[發(fā)明專利]一種計(jì)量芯片的自啟動(dòng)方法及參數(shù)自校驗(yàn)方法

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201410529059.X
• 申請(qǐng)日: 2014-10-10
• 公開（公告）號(hào): CN104280606A
• 公開（公告）日: 2015-01-14
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 楊草田;趙鵬飛;裘德偉
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 華立儀表集團(tuán)股份有限公司
• 主分類號(hào): G01R22/00
• 分類號(hào): G01R22/00;G01R35/04
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明實(shí)施例涉及一種電表用的計(jì)量芯片的自啟動(dòng)及自校驗(yàn)方法，使得這種計(jì)量芯片的實(shí)施例能夠?qū)崿F(xiàn)自啟動(dòng)功能。

背景技術(shù)

由于智能模塊電能表技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)要求，通信模塊電源應(yīng)和電能表內(nèi)部強(qiáng)電實(shí)行隔離，防止因觸摸模塊天線觸電等安全風(fēng)險(xiǎn)，基于通信模塊管腳較多，從成本考慮一般都是把強(qiáng)電采樣的計(jì)量芯片和主單片機(jī)、通信模塊進(jìn)行電源隔離，計(jì)量芯片和微控制器兩邊隔離，導(dǎo)致二者的電源不同步掉電，計(jì)量芯片內(nèi)部參數(shù)未能及時(shí)正確配置導(dǎo)致快速累計(jì)電量或者不累計(jì)電量的問題。

發(fā)明內(nèi)容

因此，本發(fā)明實(shí)施例隔離前后電源，為保證通信模塊高通信成功率，微控制器電源一般都是采用大的儲(chǔ)能電解電容，當(dāng)外部220VAC電源掉電再上電過程中，微控制器掉電比較慢，未進(jìn)入完全掉電狀態(tài)外部電源已經(jīng)上電，而計(jì)量芯片掉電比較快已完全掉電并進(jìn)入上電復(fù)位。當(dāng)外部電源接近計(jì)量芯片電源臨界電壓時(shí)，微控制器電源還可以正常工作。

由于計(jì)量芯片內(nèi)部參數(shù)多達(dá)幾十條，為保證程序執(zhí)行順暢微控制器需要5到10秒時(shí)間校驗(yàn)一次計(jì)量芯片參數(shù)，在這個(gè)時(shí)間段內(nèi)計(jì)量芯片采用復(fù)位后的默認(rèn)參數(shù)在執(zhí)行，也有可能微控制器重新配置計(jì)量芯片參數(shù)，此時(shí)配置的參數(shù)有可能配置的參數(shù)寫正確也有可能，從而導(dǎo)致計(jì)量芯片在一段時(shí)間內(nèi)不能正常工作。

由于計(jì)量芯片和微控制器電源隔離，通過通信配置計(jì)量芯片參數(shù)存在一定的滯后性和不確定性，通信速度越快越容易出錯(cuò)，通信時(shí)受干擾也比較容易出錯(cuò)，于是設(shè)計(jì)一款能自己配置參數(shù)和自動(dòng)校驗(yàn)參數(shù)計(jì)量芯片。

技術(shù)方案1：電表的計(jì)量芯片是由采集端、ADC電路、仿真器、時(shí)鐘、第一寄存器和第二寄存器組成，通過其多個(gè)采集端采集電網(wǎng)電力線強(qiáng)電電壓和電流信號(hào)，通過ADC電路轉(zhuǎn)換為仿真器可讀的數(shù)字信號(hào)后，經(jīng)仿真器采樣計(jì)算得出電量信息，這些電量信息被分類存取至第一寄存器和第二寄存器中，并通過所述時(shí)鐘根據(jù)第一周期T_A校準(zhǔn)仿真器。

在一個(gè)較佳的例子中，所述第一寄存器被配置為隨機(jī)存取電量信息，所述第二寄存器被配置為存取經(jīng)過校準(zhǔn)的電量信息。

在一個(gè)較佳的例子中，當(dāng)所述計(jì)量芯片被電源復(fù)位時(shí)，通過隨機(jī)讀取第二寄存器中的至少一個(gè)經(jīng)校準(zhǔn)電量信息且覆蓋至所述第一寄存器中，使所述仿真器讀取第一寄存器后啟動(dòng)計(jì)量芯片。

在一個(gè)較佳的例子中，所述第一寄存器被配置為隨機(jī)存取電量信息，所述第二寄存器被配置為存取校表數(shù)據(jù)。

在一個(gè)較佳的例子中，當(dāng)所述計(jì)量芯片被電源復(fù)位時(shí)，通過將第二寄存器中的至少一個(gè)校表數(shù)據(jù)與所述第一寄存器中的電量信息進(jìn)行比較，使所述仿真器讀取第一寄存器后啟動(dòng)計(jì)量芯片。

在一個(gè)較佳的例子中，在所述計(jì)量芯片中設(shè)有一個(gè)比較參考信號(hào)源，用于使仿真器根據(jù)比較值啟動(dòng)計(jì)量芯片。

在一個(gè)較佳的例子中，所述第一寄存器被配置為隨機(jī)存取電量信息，所述第二寄存器被配置為存取來自仿真器的時(shí)鐘校準(zhǔn)參數(shù)。

在一個(gè)較佳的例子中，根據(jù)第二周期T_E將所述第二寄存器中的至少一個(gè)時(shí)鐘校準(zhǔn)參數(shù)與第一寄存器中電量信息中的時(shí)鐘參數(shù)進(jìn)行比較，以通過仿真器來自動(dòng)校準(zhǔn)所述計(jì)量芯片的時(shí)鐘值。

技術(shù)方案2：電表，主要是由計(jì)量芯片和與之通信的微控制器組成，其中：所述計(jì)量芯片是由采集端、ADC電路、仿真器、時(shí)鐘、第一寄存器和第二寄存器組成，通過其多個(gè)采集端采集電網(wǎng)電力線強(qiáng)電電壓和電流信號(hào)，通過ADC電路轉(zhuǎn)換為仿真器可讀的數(shù)字信號(hào)后，經(jīng)仿真器采樣計(jì)算得出電量信息，這些電量信息被分類存取至第一寄存器和第二寄存器中，并通過所述時(shí)鐘根據(jù)第一周期T_A校準(zhǔn)仿真器；所述微控制器被配置為與計(jì)量芯片通過隔離光耦端口加以通信，僅根據(jù)第一周期T_A讀取所述第一寄存器中的電量信息。?

在一個(gè)較佳的例子中，第一寄存器被配置為隨機(jī)存取電量信息，所述第二寄存器被配置為存取經(jīng)過校準(zhǔn)的電量信息。

在一個(gè)較佳的例子中，當(dāng)所述計(jì)量芯片被復(fù)位時(shí)，通過隨機(jī)讀取第二寄存器中的至少一個(gè)經(jīng)校準(zhǔn)電量信息且覆蓋至所述第一寄存器中，使所述仿真器讀取第一寄存器后啟動(dòng)計(jì)量芯片。

在一個(gè)較佳的例子中，所述的微控制器被配置為：僅讀取所述第一寄存器中被覆蓋的電量信息。