[發(fā)明專利]一種垂直雙擴散金屬氧化物半導(dǎo)體場效應(yīng)管及其制作方法在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201410514651.2 | 申請日: | 2014-09-29 |
| 公開(公告)號: | CN105529262A | 公開(公告)日: | 2016-04-27 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 孫曉儒;周宏偉;阮孟波 | 申請(專利權(quán))人: | 無錫華潤華晶微電子有限公司 |
| 主分類號: | H01L21/336 | 分類號: | H01L21/336;H01L29/78;H01L29/06;H01L29/36 |
| 代理公司: | 北京品源專利代理有限公司 11332 | 代理人: | 路凱;胡彬 |
| 地址: | 214135 江蘇省無錫市*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 垂直 擴散 金屬 氧化物 半導(dǎo)體 場效應(yīng) 及其 制作方法 | ||
1.一種垂直雙擴散金屬氧化物半導(dǎo)體場效應(yīng)管的制作方法,其特征在 于,包括如下步驟:
提供第一導(dǎo)電類型襯底;
在所述第一導(dǎo)電類型襯底上方形成第一外延層,所述第一外延層的導(dǎo)電類 型為第一導(dǎo)電類型,所述第一外延層具有第一電阻率;
在所述第一外延層上方形成交替相間的第一導(dǎo)電類型柱區(qū)和第二導(dǎo)電類型 柱區(qū),所述第二導(dǎo)電類型柱區(qū)位于所述第一導(dǎo)電類型柱區(qū)的兩側(cè),所述第一導(dǎo) 電類型柱區(qū)具有第二電阻率,所述第二電阻率小于所述第一電阻率;
在所述第一導(dǎo)電類型柱區(qū)上方形成第三外延層,所述第三外延層的導(dǎo)電類 型為第一導(dǎo)電類型,所述第三外延層具有第三電阻率,以及在所述第二導(dǎo)電類 型柱區(qū)上方形成第二導(dǎo)電類型阱區(qū),所述第二導(dǎo)電類型阱區(qū)與所述第二導(dǎo)電類 型柱區(qū)相連,所述第三電阻率等于所述第二電阻率;
在所述第三外延層上表面形成柵極區(qū);
在所述第二導(dǎo)電類型阱區(qū)內(nèi)形成第一導(dǎo)電類型源區(qū);
在所述柵極區(qū)上方形成柵極金屬層,在所述第一導(dǎo)電類型源區(qū)上方形成源 極金屬層,在所述第一導(dǎo)電類型襯底下方形成漏極金屬層。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的制作方法,其特征在于,所述第一外延層的厚 度為10~30微米,所述第一電阻率為5~20歐姆·厘米,所述第一導(dǎo)電類型柱 區(qū)的厚度為15~40微米,所述第二電阻率為2~10歐姆·厘米。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的制作方法,其特征在于,所述第三外延層的厚度 為5~10微米,所述第三外延層的摻雜離子類型和摻雜濃度與所述第一導(dǎo)電類 型柱區(qū)相同。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的制作方法,其特征在于,所述形成交替相間的 第一導(dǎo)電類型柱區(qū)和第二導(dǎo)電類型柱區(qū)的方法為多次外延法或深槽外延法。
5.根據(jù)權(quán)利要求1至4任一項所述的制作方法,其特征在于,所述第一導(dǎo) 電類型為N型,所述第二導(dǎo)電類型為P型;或所述第一導(dǎo)電類型為P型,所述 第二導(dǎo)電類型為N型。
6.一種根據(jù)權(quán)利要求1至5任一項所述的制作方法制作的垂直雙擴散金屬 氧化物半導(dǎo)體場效應(yīng)管,其特征在于,所述場效應(yīng)管包括:
第一導(dǎo)電類型襯底;
位于所述第一導(dǎo)電類型襯底下方的漏極金屬層;
位于所述第一導(dǎo)電類型襯底上方的第一外延層,所述第一外延層的導(dǎo)電類 型為第一導(dǎo)電類型,所述第一外延層具有第一電阻率;
位于所述第一外延層上方的交替相間的第一導(dǎo)電類型柱區(qū)和第二導(dǎo)電類型 柱區(qū),所述第二導(dǎo)電類型柱區(qū)位于所述第一導(dǎo)電類型柱區(qū)的兩側(cè),所述第一導(dǎo) 電類型柱區(qū)具有第二電阻率,所述第二電阻率小于所述第一電阻率;
位于所述第一導(dǎo)電類型柱區(qū)上方的第三外延層,所述第三外延層的導(dǎo)電類 型為第一導(dǎo)電類型,所述第三外延層具有第三電阻率,所述第三電阻率等于所 述第二電阻率,以及位于所述第三外延層表面的柵極區(qū)和柵極金屬層;
位于所述第二導(dǎo)電類型柱區(qū)上方的第二導(dǎo)電類型阱區(qū),所述第二導(dǎo)電類型 阱區(qū)與所述第二導(dǎo)電類型柱區(qū)相連;
位于所述第二導(dǎo)電類型阱區(qū)內(nèi)的第一導(dǎo)電類型源區(qū),以及位于所述第一導(dǎo) 電類型源區(qū)表面的源極金屬層。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的場效應(yīng)管,其特征在于,所述第一外延層的厚 度為10~30微米,所述第一電阻率為5~20歐姆·厘米,所述第一導(dǎo)電類型柱 區(qū)的厚度為15~40微米,所述第二電阻率為2~10歐姆·厘米。
8.根據(jù)權(quán)利要求6所述的場效應(yīng)管,其特征在于,所述第三外延層的厚 度為5~10微米,所述第三外延層的摻雜離子類型和摻雜濃度與所述第一導(dǎo)電 類型柱區(qū)相同。
9.根據(jù)權(quán)利要求6至8任一項所述的場效應(yīng)管,其特征在于,所述第一導(dǎo) 電類型為N型,所述第二導(dǎo)電類型為P型;或所述第一導(dǎo)電類型為P型,所述 第二導(dǎo)電類型為N型。
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





