[發(fā)明專利]一種用于測量結(jié)構(gòu)變形的測量方法

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 201410535669.0
• 申請日: 2014-10-11
• 公開（公告）號: CN105509701A
• 公開（公告）日: 2016-04-20
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 宋曉鶴;李健;王亞鋒
• 申請（專利權(quán)）人: 中國航空工業(yè)集團(tuán)公司西安飛機(jī)設(shè)計研究所
• 主分類號: G01B21/32
• 分類號: G01B21/32
• 代理公司: 中國航空專利中心 11008
• 代理人: 杜永保

1.一種用于測量結(jié)構(gòu)變形的測量方法，其特征在于，包括以下步驟：

步驟一.確定結(jié)構(gòu)待測量點(diǎn)未變形時點(diǎn)A₀的幾何位置(X_A0，Y_A0，Z_A0)；

步驟二.在待測量點(diǎn)引出三條不共面的射線，在每條射線方向上布置一個位移測量計，安裝位置分別標(biāo)記為點(diǎn)B、C、D，坐標(biāo)為：

(X_B，Y_B，Z_B)，(X_C，Y_C，Z_C)，(X_D，Y_D，Z_D)；

步驟三.計算未變形時待測量點(diǎn)A₀距每個位移測量計安裝點(diǎn)B、C、D的距離L₁,L₂,L₃；

步驟四.結(jié)構(gòu)變形后讀出每個位移測量計測得的位移值D₁,D₂,D₃；

步驟五.假設(shè)結(jié)構(gòu)變形后位移測量點(diǎn)由A₀運(yùn)動至點(diǎn)A₁，其幾何位置變化為(X_A1，Y_A1，Z_A1),根據(jù)空間幾何學(xué)，以上幾何參數(shù)之間存在以下相關(guān)方程:

步驟六.解上面的方程組求出X_A1，Y_A1，Z_A1，從而確定了結(jié)構(gòu)變形后測量點(diǎn)在初始坐標(biāo)系下的空間位置，由此可計算得到變形后待測量點(diǎn)在初始坐標(biāo)系下的三向位移X-DIS、Y-DIS、Z-DIS，分別為:

步驟七.根據(jù)待測量點(diǎn)在初始坐標(biāo)系下的三向位移X-DIS、Y-DIS、Z-DIS，進(jìn)行坐標(biāo)系轉(zhuǎn)換即可精確計算出待測量點(diǎn)任意方向的位移。