[發明專利]基于不同校準平面的RRU駐波比的檢測方法和裝置

有效

• 申請號: 201410543053.8
• 申請日: 2014-10-14
• 公開（公告）號: CN104270209B
• 公開（公告）日: 2016-11-23
• 發明（設計）人: 王世華;艾寶強;王杰麗;薛斌;何艷輝
• 申請（專利權）人: 大唐移動通信設備有限公司
• 主分類號: H04B17/12
• 分類號: H04B17/12
• 代理公司: 北京潤澤恒知識產權代理有限公司 11319
• 代理人: 趙娟

1.一種基于不同校準平面的遠端射頻單元RRU駐波比的檢測方法，其特征在于，所述校準平面包括第一校準平面和第二校準平面，所述RRU中存儲有由第二校準平面的校準數據推導出的第一校準平面處的校準數據；所述方法包括：

計算第一校準平面處的反射參數；

采用所述第一校準平面處的反射參數和第一校準平面處的校準數據計算駐波比。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述計算第一校準平面處的反射參數的步驟包括：

生成掃頻信號；

采用預置的訓練序列發射所述掃頻信號至待測設備；

采用所述RRU抓取所述待測設備的反射功率檢測RPD反饋數據及輸出功率檢測OPD反饋數據；

依據所述反射功率檢測RPD反饋數據及輸出功率檢測OPD反饋數據計算第一校準平面處的反射參數。

3.根據權利要求2所述的方法，其特征在于，所述依據反射功率檢測RPD反饋數據及輸出功率檢測OPD反饋數據計算第一校準平面處的反射參數的步驟包括：

采用所述輸出功率檢測OPD反饋數據對所述反射功率檢測RPD反饋數據進行相位同步操作；

分段從預置的各個駐留頻點在所述相位同步后的反射功率檢測RPD反饋數據中提取單音信號；

依據所述單音信號獲得最大峰值；

采用所述最大峰值及計算第一校準平面處的反射參數。

4.根據權利要求3所述的方法，其特征在于，所述依據所述單音信號獲得最大峰值的步驟包括：

對所述單音信號進行快速傅里葉變換FFT獲得頻域特征圖；

從所述頻域特征圖計算出指定帶寬內的最大峰值。

5.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述校準平面包括第第二校準平面，所述第一校準平面處的校準數據包括方向性誤差D，反射跟蹤誤差R，和源失配誤差S，所述第一校準平面處的校準數據采用如下方式獲得：

采用預置的訓練序列發射所述掃頻信號至待測設備；

采用RRU分別抓取在第二校準平面處的短路、開路、負載匹配時所述待測設備的反射功率檢測RPD反饋數據；

采用矢量網絡分析儀VNA對第一校準平面與第二校準平面處的設備及線纜進行測量獲得實際反射參數；

采用所述在第二校準平面處的短路、開路、負載匹配時所述待測設備的反射功率檢測RPD反饋數據，以及實際反射參數計算第一校準平面處的方向性誤差D，反射跟蹤誤差R，和源失配誤差S。

6.根據權利要求1或5所述的方法，其特征在于，所述采用第一校準平面處的反射參數和第一校準平面處的校準數據計算駐波比的步驟包括：

采用所述第一校準平面處的反射參數及所述RRU中的校準數據計算精確反射系數；

采用所述精確反射系數計算指定帶寬內的均值反射系數；

采用所述均值反射系數計算駐波比。

7.一種基于不同校準平面的遠端射頻單元RRU駐波比的檢測裝置，其特征在于，所述校準平面包括第一校準平面和第二校準平面，所述RRU中存儲有由第二校準平面的校準數據推導出的第一校準平面處的校準數據；所述裝置包括：

第一反射參數計算模塊，用于計算第一校準平面處的反射參數；

駐波比計算模塊，用于采用所述第一校準平面處的反射參數和第一校準平面處的校準數據計算駐波比。

8.根據權利要求7所述的裝置，其特征在于，所述第一反射參數計算模塊包括：

第一掃頻信號生成子模塊，用于生成掃頻信號；

第一訓練序列發射子模塊，用于采用預置的訓練序列發射所述掃頻信號至待測設備；

第一反饋數據抓取子模塊，用于采用所述RRU抓取所述待測設備的反射功率檢測RPD反饋數據及輸出功率檢測OPD反饋數據；

反射參數計算子模塊，用于依據所述反射功率檢測RPD反饋數據及輸出功率檢測OPD反饋數據計算第一校準平面處的反射參數。