[發明專利]測量光學參數的調整電路、方法及光學測量系統

有效

• 申請號: 201410513600.8
• 申請日: 2014-09-29
• 公開（公告）號: CN104266754A
• 公開（公告）日: 2015-01-07
• 發明（設計）人: 何健;許神賢;包玉剛
• 申請（專利權）人: 深圳市華星光電技術有限公司
• 主分類號: G01J1/44
• 分類號: G01J1/44;G01M11/02
• 代理公司: 深圳翼盛智成知識產權事務所(普通合伙) 44300
• 代理人: 黃威

【技術領域】

本發明涉及光學參數測量技術領域，特別涉及一種測量光學參數的調整電路、方法及光學測量系統。

【背景技術】

光學測量系統被廣泛應用在平板顯示領域，其主要可以實現對光學參數的測量，其中最常見的是對亮度值的測量。在實際使用中，由于測量的亮度范圍變化很大，單量程無法滿足實際需要，因此光學測量系統需要有多個量程。

現有技術中調整放大模塊的放大倍數可以實現多量程測量，如圖1所示，光學測量系統包括：光感測模塊11、放大模塊12、A/D轉換模塊13、控制模塊14以及調節模塊15；其中，所述調節模塊15包括一個第一電阻R₀、多個調節電阻R₁、、、、R_N以及多個開關K₁、、、、K_N；通過一個調節電阻串聯一個開關，且所述調節電阻與調節電阻之間是并聯。圖1是通過人工來控制開關的導通或斷開，通過多個開關K₁、、、、K_N的切換實現放大倍數的切換，但是，這種方法只能設定固定個數的量測檔位，不能實現量測的連續變化；另外，隨著檔位的增加，電路也會變得復雜，不利于電路的精簡；再者，由于通過人工來控制開關的導通或斷開，其不具自動化測量。

故，有必要提出一種新的技術方案，以解決上述技術問題。

【發明內容】

本發明的目的在于提供一種測量光學參數的調整電路、方法及光學測量系統，旨在解決現有技術中存在的通過多個開關的切換實現放大倍數的切換，其只能設定固定個數的量測檔位，不能實現量測的連續變化；且隨著檔位的增加，電路也會變得復雜，不利于電路的精簡；及由于通過人工來控制開關的導通或斷開，其不具自動化測量的問題。

為解決上述問題，本發明的技術方案如下：

本發明提供了一種測量光學參數的調整電路，所述調整電路包括：

光感測模塊，用于檢測光信號，并將檢測到的所述光信號轉換為電壓信號；

放大模塊，用于放大所述電壓信號；

A/D轉換模塊，用于將放大后的所述電壓信號轉換為數字信號；

控制模塊，用于分析所述數字信號，以生成分析結果；

信號產生模塊，用于根據分析結果，輸出相應的頻率方波信號；以及

調節模塊，用于根據所述頻率方波信號調整所述放大模塊的放大倍數。

優選地，

所述放大模塊的第一輸入端與所述光感測模塊連接；

所述調節模塊的第一端接地，所述調節模塊的第二端與所述放大模塊的第二輸入端連接；

所述A/D轉換模塊的第一端與所述放大模塊的輸出端連接，且所述A/D轉換模塊的第一端還與所述調節模塊的第三端連接；

所述控制模塊與所述A/D轉換模塊的第二端連接；以及

所述信號產生模塊的第一端與所述控制模塊連接，所述信號產生模塊的第二端與所述調節模塊的第四端連接。

優選地，所述調節模塊包括：

調節電阻，所述調節電阻的第一端接地，所述調節電阻的第二端與所述放大模塊的第二輸入端連接；

調節電容，所述調節電容的第一端與所述調節電阻的第二端連接；以及

控制開關，所述控制開關的第一端與所述調節電容的第二端連接，所述控制開關的第二端分別與所述A/D轉換模塊的第一端和所述放大模塊的輸出端連接，所述控制開關的第三端與所述信號產生模塊的第二端連接。

優選地，所述調節模塊包括：

調節電阻，所述調節電阻的第一端接地，所述調節電阻的第二端與所述放大器的第二輸入端連接；

調節電感，所述調節電感的第一端與所述調節電阻的第二端連接；以及

控制開關，所述控制開關的第一端與所述調節電感的第二端連接，所述控制開關的第二端分別與所述A/D轉換模塊的第一端和所述放大模塊的輸出端連接，所述控制開關的第三端與所述信號產生模塊的第二端連接。

優選地，所述信號產生模塊輸出相應的頻率方波信號，控制所述控制開關的導通或斷開；根據所述頻率方波信號調整所述調節電容的阻抗值；根據所述阻抗值及所述調節電阻值，調整所述放大模塊的放大倍數。

優選地，所述信號產生模塊輸出相應的頻率方波信號，控制所述控制開關的導通或斷開；根據所述頻率方波信號調整所述調節電感的阻抗值；根據所述阻抗值及所述調節電阻值，調整所述放大模塊的放大倍數。

本發明還提供了一種測量光學參數的調整方法，所述調整方法包括：