[發(fā)明專利]電路和由電路執(zhí)行的方法

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201410519933.1
• 申請日: 2014-09-30
• 公開（公告）號: CN104518796B
• 公開（公告）日: 2018-11-27
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 沈軍華;R·A·卡普斯塔
• 申請（專利權(quán)）人: 美國亞德諾半導(dǎo)體公司
• 主分類號: H03M1/10
• 分類號: H03M1/10;H03M1/12
• 代理公司: 中國國際貿(mào)易促進(jìn)委員會專利商標(biāo)事務(wù)所 11038
• 代理人: 金曉

1.一種由電路執(zhí)行的方法，包括：

使用包含比較器的SAR ADC執(zhí)行位試驗，以將模擬輸入信號轉(zhuǎn)換成數(shù)字輸出信號；

完成所述位試驗后，由所述比較器以剩余誤差作為所述比較器的輸入執(zhí)行多個比較器決定；

基于比較器決定，測量所述比較器的輸入處的剩余電壓；以及

基于測量的剩余誤差值調(diào)整數(shù)字輸出信號。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其中測量剩余電壓包括統(tǒng)計計算剩余誤差值。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法，其中統(tǒng)計計算剩余誤差值包括計算對剩余誤差輸入的比較器決定的概率。

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的方法，其中統(tǒng)計計算剩余誤差值還包括根據(jù)SAR ADC的噪聲的累積分布函數(shù)使比較器決定的概率與相應(yīng)的剩余誤差值相匹配。

5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的方法，其中所述SAR ADC的噪聲的累積分布函數(shù)在SAR ADC的校準(zhǔn)期間進(jìn)行測量。

6.根據(jù)權(quán)利要求4所述的方法，其中所述SAR ADC的噪聲的累積分布函數(shù)是預(yù)編程的。

7.一種由電路執(zhí)行的方法，包括：

使用SAR ADC執(zhí)行常規(guī)位試驗以從ADC的最高有效位MSB到預(yù)定低有效位將模擬輸入信號轉(zhuǎn)換成數(shù)字輸出信號；

除了常規(guī)位試驗之外，以等于和/或小于預(yù)定低有效位試驗的幅度執(zhí)行選擇常規(guī)位試驗的重復(fù)位試驗；以及

將所述常規(guī)位試驗和所述重復(fù)位試驗的結(jié)果基于其對應(yīng)位權(quán)求和以生成數(shù)字輸出信號。

8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的方法，其中所述預(yù)定低有效位是最低有效位LSB。

9.根據(jù)權(quán)利要求7所述的方法，還包括執(zhí)行預(yù)定數(shù)量的重復(fù)位試驗。

10.根據(jù)權(quán)利要求7所述的方法，執(zhí)行所述重復(fù)位試驗直到達(dá)到閾值。

11.根據(jù)權(quán)利要求10所述的方法，其中所述閾值包括在SAR ADC越過比較器閥值的DAC輸出。

12.根據(jù)權(quán)利要求8所述的方法，其中所述重復(fù)位試驗的幅度是LSB幅度的一半。

13.根據(jù)權(quán)利要求7所述的方法，其中所述重復(fù)位試驗是次噪聲等級重復(fù)試驗。

14.根據(jù)權(quán)利要求7所述的方法，其中所述重復(fù)位試驗的幅度按比例減小。

15.根據(jù)權(quán)利要求7所述的方法，其中所述重復(fù)位試驗與預(yù)定低有效位的幅度相同。

16.一種由電路執(zhí)行的方法，包括：

使用比較器從數(shù)字字的最高有效位MSB到預(yù)定低有效位執(zhí)行常規(guī)位試驗；

以等于和/或小于預(yù)定低有效位試驗的幅度執(zhí)行選擇常規(guī)位試驗的重復(fù)位試驗；

將常規(guī)位試驗和重復(fù)位試驗的結(jié)果基于其對應(yīng)位權(quán)求和以生成數(shù)字輸出信號；

通過由用于執(zhí)行所述常規(guī)位試驗的所述比較器以剩余誤差作為輸入執(zhí)行多個比較器決定來測量剩余誤差；和

基于測量的剩余誤差調(diào)整數(shù)字輸出信號。

17.根據(jù)權(quán)利要求16所述的方法，其中使用SAR ADC執(zhí)行所述方法并且所述剩余誤差在SAR ADC的比較器輸入處被測量。

18.根據(jù)權(quán)利要求16所述的方法，其中所述重復(fù)位試驗的幅度是最低有效位LSB幅度的一半。

19.根據(jù)權(quán)利要求16所述的方法，其中所述重復(fù)位試驗是次噪聲等級重復(fù)試驗。