[發明專利]一種用于測量結構變形的測量方法

在審

• 申請號: 201410535669.0
• 申請日: 2014-10-11
• 公開（公告）號: CN105509701A
• 公開（公告）日: 2016-04-20
• 發明（設計）人: 宋曉鶴;李健;王亞鋒
• 申請（專利權）人: 中國航空工業集團公司西安飛機設計研究所
• 主分類號: G01B21/32
• 分類號: G01B21/32
• 代理公司: 中國航空專利中心 11008
• 代理人: 杜永保

技術領域

本發明屬于航空結構設計領域，特別是涉及到一種在航空結構試驗時結構三維空間變形的測量方法。

背景技術

航空結構在設計過程中，需要進行大量的研發或驗證試驗，包括結構功能、結構選型以及結構強度試驗等，試驗所得到的數據為改進設計提供依據。其中結構變形是最重要的試驗數據之一。只有保證了保證試驗數據的準確性，試驗才可以發揮應有的作用，才能為設計人員提供正確的依據。

現有的結構變形測量手段常見的有位移計測量和紅外儀測量。位移計測量，成本較低，操作方便，測量過程直觀。但是使用位移計測量時，只能測量沿位移計布置方向的單向位移，而且結構變形后位移計測量方向可能發生變化，造成測量結果不準確；另外，有的情況，在需要測量位移的方向無法布置測量計，此時必須采用其它的測量方法。紅外儀測量可以測量三向位移，但是成本較高，且操作復雜，測量過程不直觀，有問題時無法及時發現。

因此在進行航空結構試驗時需要一種用于測量結構變形的測量方法。

發明內容

本發明的技術方案是：一種用于測量結構變形的測量方法，包括以下步驟：

步驟一.確定試驗件待測量點未變形時點A₀的幾何位置(X_A0，Y_A0，Z_A0)；

步驟二.在待測量點引出三條不共面的射線，在每條射線方向上布置一個位移測量計，位置分別標記為點B、C、D，坐標為：

(X_B，Y_B，Z_B)，(X_C，Y_C，Z_C)，(X_D，Y_D，Z_D)；

步驟三.計算未變形時待測量點A₀距每個位移測量計B、C、D的距離L₁,L₂,L₃；

步驟四.結構變形后讀出每個位移測量計的位移值D₁,D₂,D₃；

步驟五.假設結構變形后位移測量點A₁的幾何位置為(X_A1，Y_A1，Z_A1),則有以下方程組: