[發(fā)明專利]陣列基板及其測試方法、顯示面板、顯示裝置

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201410510232.1
• 申請日: 2014-09-28
• 公開（公告）號(hào): CN104282248B
• 公開（公告）日: 2017-01-25
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 劉莎
• 申請（專利權(quán)）人: 京東方科技集團(tuán)股份有限公司;北京京東方顯示技術(shù)有限公司
• 主分類號(hào): G09G3/00
• 分類號(hào): G09G3/00;G09G3/36;G02F1/13;G02F1/1362;G01R31/00
• 代理公司: 北京銀龍知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司11243
• 代理人: 許靜,黃燦

1.一種陣列基板，其特征在于，所述陣列基板的顯示區(qū)域外設(shè)置有至少一個(gè)測試像素，所述測試像素通過陣列基板上布置的第一信號(hào)線接收待測試信號(hào)，并通過陣列基板上布置的第二信號(hào)線將接收到的待測試信號(hào)傳送至位于外圍電路區(qū)域的測試點(diǎn)。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的陣列基板，其特征在于，所述測試像素所在區(qū)域設(shè)置有過孔，所述測試像素所對應(yīng)的柵線通過所述過孔與所述測試像素所對應(yīng)的數(shù)據(jù)線連接。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的陣列基板，其特征在于，所述陣列基板上柵線成行排列，所述測試像素包括位于所述陣列基板顯示區(qū)域最后一列像素之后的掃描信號(hào)測試像素，所述掃描信號(hào)測試像素接收對應(yīng)柵線傳遞的掃描信號(hào)，并通過對應(yīng)數(shù)據(jù)線將接收到的掃描信號(hào)傳送至位于外圍電路區(qū)域的掃描信號(hào)衰減測試點(diǎn)。

4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的陣列基板，其特征在于，所述陣列基板上數(shù)據(jù)線成列排列，所述測試像素包括位于所述陣列基板顯示區(qū)域最后一行像素之后的數(shù)據(jù)信號(hào)測試像素，所述數(shù)據(jù)信號(hào)測試像素接收對應(yīng)數(shù)據(jù)線傳遞的數(shù)據(jù)信號(hào)，并通過對應(yīng)柵線將接收到的數(shù)據(jù)信號(hào)傳送至位于外圍電路區(qū)域的數(shù)據(jù)信號(hào)衰減測試點(diǎn)。

5.一種陣列基板的測試方法，其特征在于，所述陣列基板的顯示區(qū)域外設(shè)置有至少一個(gè)測試像素，所述測試方法包括：

通過陣列基板上布置的第一信號(hào)線將待測試信號(hào)傳送至所述測試像素，并由所述測試像素通過陣列基板上布置的第二信號(hào)線將所述待測試信號(hào)傳送至位于外圍電路區(qū)域的測試點(diǎn)；

在所述測試點(diǎn)對所述待測試信號(hào)進(jìn)行測量。

6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的陣列基板的測試方法，其特征在于，

所述測試像素所在區(qū)域設(shè)置有過孔，所述測試像素所對應(yīng)的柵線通過所述過孔與所述測試像素所對應(yīng)的數(shù)據(jù)線連接。

7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的陣列基板的測試方法，其特征在于，

所述待測試信號(hào)為掃描信號(hào)，通過陣列基板上布置的第一信號(hào)線將待測試信號(hào)傳送至所述測試像素，并由所述測試像素通過陣列基板上布置的第二信號(hào)線將所述待測試信號(hào)傳送至位于外圍電路區(qū)域的測試點(diǎn)包括：

通過所述測試像素所對應(yīng)的柵線將所述掃描信號(hào)傳送至所述測試像素，并通過所述測試像素所對應(yīng)的數(shù)據(jù)線將所述掃描信號(hào)傳送至位于外圍電路區(qū)域的掃描信號(hào)衰減測試點(diǎn)。

8.根據(jù)權(quán)利要求6所述的陣列基板的測試方法，其特征在于，

所述待測試信號(hào)為數(shù)據(jù)信號(hào)，通過陣列基板上布置的第一信號(hào)線將待測試信號(hào)傳送至所述測試像素，并由所述測試像素通過陣列基板上布置的第二信號(hào)線將所述待測試信號(hào)傳送至位于外圍電路區(qū)域的測試點(diǎn)包括：

通過所述測試像素所對應(yīng)的數(shù)據(jù)線將所述數(shù)據(jù)信號(hào)傳送至所述測試像素，并通過所述測試像素所對應(yīng)的柵線將所述數(shù)據(jù)信號(hào)傳送至位于外圍電路區(qū)域的數(shù)據(jù)信號(hào)衰減測試點(diǎn)。

9.一種顯示面板，其特征在于，包括如權(quán)利要求1-4中任一項(xiàng)所述的陣列基板，還包括與所述陣列基板相對設(shè)置的彩膜基板。

10.一種顯示裝置，其特征在于，包括如權(quán)利要求9所述的顯示面板，還包括設(shè)置在所述顯示面板外的外圍電路區(qū)域，所述外圍電路區(qū)域設(shè)置有對待測試信號(hào)進(jìn)行測量的測試點(diǎn)。

11.根據(jù)權(quán)利要求10所述的顯示裝置，其特征在于，所述測試像素包括位于所述陣列基板顯示區(qū)域最后一行像素之后的數(shù)據(jù)信號(hào)測試像素，所述測試點(diǎn)包括設(shè)置在掃描信號(hào)柔性電路板上的數(shù)據(jù)信號(hào)測試點(diǎn)，所述數(shù)據(jù)信號(hào)測試點(diǎn)通過柵線與數(shù)據(jù)信號(hào)測試像素連接。

12.根據(jù)權(quán)利要求10所述的顯示裝置，其特征在于，所述測試像素包括位于所述陣列基板顯示區(qū)域最后一列像素之后的掃描信號(hào)測試像素，所述測試點(diǎn)包括設(shè)置在數(shù)據(jù)信號(hào)柔性電路板上的掃描信號(hào)測試點(diǎn)，所述掃描信號(hào)測試點(diǎn)通過數(shù)據(jù)線與掃描信號(hào)測試像素連接；或

所述測試點(diǎn)包括設(shè)置在數(shù)據(jù)信號(hào)印刷電路板上的掃描信號(hào)測試點(diǎn)，所述掃描信號(hào)測試點(diǎn)通過數(shù)據(jù)線與掃描信號(hào)測試像素連接。

13.根據(jù)權(quán)利要求10所述的顯示裝置，其特征在于，所述外圍電路區(qū)域設(shè)置有報(bào)警電路，用于監(jiān)測所述測試點(diǎn)獲取的測量結(jié)果，并在所述測量結(jié)果低于預(yù)設(shè)值時(shí)輸出報(bào)警信號(hào)。