參數的步驟包括：

采用所述輸出功率檢測OPD反饋數據對所述反射功率檢測RPD反饋數據進行相位同步操作；

分段從預置的各個駐留頻點在所述相位同步后的反射功率檢測RPD反饋數據中提取單音信號；

依據所述單音信號獲得最大峰值；

采用所述最大峰值及計算第一校準平面處的反射參數。

優選地，所述依據所述單音信號獲得最大峰值的步驟包括：

對所述單音信號進行快速傅里葉變換FFT獲得頻域特征圖；

從所述頻域特征圖計算出指定帶寬內的最大峰值。

優選地，所述校準平面包括第第二校準平面，所述第一校準平面處的校準數據包括方向性誤差D，反射跟蹤誤差R，和源失配誤差S，所述第一校準平面處的校準數據采用如下方式獲得：

采用預置的訓練序列發射所述掃頻信號至待測設備；

采用RRU分別抓取在第二校準平面處的短路、開路、負載匹配時所述待測設備的反射功率檢測RPD反饋數據；

采用矢量網絡分析儀VNA對第一校準平面與第二校準平面處的設備及線纜進行測量獲得實際反射參數；

采用所述在第二校準平面處的短路、開路、負載匹配時所述待測設備的反射功率檢測RPD反饋數據，以及實際反射參數計算第一校準平面處的方向性誤差D，反射跟蹤誤差R，和源失配誤差S。

優選地，所述采用第一校準平面處的反射參數和第一校準平面處的校準數據計算駐波比的步驟包括：

采用所述第一校準平面處的反射參數及所述RRU中的校準數據計算精確反射系數；

采用所述精確反射系數計算指定帶寬內的均值反射系數；