[發(fā)明專利]用于中子檢測器的平衡真空密封有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201410498359.6 | 申請日： | 2014-09-25 |
| 公開（公告）號： | CN104459759B | 公開（公告）日： | 2018-09-21 |
| 發(fā)明（設(shè)計）人： | B.J.奧勒奇諾維茨 | 申請（專利權(quán)）人： | 通用電氣公司 |
| 主分類號： | G01T3/00 | 分類號： | G01T3/00 |
| 代理公司： | 中國專利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人： | 肖日松;譚祐祥 |
| 地址： | 美國*** | 國省代碼： | 美國;US |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 用于 中子 檢測器 平衡 真空 密封 | ||
一種原子粒子檢測組件包括檢測原子粒子的至少一個檢測器。該原子粒子檢測組件包括接合設(shè)備，所述接合設(shè)備支承所述檢測器。所述接合設(shè)備包括第一歧管，所述第一歧管在附接位置處附接至第一殼體。所述接合設(shè)備包括密封裝置，所述密封裝置將所述第一歧管相對于所述第一殼體沿密封軸線密封。所述密封軸線與由所述附接位置限定的附接軸線大致平行并且與所述附接軸線分離開第一距離(d1)。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明主要涉及一種檢測組件并且尤其涉及一種維持一個或多個密封環(huán)境的原子粒子檢測組件。
背景技術(shù)
中子檢測器用在中子轟擊和散射實驗中。在中子檢測器中，由陰極護罩內(nèi)的中子反應(yīng)產(chǎn)生的中子、離子、原子粒子等將與該護罩內(nèi)包含的氣體碰撞以形成自由電子。這些自由電子被吸引至陽極，在該陽極上產(chǎn)生信號。該信號被傳送至用于分析的電子設(shè)備(例如，高壓電子設(shè)備)。所述高壓電子設(shè)備中的電壓擊穿在存儲有該高壓電子設(shè)備的腔室中的壓力被降低至低于大氣壓力時是可能的。因此，需要提供一種電壓擊穿的可能性降低的檢測器，并且這會是有益的。
發(fā)明內(nèi)容
下列內(nèi)容呈現(xiàn)出了本發(fā)明的簡化概要，以便提供對于本發(fā)明的一些示例性方面的基本理解。該概要并不是本發(fā)明的廣泛綜述。此外，該概要既不意欲標(biāo)識本發(fā)明的關(guān)鍵元件，也不意欲描繪本發(fā)明的范圍。該概要的唯一目的是以簡化的形式將本發(fā)明的一些原理作為隨后呈現(xiàn)的更為詳細(xì)的說明的序言而呈現(xiàn)。
根據(jù)一個方面，本發(fā)明提供了一種原子粒子檢測組件，該原子粒子檢測組件包括被構(gòu)造成檢測原子粒子的至少一個檢測器。該原子粒子檢測組件包括支承所述檢測器的接合設(shè)備。所述接合設(shè)備包括第一歧管，所述第一歧管在附接位置處附接至第一殼體。所述接合設(shè)備包括密封裝置，所述密封裝置將所述第一歧管相對于所述第一殼體沿密封軸線密封。所述密封軸線與由所述附接位置限定的附接軸線大致平行并且與所述附接軸線分離開第一距離(d1)。
根據(jù)另一方面，本發(fā)明提供了一種原子粒子檢測組件，所述原子粒子檢測組件包括被構(gòu)造成檢測原子粒子的至少一個檢測器。該原子粒子檢測組件包括支承所述檢測器的接合設(shè)備。所述接合設(shè)備包括第一歧管，所述第一歧管包括第一歧管開口。所述接合設(shè)備包括第一殼體，所述第一殼體包括第一殼體開口。所述第一殼體通過沿附接軸線延伸的附接裝置附接于所述第一歧管。所述接合設(shè)備包括密封裝置，所述密封裝置將所述第一歧管開口相對于所述第一殼體開口密封。所述第一歧管開口和所述第一殼體開口沿密封軸線延伸。所述密封軸線與所述附接軸線大致平行并且與所述附接軸線分離開第一距離。
根據(jù)另一方面，本發(fā)明提供了一種原子粒子檢測組件，所述原子粒子檢測組件包括被構(gòu)造成檢測原子粒子的至少一個檢測器。所述原子粒子檢測組件包括支承所述檢測器的接合設(shè)備，所述接合設(shè)備包括第一殼體。所述接合設(shè)備包括第一歧管，所述第一歧管在附接位置處附接于所述第一殼體。所述第一歧管包括接合所述第一殼體的偏壓部分。所述偏壓部分可朝向所述第一殼體偏壓所述第一歧管。
附圖說明
本發(fā)明所涉及領(lǐng)域的技術(shù)人員在閱讀結(jié)合所附視圖進行的下列說明書時，本發(fā)明的前述和其它方面對于他們而言將變得明白，附圖中：
圖1是根據(jù)本發(fā)明的一方面的示例性原子粒子檢測組件的概略/示意圖；
圖2是用于在原子粒子檢測組件中使用的示例性檢測單元的部分拉開(tornopen)的透視圖；
圖3是沿圖2的線3-3獲取的該檢測單元的端部的放大分解截面圖；
圖4是與圖3相似的放大截面圖；
圖5是用于在原子粒子檢測組件中使用的第二示例性檢測單元的部分拉開的透視圖；
圖6是沿圖5的線6-6獲取的該檢測單元的端部的截面圖；和
圖7是與圖6相似的截面圖，其中，偏壓部分接合第一殼體。
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