[發明專利]一種計量芯片的自啟動方法及參數自校驗方法有效
| 申請號： | 201410529059.X | 申請日： | 2014-10-10 |
| 公開（公告）號： | CN104280606A | 公開（公告）日： | 2015-01-14 |
| 發明（設計）人： | 楊草田;趙鵬飛;裘德偉 | 申請（專利權）人： | 華立儀表集團股份有限公司 |
| 主分類號： | G01R22/00 | 分類號： | G01R22/00;G01R35/04 |
| 代理公司： | 暫無信息 | 代理人： | 暫無信息 |
| 地址： | 310023 浙江省杭*** | 國省代碼： | 浙江;33 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 計量 芯片 啟動 方法 參數 校驗 | ||
1.一種計量芯片的自啟動方法，其特征在于包括：
設置第一寄存器來存取采集自電網電力線強電電壓或電流的耗用量；
設置第二寄存器來存儲計量芯片運行參數，其中所述計量芯片運行參數來源于經過時鐘配置的電量信息；以及
當所述計量芯片被電源復位時，控制第二寄存器中的至少一部分計量芯片運行參數移至所述第一寄存器中，通過計量芯片內的仿真器識別第一寄存器中的計量芯片運行參數，使得計量芯片啟動。
2.根據權利要求1所述計量芯片的自啟動方法，其特征在于：所述計量芯片運行參數是由經過校準的電量信息、校表數據和時鐘校準參數組成。
3.根據權利要求1所述計量芯片的自啟動方法，其特征在于：所述計量芯片是由電網電力線掉電、采集端強電采集導致電源復位。
4.根據權利要求1所述計量芯片的自啟動方法，其特征在于：與所述計量芯片連接的微控制器僅讀取所述第一寄存器中被覆蓋的電量信息。
5.一種計量芯片的參數自校驗方法，其特征在于包括：
設置第一寄存器來存取用電參數數據；
設置時鐘來根據第一周期TA校準仿真器；
設置第二寄存器來存取來自仿真器的時鐘校準參數；以及
根據第二周期TE將所述第二寄存器中的至少一個時鐘校準參數與第一寄存器中用電參數數據中的時鐘參數進行比較，以通過仿真器來自動校準所述計量芯片的時鐘值。
6.根據權利要求5所述計量芯片的參數自校驗方法，其特征在于：所述第二周期TE小于第一周期TA。
7.根據權利要求5所述計量芯片的參數自校驗方法，其特征在于：與計量芯片連接的微控制器僅根據第一周期TA讀取所述第一寄存器中的時鐘值。
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