[發(fā)明專利]具有低基板電耦合效應(yīng)的微機電元件有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201410513985.8 | 申請日: | 2014-09-29 |
| 公開(公告)號: | CN105523518B | 公開(公告)日: | 2017-08-08 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 蔡明翰;徐新惠 | 申請(專利權(quán))人: | 原相科技股份有限公司 |
| 主分類號: | B81B7/00 | 分類號: | B81B7/00 |
| 代理公司: | 中原信達知識產(chǎn)權(quán)代理有限責(zé)任公司11219 | 代理人: | 陳肖梅,謝麗娜 |
| 地址: | 中國臺*** | 國省代碼: | 臺灣;71 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 具有 低基板電 耦合 效應(yīng) 微機 元件 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及一種具有低基板電耦合效應(yīng)的微機電元件,特別是通過錨部以及基板的設(shè)計以降低其中基板與微機電結(jié)構(gòu)間的寄生電容與靜電效應(yīng)的微機電元件。
背景技術(shù)
參照圖1,其中顯示一現(xiàn)有技術(shù)的微機電元件10的示意圖,其中包含依序相接的基板11、錨部12、以及微機電結(jié)構(gòu)13,微機電結(jié)構(gòu)13經(jīng)由錨部12而懸浮于基板11上方。微機電元件10以互補式金氧半導(dǎo)體(CMOS)制程制作,和CMOS制程所制作的CMOS電路中的晶體管元件(參閱圖標左方)共同制作在同一基板11上,此晶體管元件包含柵極G、柵極氧化層GOX、源極和漏極(S/D)。錨部12依序包含與晶體管元件的柵極氧化層GOX同層的一氧化層LGO(其厚度相當于柵極氧化層)、一多晶硅層POLY(與晶體管元件的柵極G同層)、一第一接觸/通道層C1、一導(dǎo)電層M、以及一第二接觸/通道層C2。第一接觸/通道層C1、導(dǎo)電層M、以及第二接觸/通道層C2對應(yīng)于CMOS電路中的內(nèi)連線。因氧化層LGO的厚度與柵極氧化層GOX相當,其厚度較薄(例如),故可能形成一寄生電容效應(yīng),雖氧化層LGO的出平面投影面積小于微機電結(jié)構(gòu)13(參照出平面方向N),但此寄生電容仍可能造成影響,例如施加于基板11的電訊號或電位可能通過此寄生電容而對微機電結(jié)構(gòu)13的感測電訊號產(chǎn)生干擾。
此外,基板11與微機電結(jié)構(gòu)13間通常具有一電壓差,此電壓差乃操作微機電元件10時所產(chǎn)生。此電壓差在基板11與微機電結(jié)構(gòu)13間會形成一靜電力量,可能影響微機電元件10操作時的動作而造成困擾。
有鑒于此,本發(fā)明即針對上述現(xiàn)有技術(shù)的不足,提出利用一種具有低基板電耦合效應(yīng)的微機電元件,以降低來自基板的影響所造成微機電元件操作的困擾。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在于克服現(xiàn)有技術(shù)的不足與缺陷,提出一種具有低基板電耦合效應(yīng)的微機電元件,以降低來自基板的影響所造成微機電元件操作的困擾。
為達上述目的,根據(jù)其中一個觀點,本發(fā)明提供一種微機電元件,通過一CMOS半導(dǎo)體制程所制作,在該CMOS半導(dǎo)體制程中,也制作了一CMOS電路中的晶體管元件,此晶體管元件的元件區(qū)由場氧化層所定義,該微機電元件包含:一基板;至少一錨部,包含一氧化層、以及位于該氧化層上方的連接結(jié)構(gòu),其中該氧化層與該場氧化層以相同的制程步驟制作而具有相對應(yīng)的厚度,該氧化層與該基板連接;以及至少一微機電結(jié)構(gòu),連接于該錨部的該連接結(jié)構(gòu)。
本發(fā)明的一實施例中,該連接結(jié)構(gòu)為多層結(jié)構(gòu),其中至少有一層的出平面投影面積小于該氧化層的出平面投影面積。
本發(fā)明的一實施例中,該連接結(jié)構(gòu)包含對應(yīng)于該CMOS半導(dǎo)體制程的至少一內(nèi)連線通道層、至少一內(nèi)連線金屬層及至少一內(nèi)連線通道層,且這些內(nèi)連線層的出平面投影面積皆小于該氧化層的出平面投影面積。
本發(fā)明的一實施例中,該基板包含多個凹狀結(jié)構(gòu),該些凹狀結(jié)構(gòu)設(shè)于該基板面向于該微機電結(jié)構(gòu)的一側(cè)。
為達上述目的,根據(jù)另一觀點,本發(fā)明提供一種微機電元件,其包含:一基板;至少一錨部,包含一氧化層、以及位于該氧化層上方的連接結(jié)構(gòu),該氧化層與該基板連接;至少一微機電結(jié)構(gòu),連接于該錨部的該連接結(jié)構(gòu);其中,該連接結(jié)構(gòu)為多層結(jié)構(gòu),其中至少有一層的出平面投影面積小于該氧化層的出平面投影面積。
本發(fā)明的一實施例中,該微機電元件通過一CMOS半導(dǎo)體制程所制作,又該連接結(jié)構(gòu)包含對應(yīng)于該CMOS半導(dǎo)體制程的至少一內(nèi)連線通道層、至少一內(nèi)連線金屬層及至少一內(nèi)連線通道層,且這些內(nèi)連線層的出平面投影面積皆小于該氧化層的出平面投影面積。
為達上述目的,根據(jù)另一觀點,本發(fā)明提供一種微機電元件,其包含:一基板,包含多個凹狀結(jié)構(gòu);至少一錨部,包含一氧化層、以及位于該氧化層上方的連接結(jié)構(gòu),該氧化層與該基板連接;至少一微機電結(jié)構(gòu),連接于該錨部的該連接結(jié)構(gòu);其中,該些凹狀結(jié)構(gòu)設(shè)于該基板面向于該微機電結(jié)構(gòu)的一側(cè)、對應(yīng)于該微機電結(jié)構(gòu)的位置。
本發(fā)明的一實施例中,該連接結(jié)構(gòu)為多層結(jié)構(gòu),其中至少有一層的出平面投影面積小于該氧化層的出平面投影面積。
本發(fā)明的一實施例中,該微機電元件通過一CMOS半導(dǎo)體制程所制作,又該連接結(jié)構(gòu)包含對應(yīng)于該CMOS半導(dǎo)體制程的至少一內(nèi)連線通道層、至少一內(nèi)連線金屬層及至少一內(nèi)連線通道層,且這些內(nèi)連線層的出平面投影面積皆小于該氧化層的出平面投影面積。
下面通過具體實施例詳加說明,當更容易了解本發(fā)明的目的、技術(shù)內(nèi)容、特點及其所達成的功效。
附圖說明
圖1顯示現(xiàn)有技術(shù)的微機電元件;
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