[發明專利]一種儲層分析的方法及其應用

有效

• 申請號: 201410513132.4
• 申請日: 2014-09-29
• 公開（公告）號: CN105447298B
• 公開（公告）日: 2018-09-11
• 發明（設計）人: 肖開華;馮動軍;王丹丹
• 申請（專利權）人: 中國石油化工股份有限公司;中國石油化工股份有限公司石油勘探開發研究院
• 主分類號: G06F19/00
• 分類號: G06F19/00;G01V1/50;G01N33/24
• 代理公司: 北京聿宏知識產權代理有限公司 11372
• 代理人: 吳大建;劉華聯

本發明涉及一種利用孔隙結構參數進行儲層分析的方法，包括：1)對目標層進行巖心采樣并測定多個孔隙結構參數；2)獲得目標層全井段的孔隙度和滲透率數據，并取得全井段的滲透率與孔隙度比值曲線；3)針對步驟1)測定的每個孔隙結構參數，進行擬合；4)挑選出步驟3)中的擬合程度好的孔隙結構參數，以及孔隙結構參數的擬合出的函數關系；5)計算得到目標層全井段的優選孔隙結構參數的指示曲線；6)建立孔隙結構指示曲線(Rc)的計算公式；以及7)計算出目標層的全井段的孔隙結構指示曲線，以此來對全井段目標層進行分析。本發明還涉及上述方法在油氣勘探和/或開發中的應用。

技術領域

本發明涉及一種儲層分析方法，尤其涉及一種利用孔隙結構參數來進行的儲層分析方法。本發明還涉及該方法在油氣勘探和/或開發領域的應用。

背景技術

儲層分析一直是油氣勘探、開發中的基礎和重點。目前，常見的利用孔隙結構參數進行儲層分析的基本思路是，通過對取心段的巖心或地面巖石樣品進行采樣后，在實驗室通過壓汞、鑄體薄片、掃描電鏡及核磁共振等手段，來確定其儲層的孔隙結構參數，進而以點代面的來確定某一目標層的儲層孔隙結構參數，以此來指導儲層分析。《儲層巖石微觀孔隙結構研究方法與理論綜述》(郝樂偉等，2013.10)和《致密儲層孔隙隙結構研究方法概述》(彭攀等，2014.2)對儲層巖石微觀孔隙結構研究方法進行了總結和分析，從中可見目前的利用孔隙結構參數進行儲層分析的方法基本都是基于數量有限的樣品的孔隙結構參數對整個目標層進行分析的，這些方法對于取心資料較多的、且儲層非均質性較弱的地區還比較適用，但是對于儲層非均質性較強的致密砂巖儲層則不太適用，主要存在如下兩個方面的問題：

(1)由于鉆井取心成本等的限制，不可能在鉆井過程中進行大規模的取心，由于沉積環境、后期成巖作用和構造運動等因素的變化，儲層在縱向上的分布存在著很大的非均質性，即使取心很多，也不可能把取全所有類型的儲層樣品。由于較大的非均質性，在分析整個儲層時，準確性較低。

(2)由于分析測試工作量和成本等因素的限制，也不可能進行高密度的、大量的鑄體薄片、電鏡掃描和壓汞等分析測試。因此，利用數量有限的樣品孔隙結構參數來對目標層進行儲層分析具有很大的局限性。

因此，本領域亟需一種可操作性更強和/或更加準確的方法來進行儲層分析。

發明內容

為了解決上述現有技術中存在的問題，本發明提供一種新的利用孔隙結構參數進行儲層分析的方法，包括如下步驟：

1)對目標層進行巖心采樣，并對采樣的每塊巖心分別進行多個孔隙結構參數的測定；

2)獲得測井專業計算的目標層全井段的孔隙度(Φ)和滲透率(k)數據，并且取全井段的滲透率與孔隙度比值曲線(k/Φ)；

3)針對步驟1)測定的每個孔隙結構參數，進行下列處理：將步驟1)測定得到的每個樣品的該孔隙結構參數與對應的步驟2)計算得到的滲透率/孔隙度比值、孔隙度或者滲透率進行交會，擬合出該孔隙結構參數與滲透率/孔隙度比值、孔隙度或者滲透率的函數關系；

4)挑選出步驟3)中的擬合程度好的孔隙結構參數，以及孔隙結構參數的擬合出的函數關系；

5)將步驟2)中獲得的全井段的孔隙度和/或滲透率分別代入步驟4)中得到的挑選出的孔隙結構參數的挑選出的擬合出的函數關系中，計算得到目標層全井段的挑選出的孔隙結構參數的指示曲線；

6)通過數學變換的方法，根據步驟4)中得到的挑選出的孔隙結構參數，建立孔隙結構指示曲線(Rc)的計算公式；以及

7)根據孔隙結構指示曲線(Rc)的計算公式，利用步驟5)中得到的全井段的每個挑選出的孔隙結構參數的指示曲線，計算出目標層的全井段的孔隙結構指示曲線，以此來對全井段目標層進行分析。

其中，除非在邏輯上是必要的之外，上述步驟1)至7)并不一定需要順序地依次進行。