[發(fā)明專利]一種清洗鈍化GaAS晶圓表面的方法在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201410536346.3 | 申請(qǐng)日: | 2014-10-11 |
| 公開(公告)號(hào): | CN104392898A | 公開(公告)日: | 2015-03-04 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 王智勇;張綿;王青;堯舜;高鵬坤;鄭建華 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 北京工業(yè)大學(xué) |
| 主分類號(hào): | H01L21/02 | 分類號(hào): | H01L21/02 |
| 代理公司: | 北京思海天達(dá)知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11203 | 代理人: | 沈波 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 清洗 鈍化 gaas 表面 方法 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及一種GaAS基微波器件的制備工藝過程,具體是制備過程中一種清洗鈍化GaAS晶圓表面的方法。
背景技術(shù)
GaAS具有很高的電子遷移率,大的禁帶寬度,低于si的功耗等優(yōu)點(diǎn),已成為高性能微電子和光電子半導(dǎo)體器件優(yōu)選材料之一,但GaAs表面極易氧化,形成很高的表面和界面的態(tài)密度,從而引起費(fèi)米能級(jí)釘扎和高表面復(fù)合速度。而且其自體氧化層結(jié)構(gòu)疏松、組分穩(wěn)定性差,完全不具有鈍化功能。
發(fā)展有效的表面鈍化(Surface?Passivation)方法,成為發(fā)展GaAS基微波器件的一個(gè)極其重要關(guān)鍵的步驟。研究表明,進(jìn)行適當(dāng)?shù)谋砻骖A(yù)處理(表面清洗與鈍化)可以極大地改進(jìn)高遷移率溝道材料的界面質(zhì)量,有效降低界面態(tài)密度,獲得較好的電學(xué)性能,解決費(fèi)米能級(jí)釘扎問題。
目前,去除GaAs本征氧化物主要采用化學(xué)溶液法,利用酸性溶液進(jìn)行清洗,而GaAS表面鈍化大多采用硫化按溶液處理,即國(guó)內(nèi)外較成熟的S鈍化法。但是S鈍化法對(duì)環(huán)境存在一定危害,且處理后的GaAS表面存在一定瑕疵。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明所要解決的技術(shù)問題是提供一種安全環(huán)保的清洗鈍化GaAS晶圓表面的方法,該方法有效保證了GaAS襯底的平整性,明顯提高了GaAS基微波器件的電學(xué)性能。
為實(shí)現(xiàn)上述目的,本發(fā)明采用的技術(shù)方案為一種清洗鈍化GaAS晶圓表面的方法,其包括以下步驟:首先將GaAs襯底用有機(jī)溶液處理,除去表面的油污;然后用鹽酸溶液浸泡GaAS晶圓,除去表面的自體氧化層,由于HCl對(duì)As和Ga的各價(jià)氧化物都可發(fā)生反應(yīng)生成可溶性的鹽,因此上述去除的Cl-和H+都不具有氧化性,所以在鹽酸溶液中GaAs表面是完整的;接著采用紫外-臭氧方法對(duì)GaAs表面進(jìn)行鈍化;最后將鈍化后的GaAS襯底用去離子水沖洗表面并用高純氮?dú)獯蹈伞?/p>
所述有機(jī)溶液處理過程為,用三氯乙烯溶劑超聲清洗10分鐘。
所述的紫外-臭氧方法,主要是紫外-臭氧設(shè)備產(chǎn)生185nm和254nm高強(qiáng)度UV光。185nm波長(zhǎng)紫外光的光能量能將空氣中的氧氣(O2)分解成臭氧(O3),而254nm波長(zhǎng)的紫外光的光能量能將O3分解成O2和活性氧(O)?;钚匝蹩蓪aAs表面的As的氧化物As2O3變成As2O5,將Ga的氧化物化物GaO變成Ga2O3,當(dāng)Ga2O3、As2O5和As2O3達(dá)到適宜時(shí)可形成穩(wěn)定的、均勻的鈍化層。在連續(xù)進(jìn)行的光敏氧化反應(yīng)中,生成的活性氧原子與活化了的有機(jī)物(即碳?xì)浠衔?分子發(fā)生氧化反應(yīng),生成揮發(fā)性氣體(如CO2,CO,H2O,NO等)逸出物體表面,從而徹底清除粘附在物體表面上的有機(jī)污染物,達(dá)到清洗的目的。
與現(xiàn)有技術(shù)相比,本發(fā)明具有如下有益效果。
采用紫外-臭氧方法對(duì)GaAs表面進(jìn)行鈍化的方法,可在GaAs表面形成穩(wěn)定性好的鈍化膜。與常規(guī)S鈍化相比,紫外-臭氧方法不僅可以避免S雜質(zhì)的n型沾污,而且該方法在實(shí)現(xiàn)GaAs表面的鈍化的同時(shí)還具有去除樣品表面有機(jī)沾污的功能,可為離子注入和外延提供理想的襯底表面。
附圖說(shuō)明
圖1是本發(fā)明的實(shí)施流程圖。
具體實(shí)施方式
以下結(jié)合附圖和實(shí)施例對(duì)本發(fā)明作進(jìn)一步詳細(xì)說(shuō)明。
如圖1為本發(fā)明的實(shí)施流程圖,GaAs晶圓表面的清洗鈍化工藝,工藝流程:GaAS襯底首先用有機(jī)溶液處理,用三氯乙烯超聲清洗10分鐘,除去表面的油污;然后用鹽酸溶液浸泡GaAS襯底3分鐘,除去表面的自體氧化層;接著采用紫外-臭氧方法對(duì)GaAs表面進(jìn)行鈍化;最后將鈍化后的GaAS襯底用去離子水沖洗表面并用高純氮?dú)獯蹈伞?/p>
紫外-臭氧方法鈍化作用過程:
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個(gè)器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測(cè)試或測(cè)量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
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