[發(fā)明專利]基座的同軸通路測(cè)試裝置

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201410488191.0
• 申請(qǐng)日: 2014-09-22
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN105425088B
• 公開(kāi)（公告）日: 2018-08-28
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 沈細(xì)榮
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 神訊電腦（昆山）有限公司
• 主分類號(hào): G01R31/02
• 分類號(hào): G01R31/02
• 代理公司: 暫無(wú)信息
• 代理人: 暫無(wú)信息

1.一種基座的同軸通路測(cè)試裝置，該基座具有與電子產(chǎn)品的機(jī)臺(tái)同軸接口連接的第一同軸接口以及與該第一同軸接口通過(guò)同軸線連接的第二同軸接口，其特征在于，該裝置包括：

測(cè)試治具，其上具有治具同軸接口，各所述治具同軸接口與所述第一同軸接口對(duì)應(yīng)連接，該測(cè)試治具還具有與所述治具同軸接口串接的電源及顯示單元；

短接接頭，與各所述第二同軸接口可拆卸式連接，短接所述第二同軸接口的內(nèi)引腳及外圈引腳；

開(kāi)關(guān)，與所述治具同軸接口串接；

于測(cè)試時(shí)，將所述測(cè)試治具安裝于所述基座上，各所述治具同軸接口分別與對(duì)應(yīng)的所述第一同軸接口連接，若此時(shí)其中的某顯示單元有顯示，則對(duì)應(yīng)的所述第一同軸接口與對(duì)應(yīng)的所述第二同軸接口內(nèi)部短路；將所述短接接頭安裝于所述第二同軸接口其中之一，關(guān)閉所述開(kāi)關(guān)，若此時(shí)對(duì)應(yīng)的所述顯示單元有顯示，則對(duì)應(yīng)的第一同軸接口及第二同軸接口正常導(dǎo)通，若有顯示的顯示單元與所述第二同軸接口不對(duì)應(yīng)，則所述第一同軸接口與所述第二同軸接口之間的同軸線對(duì)應(yīng)關(guān)系接錯(cuò)；拆卸下所述短接接頭，再將其安裝在另一第二同軸接口，并進(jìn)行上述測(cè)試，直至測(cè)試完所有通路。

2.如權(quán)利要求1所述的基座的同軸通路測(cè)試裝置，其特征在于，所述顯示單元為發(fā)光二極管或揚(yáng)聲器。

3.如權(quán)利要求1所述的基座的同軸通路測(cè)試裝置，其特征在于，所述測(cè)試治具還具有與所述治具同軸接口串接的電阻。

4.如權(quán)利要求1所述的基座的同軸通路測(cè)試裝置，其特征在于，所述第一同軸接口、第二同軸接口及所述治具同軸接口的個(gè)數(shù)分別為三個(gè)。