[發明專利]一種磁頭測試的方法及裝置

有效

• 申請號: 201410493608.2
• 申請日: 2014-09-24
• 公開（公告）號: CN104240724B
• 公開（公告）日: 2017-05-24
• 發明（設計）人: 劉捷;肖鋒;林魁
• 申請（專利權）人: 福建聯迪商用設備有限公司
• 主分類號: G11B5/455
• 分類號: G11B5/455
• 代理公司: 福州市博深專利事務所(普通合伙)35214
• 代理人: 林志崢

1.一種磁頭測試的方法，其特征在于，包括：

S101、采集合格磁頭在邊界條件下劃卡時產生的第一感應信號，將所述第一感應信號轉換為數字信號；

S102、將所述步驟S101所得數字信號進行存儲；

S103、讀取S102步驟存儲的數字信號，將所述數字信號轉換為模擬信號，將所述模擬信號轉換為磁場；

S104、被測磁頭在所述步驟S103所得磁場中產生感應電流；

S105、對所述步驟S104所得感應電流進行解碼，獲得卡片信息，并通過校驗卡片信息判斷是否正確，若是，則被測磁頭為合格磁頭；若否，則被測磁頭為不合格磁頭。

2.根據權利要求1所述的磁頭測試的方法，其特征在于，所述步驟S101中的“將所述感應信號轉換為數字信號”具體為：采用預設的固定采樣頻率對感應信號進行采樣，獲得數字信號。

3.根據權利要求1所述的磁頭測試的方法，其特征在于，所述步驟S103中的“數字信號”具體為：不同的劃卡條件下的合格磁頭在劃卡時產生的感應信號轉換的數字信號；所述劃卡條件為最快速度劃標準卡、最慢速度劃標準卡、標準速度劃弱磁卡、標準速度劃強磁卡或標準速度劃JITTER邊界卡。

4.根據權利要求1所述的磁頭測試的方法，其特征在于，所述步驟S104具體為：同時對兩個以上的被測磁頭在所述步驟S103所得磁場中產生感應電流；所述步驟S103產生磁場的位置與測試所述步驟S104中每個被測磁頭的距離相等。

5.根據權利要求1所述的磁頭測試的方法，其特征在于，還包括步驟S106,所述步驟S106還包括：

統計被測磁頭的測試數據，根據所述測試數據計算被測磁頭的良率，當所述計算被測磁頭的良率低于預設閥值時，則發出警報。

6.一種磁頭測試的裝置，其特征在于，包括信號采集模塊、存儲模塊、寫磁模塊、被測磁頭模塊、解碼模塊和主控模塊；

所述信號采集模塊，用于采集合格磁頭在邊界條件下劃卡時產生的第一感應信號，將所述第一感應信號轉換為數字信號；

所述存儲模塊，用于將信號采集模塊所得數字信號進行存儲；

所述寫磁模塊包括依次連接的讀取單元、數模轉換單元和高抗寫磁頭；

所述讀取單元，用于讀取存儲模塊的數字信號；

所述數模轉換單元，用于將所述數字信號轉換為模擬信號；

所述高抗寫磁頭，用于將所述模擬信號轉換為磁場；

所述被測磁頭模塊，用于被測磁頭在高抗寫磁頭所得磁場中產生感應電流；

所述解碼模塊，用于對被測磁頭模塊所得感應電流進行解碼，獲得卡片信息；

所述主控模塊，用于通過校驗卡片信息判斷是否正確，若是，則被測磁頭為合格磁頭；若否，則被測磁頭為不合格磁頭。

7.根據權利要求6所述的磁頭測試裝置，其特征在于，所述信號采集模塊包括第一設置單元和采樣單元；

所述第一設置單元，用于預設固定的采樣頻率；

所述采樣單元，用于采用預設的固定采樣頻率對第一感應信號進行采樣，獲得數字信號。

8.根據權利要求6所述的磁頭測試裝置，其特征在于，所述存儲模塊包括兩個以上存儲單元，用于存儲不同的劃卡條件下的合格磁頭在劃卡時產生的感應信號轉換的數字信號。

9.根據權利要求6所述的磁頭測試裝置，其特征在于，所述磁頭測試裝置還包括兩個以上固定裝置，用于同時對兩個以上的被測磁頭在高抗寫磁頭所得磁場中產生感應電流，所述高抗寫磁頭產生磁場的位置與每個被測磁頭的距離相等。

10.根據權利要求6所述的磁頭測試裝置，其特征在于，所述主控模塊包括統計單元、計算單元、第二設置單元和警報單元；

所述統計單元，用于統計被測磁頭的測試結果，獲取統計數據；

所述計算單元，用于根據統計數據計算被測磁頭的良率；

所述第二設置單元，用于預設閥值；

所述警報單元，用于當所述計算被測磁頭的良率低于預設的閥值時，則發出警報。