[發明專利]陣列基板及其測試方法、顯示面板、顯示裝置

有效

• 申請號: 201410510232.1
• 申請日: 2014-09-28
• 公開（公告）號: CN104282248B
• 公開（公告）日: 2017-01-25
• 發明（設計）人: 劉莎
• 申請（專利權）人: 京東方科技集團股份有限公司;北京京東方顯示技術有限公司
• 主分類號: G09G3/00
• 分類號: G09G3/00;G09G3/36;G02F1/13;G02F1/1362;G01R31/00
• 代理公司: 北京銀龍知識產權代理有限公司11243
• 代理人: 許靜,黃燦

技術領域

本發明涉及液晶顯示領域，特別是指一種陣列基板及其測試方法、顯示面板、顯示裝置。

背景技術

目前隨著液晶顯示技術的不斷發展，高頻率、大尺寸成為液晶顯示器的主流發展方向。然而，隨著液晶面板尺寸的不斷增加以及分辨率的不斷提升，液晶顯示面板的負載不斷加重，將導致液晶顯示面板的掃描信號以及數據信號衰減嚴重，從而影響了液晶顯示產品的性能，因此，對液晶顯示面板負載引起的掃描信號衰減以及數據信號衰減進行測試和分析非常重要。

由于掃描信號是在陣列基板的柵線上傳遞，數據信號是在陣列基板的數據線上傳遞，因此現有對液晶顯示產品進行測試的方法中，為了能夠探測到陣列基板上數據線或者柵線傳遞的信號，通常需要將液晶顯示產品進行切角處理，之后去除液晶顯示產品的彩膜基板，清洗之后用探針接觸陣列基板上的數據線或者柵線來進行信號測試，測試過程復雜，并且破壞了液晶顯示產品的真實狀態。

發明內容

本發明要解決的技術問題是提供一種陣列基板及其測試方法、顯示面板、顯示裝置，可以實現在不破壞顯示面板的前提下，準確地測量顯示面板的數據信號及掃描信號的衰減情況。

為解決上述技術問題，本發明的實施例提供技術方案如下：

一方面，提供一種陣列基板，所述陣列基板的顯示區域外設置有至少一個測試像素，所述測試像素通過陣列基板上布置的第一信號線接收待測試信號，并通過陣列基板上布置的第二信號線將接收到的待測試信號傳送至位于外圍電路區域的測試點。

進一步地，所述測試像素所在區域設置有過孔，所述測試像素所對應的柵線通過所述過孔與所述測試像素所對應的數據線連接。

進一步地，所述陣列基板上柵線成行排列，所述測試像素包括位于所述陣列基板顯示區域最后一列像素之后的掃描信號測試像素，所述掃描信號測試像素接收對應柵線傳遞的掃描信號，并通過對應數據線將接收到的掃描信號傳送至位于外圍電路區域的掃描信號衰減測試點。

進一步地，所述陣列基板上數據線成列排列，所述測試像素包括位于所述陣列基板顯示區域最后一行像素之后的數據信號測試像素，所述數據信號測試像素接收對應數據線傳遞的數據信號，并通過對應柵線將接收到的數據信號傳送至位于外圍電路區域的數據信號衰減測試點。

本發明實施例還提供了一種陣列基板的測試方法，所述陣列基板的顯示區域外設置有至少一個測試像素，所述測試方法包括：

通過陣列基板上布置的第一信號線將待測試信號傳送至所述測試像素，并由所述測試像素通過陣列基板上布置的第二信號線將所述待測試信號傳送至位于外圍電路區域的測試點；

在所述測試點對所述待測試信號進行測量。

進一步地，所述測試像素所在區域設置有過孔，所述測試像素所對應的柵線通過所述過孔與所述測試像素所對應的數據線連接。

進一步地，所述待測試信號為掃描信號，通過陣列基板上布置的第一信號線將待測試信號傳送至所述測試像素，并由所述測試像素通過陣列基板上布置的第二信號線將所述待測試信號傳送至位于外圍電路區域的測試點包括：

通過所述測試像素所對應的柵線將所述掃描信號傳送至所述測試像素，并通過所述測試像素所對應的數據線將所述掃描信號傳送至位于外圍電路區域的掃描信號衰減測試點。

進一步地，所述待測試信號為數據信號，通過陣列基板上布置的第一信號線將待測試信號傳送至所述測試像素，并由所述測試像素通過陣列基板上布置的第二信號線將所述待測試信號傳送至位于外圍電路區域的測試點包括：

通過所述測試像素所對應的數據線將所述數據信號傳送至所述測試像素，并通過所述測試像素所對應的柵線將所述數據信號傳送至位于外圍電路區域的數據信號衰減測試點。

本發明實施例還提供了一種顯示面板，包括上述的陣列基板，還包括與所述陣列基板相對設置的彩膜基板。

本發明實施例還提供了一種顯示裝置，包括上述的顯示面板，還包括設置在所述顯示面板外的外圍電路區域，所述外圍電路區域設置有對待測試信號進行測量的測試點。

進一步地，所述測試像素包括位于所述陣列基板顯示區域最后一行像素之后的數據信號測試像素，所述測試點包括設置在掃描信號柔性電路板上的數據信號測試點，所述數據信號測試點通過柵線與數據信號測試像素連接。

進一步地，所述測試像素包括位于所述陣列基板顯示區域最后一列像素之后的掃描信號測試像素，所述測試點包括設置在數據信號柔性電路板上的掃描信號測試點，所述掃描信號測試點通過數據線與掃描信號測試像素連接；或