[發明專利]一種清洗鈍化GaAS晶圓表面的方法在審
| 申請號: | 201410536346.3 | 申請日: | 2014-10-11 |
| 公開(公告)號: | CN104392898A | 公開(公告)日: | 2015-03-04 |
| 發明(設計)人: | 王智勇;張綿;王青;堯舜;高鵬坤;鄭建華 | 申請(專利權)人: | 北京工業大學 |
| 主分類號: | H01L21/02 | 分類號: | H01L21/02 |
| 代理公司: | 北京思海天達知識產權代理有限公司 11203 | 代理人: | 沈波 |
| 地址: | 100124 *** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 清洗 鈍化 gaas 表面 方法 | ||
1.一種清洗鈍化GaAS晶圓表面的方法,其特征在于:該方法包括以下步驟,首先將GaAs襯底用有機溶液處理,除去表面的油污;然后用鹽酸溶液浸泡GaAS晶圓,除去表面的自體氧化層;接著采用紫外-臭氧方法對GaAs表面進行鈍化;最后將鈍化后的GaAS襯底用去離子水沖洗表面并用高純氮氣吹干。
2.根據權利要求1所述的一種清洗鈍化GaAS晶圓表面的方法,其特征在于:所述有機溶液處理過程為,用三氯乙烯溶劑超聲清洗10分鐘。
3.根據權利要求1所述的一種清洗鈍化GaAS晶圓表面的方法,其特征在于:所述的紫外-臭氧方法,是紫外-臭氧設備產生185nm和254nm高強度UV光;185nm波長紫外光的光能量能將空氣中的氧氣分解成臭氧,而254nm波長的紫外光的光能量能將O3分解成O2和活性氧;活性氧可將GaAs表面的As的氧化物As2O3變成As2O5,將Ga的氧化物化物GaO變成Ga2O3,當Ga2O3、As2O5和As2O3達到適宜時可形成穩定的、均勻的鈍化層;在連續進行的光敏氧化反應中,生成的活性氧原子與活化了的有機物分子發生氧化反應,生成揮發性氣體逸出物體表面,從而徹底清除粘附在物體表面上的有機污染物,達到清洗的目的。
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H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導體或固體器件或其部件的方法或設備
H01L21-02 .半導體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內或其上形成的多個固態組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





