[發明專利]一種儲層分析的方法及其應用

有效

• 申請號: 201410513132.4
• 申請日: 2014-09-29
• 公開（公告）號: CN105447298B
• 公開（公告）日: 2018-09-11
• 發明（設計）人: 肖開華;馮動軍;王丹丹
• 申請（專利權）人: 中國石油化工股份有限公司;中國石油化工股份有限公司石油勘探開發研究院
• 主分類號: G06F19/00
• 分類號: G06F19/00;G01V1/50;G01N33/24
• 代理公司: 北京聿宏知識產權代理有限公司 11372
• 代理人: 吳大建;劉華聯

1.一種利用孔隙結構參數進行儲層分析的方法，包括：

1)對目標層進行巖心采樣，并對采樣的每塊巖心分別進行多個孔隙結構參數的測定；所述孔隙結構參數包括喉道半徑、孔隙半徑、最終進汞飽和度、主流喉道半徑、平均毛管半徑、喉道半徑方均根值、孔喉半徑比平均值、微觀均值系數、分選系數、最大連通喉道半徑、排驅壓力、總孔隙進汞飽和度、總喉道進汞飽和度、總孔/喉體積比和可動流體百分比中的兩種或多種；

2)獲得測井專業計算的目標層全井段的孔隙度和滲透率數據，并且取得全井段的滲透率與孔隙度比值曲線；

3)針對步驟1)測定的每個孔隙結構參數，進行下列處理：將步驟1)測定得到的每個樣品的該孔隙結構參數與對應的步驟2)計算得到的滲透率/孔隙度比值、孔隙度或者滲透率進行交會，擬合出該孔隙結構參數與滲透率/孔隙度比值、孔隙度或者滲透率的函數關系；

4)挑選出步驟3)中的擬合程度好的孔隙結構參數，以及孔隙結構參數的擬合出的函數關系；

5)將步驟2)中獲得的全井段的孔隙度和/或滲透率分別代入步驟4)中得到的挑選出的孔隙結構參數的挑選出的擬合出的函數關系中，計算得到目標層全井段的挑選出的孔隙結構參數的指示曲線；

6)通過數學變換的方法，根據步驟4)中得到的挑選出的孔隙結構參數，建立孔隙結構指示曲線的計算公式；以及

7)根據孔隙結構指示曲線的計算公式，利用步驟5)中得到的全井段的每個挑選出的孔隙結構參數的指示曲線，計算出目標層的全井段的孔隙結構指示曲線，以此來對全井段目標層進行分析；

其中，所述挑選出的孔隙結構參數包括喉道半徑、孔隙半徑和/或最終進汞飽和度。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，步驟1)中所述孔隙結構參數包括喉道半徑、孔隙半徑和最終進汞飽和度。

3.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，步驟4)中挑選得到的孔隙結構參數包括喉道半徑、孔隙半徑和最終進汞飽和度。

4.根據權利要求3所述的方法，其特征在于，步驟4)中挑選出的函數關系包括喉道半徑與滲透率/孔隙度比值的函數關系、孔隙半徑與孔隙度的函數關系和/或最終進汞飽和度與滲透率/孔隙度比值的函數關系。

5.根據權利要求4所述的方法，其特征在于，所述喉道半徑與滲透率/孔隙度比值的函數關系為一次函數關系。

6.根據權利要求4所述的方法，其特征在于，所述孔隙半徑與孔隙度的函數關系為一次函數關系。

7.根據權利要求4所述的方法，其特征在于，最終進汞飽和度與滲透率/孔隙度比值的函數關系為二次函數關系或一次函數關系。

8.根據權利要求1至7中任意一項所述的方法，其特征在于，以對步驟4)挑選得到的孔隙結構參數中影響儲層性能較大的參數進行放大，對影響儲層性能較小的參數進行縮小的方式來建立步驟6)中所述的孔隙結構指示曲線的計算公式。

9.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，利用已知的能夠進行儲層分析的孔隙結構參數和/或孔隙結構參數與滲透率和/或孔隙度的函數關系，作為步驟4)中挑選出的孔隙結構參數和/或孔隙結構參數的擬合出的函數關系。

10.根據權利要求1至9中任意一項所述的方法在油氣勘探和/或開發中的應用。

11.根據權利要求10所述的應用，其特征在于，所述應用是在非均質性強和/或大規模的儲層的油氣勘探和/或開發中的應用。

12.根據權利要求10所述的應用，其特征在于，所述應用是在致密砂巖儲層的油氣勘探和/或開發中的應用。