[發明專利]用于中子檢測器的平衡真空密封

有效

• 申請號: 201410498359.6
• 申請日: 2014-09-25
• 公開（公告）號: CN104459759B
• 公開（公告）日: 2018-09-21
• 發明（設計）人: B.J.奧勒奇諾維茨
• 申請（專利權）人: 通用電氣公司
• 主分類號: G01T3/00
• 分類號: G01T3/00
• 代理公司: 中國專利代理(香港)有限公司 72001
• 代理人: 肖日松;譚祐祥

1.一種原子粒子檢測組件，其特征在于，包括：

至少一個檢測器，所述至少一個檢測器構造成檢測原子粒子；和

接合設備，所述接合設備支承所述檢測器，所述接合設備包括第一歧管，所述第一歧管在附接位置處附接至第一殼體，所述接合設備包括密封裝置，所述密封裝置將所述第一歧管相對于所述第一殼體沿密封軸線密封，其中，所述密封軸線與由所述附接位置限定的附接軸線大致平行并且與所述附接軸線分離開第一距離(d₁)。

2.根據權利要求1所述的原子粒子檢測組件，其中所述第一歧管包括沿所述密封軸線延伸的第一歧管開口。

3.根據權利要求2所述的原子粒子檢測組件，其中所述第一殼體包括沿所述密封軸線延伸的第一殼體開口。

4.根據權利要求3所述的原子粒子檢測組件，其中所述第一歧管開口被所述密封裝置相對于所述第一殼體開口密封。

5.根據權利要求4所述的原子粒子檢測組件，其中所述第一歧管開口和所述第一殼體開口在所述第一歧管與所述第一殼體之間限定通路，使得所述第一歧管和所述第一殼體被維持處于第二運行壓力。

6.根據權利要求5所述的原子粒子檢測組件，其中所述檢測器設置在具有第一運行壓力的第一腔室內，所述第一運行壓力不同于所述第二運行壓力。

7.根據權利要求1所述的原子粒子檢測組件，其中在所述第一歧管與所述第一殼體之間的所述密封裝置的壓縮力(F_c)是大致均勻的。

8.根據權利要求7所述的原子粒子檢測組件，其中所述附接位置設置在所述密封裝置與所述第一歧管的端部之間，所述附接位置與所述第一歧管的所述端部分離開第二距離(d₂)，所述密封裝置的所述密封軸線與所述第一歧管的所述端部分離開第三距離(d₃)。

9.根據權利要求8所述的原子粒子檢測組件，其中所述第一殼體通過附接裝置附接于所述第一歧管，所述附接裝置施加附接力(F_a)。

10.根據權利要求9所述的原子粒子檢測組件，其中d₂＞d₁*[(F_c)/(F_a-F_c)]。

11.一種原子粒子檢測組件，其特征在于，包括：

至少一個檢測器，所述至少一個檢測器構造成檢測原子粒子；和

接合設備，所述接合設備支承所述檢測器，所述接合設備包括：

第一歧管，所述第一歧管包括第一歧管開口；

第一殼體，所述第一殼體包括第一殼體開口，所述第一殼體通過沿附接軸線延伸的附接裝置附接到所述第一歧管；和

密封裝置，所述密封裝置將所述第一歧管開口相對于所述第一殼體開口密封，所述第一歧管開口和所述第一殼體開口沿密封軸線延伸，其中，所述密封軸線與所述附接軸線大致平行并且與所述附接軸線分離開第一距離。

12.根據權利要求11所述的原子粒子檢測組件，其中所述第一歧管開口和所述第一殼體開口在所述第一歧管與所述第一殼體之間限定通路，使得所述第一歧管與所述第一殼體被維持于第二運行壓力。

13.根據權利要求12所述的原子粒子檢測組件，其中所述檢測器設置在具有第一運行壓力的第一腔室內，所述第一運行壓力不同于所述第二運行壓力。

14.根據權利要求13所述的原子粒子檢測組件，其中所述第二運行壓力高于所述第一運行壓力。