[發明專利]測量光學參數的調整電路、方法及光學測量系統

有效

• 申請號: 201410513600.8
• 申請日: 2014-09-29
• 公開（公告）號: CN104266754A
• 公開（公告）日: 2015-01-07
• 發明（設計）人: 何健;許神賢;包玉剛
• 申請（專利權）人: 深圳市華星光電技術有限公司
• 主分類號: G01J1/44
• 分類號: G01J1/44;G01M11/02
• 代理公司: 深圳翼盛智成知識產權事務所(普通合伙) 44300
• 代理人: 黃威

1.一種測量光學參數的調整電路，其特征在于，所述調整電路包括：

光感測模塊，用于檢測光信號，并將檢測到的所述光信號轉換為電壓信號；

放大模塊，用于放大所述電壓信號；

A/D轉換模塊，用于將放大后的所述電壓信號轉換為數字信號；

控制模塊，用于分析所述數字信號，以生成分析結果；

信號產生模塊，用于根據分析結果，輸出相應的頻率方波信號；以及

調節模塊，用于根據所述頻率方波信號調整所述放大模塊的放大倍數。

2.根據權利要求1所述的測量光學參數的調整電路，其特征在于，

所述放大模塊的第一輸入端與所述光感測模塊連接；

所述調節模塊的第一端接地，所述調節模塊的第二端與所述放大模塊的第二輸入端連接；

所述A/D轉換模塊的第一端與所述放大模塊的輸出端連接，且所述A/D轉換模塊的第一端還與所述調節模塊的第三端連接；

所述控制模塊與所述A/D轉換模塊的第二端連接；以及

所述信號產生模塊的第一端與所述控制模塊連接，所述信號產生模塊的第二端與所述調節模塊的第四端連接。

3.根據權利要求1或2所述的測量光學參數的調整電路，其特征在于，所述調節模塊包括：

調節電阻，所述調節電阻的第一端接地，所述調節電阻的第二端與所述放大模塊的第二輸入端連接；

調節電容，所述調節電容的第一端與所述調節電阻的第二端連接；以及

控制開關，所述控制開關的第一端與所述調節電容的第二端連接，所述控制開關的第二端分別與所述A/D轉換模塊的第一端和所述放大模塊的輸出端連接，所述控制開關的第三端與所述信號產生模塊的第二端連接。

4.根據權利要求3所述的測量光學參數的調整電路，其特征在于，所述信號產生模塊輸出相應的頻率方波信號，控制所述控制開關的導通或斷開；根據所述頻率方波信號調整所述調節電容的阻抗值；根據所述阻抗值及所述調節電阻值，調整所述放大模塊的放大倍數。

5.根據權利要求1或2所述的測量光學參數的調整電路，其特征在于，所述調節模塊包括：

調節電阻，所述調節電阻的第一端接地，所述調節電阻的第二端與所述放大器的第二輸入端連接；

調節電感，所述調節電感的第一端與所述調節電阻的第二端連接；以及

控制開關，所述控制開關的第一端與所述調節電感的第二端連接，所述控制開關的第二端分別與所述A/D轉換模塊的第一端和所述放大模塊的輸出端連接，所述控制開關的第三端與所述信號產生模塊的第二端連接。

6.根據權利要求5所述的測量光學參數的調整電路，其特征在于，所述信號產生模塊輸出相應的頻率方波信號，控制所述控制開關的導通或斷開；根據所述頻率方波信號調整所述調節電感的阻抗值；根據所述阻抗值及所述調節電阻值，調整所述放大模塊的放大倍數。

7.一種測量光學參數的調整方法，其特征在于，所述調整方法包括：

檢測光信號，并將檢測到的所述光信號轉換為電壓信號；

放大所述電壓信號；

將放大后的所述電壓信號轉換為數字信號；

分析所述數字信號，以生成分析結果；

根據分析結果，輸出相應的頻率方波信號；以及

根據所述頻率方波信號調整放大模塊的放大倍數。

8.根據權利要求7所述的測量光學參數的調整方法，其特征在于，所述根據所述頻率方波信號調整放大模塊的放大倍數的步驟，包括：

根據所述頻率方波信號，控制控制開關的導通或斷開；

根據所述頻率方波信號調整調節電容的阻抗值；以及

根據所述阻抗值及調節電阻值，調整所述放大模塊的放大倍數。

9.根據權利要求7所述的測量光學參數的調整方法，其特征在于，所述根據所述頻率方波信號調整放大模塊的放大倍數的步驟，包括：

根據所述頻率方波信號，控制控制開關的導通或斷開；

根據所述頻率方波信號調整調節電感的阻抗值；以及

根據所述阻抗值及調節電阻值，調整所述放大模塊的放大倍數。

10.一種包括權利要求1至6任一項所述的測量光學參數的調整電路的光學測量系統。