[發(fā)明專利]一種磁頭測試的方法及裝置

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201410493608.2
• 申請日: 2014-09-24
• 公開（公告）號: CN104240724B
• 公開（公告）日: 2017-05-24
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 劉捷;肖鋒;林魁
• 申請（專利權(quán)）人: 福建聯(lián)迪商用設(shè)備有限公司
• 主分類號: G11B5/455
• 分類號: G11B5/455
• 代理公司: 福州市博深專利事務(wù)所(普通合伙)35214
• 代理人: 林志崢

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及測試領(lǐng)域，尤其是一種磁頭測試的方法及裝置。

背景技術(shù)

隨著社會經(jīng)濟(jì)不斷發(fā)展、不斷進(jìn)步，使用銀聯(lián)卡支付方式已經(jīng)漸漸取代了現(xiàn)金支付方式，因此，銀聯(lián)卡中磁頭功能的穩(wěn)定性就顯得格外重要。在以往生產(chǎn)磁頭過程中，生產(chǎn)完成后，要測試磁頭的功能需要將磁頭裝在測試架上，通過人工刷卡方式來測試磁頭的功能是否正常，但人工刷卡方式一致性是非常不穩(wěn)定的，因此根據(jù)人工刷卡方式是很難準(zhǔn)確判斷磁頭的功能好壞，也無法模擬出磁頭的邊界條件，另外生產(chǎn)磁頭效率也很低下。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明所要解決的技術(shù)問題是：提供一種磁頭測試的方法及裝置，能夠?qū)崿F(xiàn)自動對磁頭進(jìn)行測試與判斷的功能。

為了解決上述技術(shù)問題，本發(fā)明采用的技術(shù)方案為：

一種磁頭測試的方法，包括：

S101、采集合格磁頭在邊界條件下劃卡時產(chǎn)生的第一感應(yīng)信號，將所述第一感應(yīng)信號轉(zhuǎn)換為數(shù)字信號；

S102、將所述步驟S101所得數(shù)字信號進(jìn)行存儲；

S103、讀取S102步驟存儲的數(shù)字信號，將所述數(shù)字信號轉(zhuǎn)換為模擬信號，將所述模擬信號轉(zhuǎn)換為磁場；

S104、被測磁頭在所述步驟S103所得磁場中產(chǎn)生感應(yīng)電流；

S105、對所述步驟S104所得感應(yīng)電流進(jìn)行解碼，獲得卡片信息，并通過校驗卡片信息判斷是否正確，若是，則被測磁頭為合格磁頭；若否，則被測磁頭為不合格磁頭。

本發(fā)明采用的另一技術(shù)方案為：

一種磁頭測試的裝置，包括：信號采集模塊、存儲模塊、寫磁模塊、被測磁頭模塊、解碼模塊和主控模塊；

所述信號采集模塊，用于采集合格磁頭在邊界條件下劃卡時產(chǎn)生的第一感應(yīng)信號，將所述第一感應(yīng)信號轉(zhuǎn)換為數(shù)字信號；

所述存儲模塊，用于將信號采集模塊所得數(shù)字信號進(jìn)行存儲；

所述寫磁模塊包括依次連接的讀取單元、數(shù)模轉(zhuǎn)換單元和高抗寫磁頭；

所述讀取單元，用于讀取存儲模塊的數(shù)字信號；

所述數(shù)模轉(zhuǎn)換單元，用于將所述數(shù)字信號轉(zhuǎn)換為模擬信號；

所述高抗寫磁頭，用于將所述模擬信號轉(zhuǎn)換為磁場；

所述被測磁頭模塊，用于被測磁頭在高抗寫磁頭所得磁場中產(chǎn)生感應(yīng)電流；

所述解碼模塊，用于對被測磁頭模塊所得感應(yīng)電流進(jìn)行解碼，獲得卡片信息；

所述主控模塊，用于通過校驗卡片信息判斷是否正確，若是，則被測磁頭為合格磁頭；若否，則被測磁頭為不合格磁頭。

本發(fā)明的有益效果在于：將采集到的感應(yīng)信號轉(zhuǎn)換成數(shù)字信號進(jìn)行存儲，當(dāng)需要進(jìn)行磁頭測試時，只需從已存儲的數(shù)字信號中進(jìn)行讀取，再轉(zhuǎn)換成磁場，即可模擬劃卡動作，保證測試和真實(shí)的一致性；然而不需要實(shí)物磁卡和機(jī)械動作來產(chǎn)生磁場，提升了測試過程的高效性；通過將合格磁頭產(chǎn)生的第一感應(yīng)信號與被測磁頭產(chǎn)生的第二感應(yīng)信號進(jìn)行相比，若相比結(jié)果在預(yù)設(shè)閥值內(nèi)，則被測磁頭為合格磁頭，因此通過本發(fā)明能夠很容易判斷磁頭的功能好壞，也提升了生產(chǎn)效率。人工測試只能隨機(jī)模擬一種劃卡速度進(jìn)行測試，而本系統(tǒng)可以準(zhǔn)確模擬各種邊界條件進(jìn)行測試。

附圖說明

圖1為本發(fā)明具體實(shí)施方式中的一種磁頭測試的方法的流程圖；

圖2為本發(fā)明具體實(shí)施方式中的另一種磁頭測試的方法的流程圖；

圖3為本發(fā)明具體實(shí)施方式中的一種磁頭測試的裝置的結(jié)構(gòu)示意圖；

標(biāo)號說明：

10、信號采集模塊；20、存儲模塊；30、寫磁模塊；40、被測磁頭模塊；50、解碼模塊；60、主控模塊。

具體實(shí)施方式

為詳細(xì)說明本發(fā)明的技術(shù)內(nèi)容、所實(shí)現(xiàn)目的及效果，以下結(jié)合實(shí)施方式并配合附圖予以說明。

本發(fā)明最關(guān)鍵的構(gòu)思在于：通過將合格磁頭產(chǎn)生的第一感應(yīng)信號與被測磁頭產(chǎn)生的第二感應(yīng)信號進(jìn)行相比，若相比結(jié)果在預(yù)設(shè)閥值內(nèi)，則被測磁頭為合格磁頭，因此能夠很容易判斷磁頭的功能好壞。

請參照圖1，為本發(fā)明具體實(shí)施方式中的磁頭測試的方法的流程圖，具體如下：

一種磁頭測試的方法，包括：

S101、采集合格磁頭在邊界條件下劃卡時產(chǎn)生的第一感應(yīng)信號，將所述第一感應(yīng)信號轉(zhuǎn)換為數(shù)字信號；

S102、將所述步驟S101所得數(shù)字信號進(jìn)行存儲；

S103、讀取S102步驟存儲的數(shù)字信號，將所述數(shù)字信號轉(zhuǎn)換為模擬信號，將所述模擬信號轉(zhuǎn)換為磁場；

S104、被測磁頭在所述步驟S103所得磁場中產(chǎn)生感應(yīng)電流；