[發(fā)明專(zhuān)利]基座的同軸通路測(cè)試裝置

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201410488191.0
• 申請(qǐng)日: 2014-09-22
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN105425088B
• 公開(kāi)（公告）日: 2018-08-28
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 沈細(xì)榮
• 申請(qǐng)（專(zhuān)利權(quán)）人: 神訊電腦（昆山）有限公司
• 主分類(lèi)號(hào): G01R31/02
• 分類(lèi)號(hào): G01R31/02
• 代理公司: 暫無(wú)信息
• 代理人: 暫無(wú)信息

本發(fā)明揭示一種基座的同軸通路測(cè)試裝置，該基座具有與電子產(chǎn)品的機(jī)臺(tái)同軸接口連接的第一同軸接口以及與該第一同軸接口通過(guò)同軸線連接的第二同軸接口，該裝置包括：測(cè)試治具，其上具有治具同軸接口，各所述治具同軸接口與所述第一同軸接口對(duì)應(yīng)連接，該測(cè)試治具還具有與所述治具同軸接口串接的電源及顯示單元；短接接頭，與各所述第二同軸接口可拆卸式連接，短接所述第二同軸接口的內(nèi)引腳及外圈引腳。由于只需安裝拆卸所述短接接頭，通過(guò)判斷顯示單元即可達(dá)到測(cè)試目的，因此測(cè)試過(guò)程簡(jiǎn)單，只需一人即可，節(jié)省人力及時(shí)間。

【技術(shù)領(lǐng)域】

本發(fā)明涉及測(cè)試裝置，特別是涉及一種基座的同軸通路測(cè)試裝置。

【背景技術(shù)】

目前的一些電子產(chǎn)品會(huì)使用基座docking來(lái)放置，以方便使用者觀看。對(duì)于用于手持式電子產(chǎn)品或平板電腦的docking，其通常會(huì)主要具有兩個(gè)功能。其一，作為電子產(chǎn)品支架，在使用者辦公時(shí)，無(wú)需手持，即可使用；其二，作為電子產(chǎn)品充電或者數(shù)據(jù)傳送時(shí)轉(zhuǎn)接來(lái)用。

請(qǐng)共同參閱圖1、圖2，圖1繪示為現(xiàn)有技術(shù)的一種電子產(chǎn)品基座正面結(jié)構(gòu)示意圖、圖2繪示為現(xiàn)有技術(shù)的一種電子產(chǎn)品基座背面結(jié)構(gòu)示意圖。該基座100包括底板101和背板102，所述底板101上具有三個(gè)第一同軸接口103、104、105(pogo接口)，所述底板101靠近所述背板102的一側(cè)具有與所述第一同軸接口103、104、105一一對(duì)應(yīng)的三個(gè)第二同軸接口106、107、108(SMA接口)。

請(qǐng)?jiān)賲㈤唸D3，圖3繪示為圖1中第一同軸接口與第二同軸接口間的電路連接示意圖。由圖可見(jiàn)，所述第一同軸接口103與所述第二同軸接口106之間，所述第一同軸接口104與所述第二同軸接口107之間，所述第一同軸接口105與所述第二同軸接口108之間皆分別連接有同軸線10。

請(qǐng)?jiān)賲㈤唸D4，圖4為同軸線的內(nèi)部結(jié)構(gòu)示意圖。所述同軸線纜10包括由內(nèi)到外的四層結(jié)構(gòu)：芯線11、絕緣層12、屏蔽層13以及保護(hù)層14。其中，芯線11、屏蔽層13為導(dǎo)體。

請(qǐng)?jiān)俳Y(jié)合參閱圖5，圖5繪示為所述第一同軸接口及第二同軸接口的結(jié)構(gòu)示意圖。如圖所示，所述第一同軸接口103、104、105及所述第二同軸接口106、107、108皆具有相互間隔的內(nèi)引腳及外圈引腳，內(nèi)引腳與所述芯線11連接，外圈引腳與所述屏蔽層13連接。

使用時(shí)，是將機(jī)臺(tái)(例如為平板電腦、智能手機(jī))放入基座100上，所述機(jī)臺(tái)底部也包括與所述第一同軸接口103、104、105一一對(duì)應(yīng)的三個(gè)機(jī)臺(tái)同軸接口，該三個(gè)機(jī)臺(tái)同軸接口分別與所述第一同軸接口103、104、105對(duì)接，從而把機(jī)臺(tái)的射頻(RF)功能延展到該基座100上。

在測(cè)試基座100性能時(shí)，為了確保該第一同軸接口103、104、105及第二同軸接口106、107、108的各通路是良好的，通常會(huì)采用萬(wàn)用表進(jìn)行如下測(cè)試：分別將萬(wàn)用表搭在第一同軸接口103與第二同軸接口106的內(nèi)引腳間，以測(cè)試芯線11是否導(dǎo)通；將萬(wàn)用表搭在第一同軸接口103與第二同軸接口106的外圈引腳間，以測(cè)試屏蔽層13是否導(dǎo)通，再將萬(wàn)用表搭在第一同軸接口103內(nèi)引腳及第二同軸接口106的外圈引腳間，以測(cè)試芯線11于屏蔽層之間是否短路；另外兩條通路也參照上述方法進(jìn)行測(cè)試。

然而，采用上述方式進(jìn)行測(cè)試時(shí)，測(cè)試過(guò)程復(fù)雜，需要兩人合作測(cè)試，測(cè)試耗時(shí)。

有鑒于此，實(shí)有必要開(kāi)發(fā)一種基座的同軸通路測(cè)試裝置，以解決上述問(wèn)題。

【發(fā)明內(nèi)容】

因此，本發(fā)明的目的是提供一種基座的同軸通路測(cè)試裝置，以解決現(xiàn)有技術(shù)對(duì)基座的同軸通路測(cè)試時(shí)，測(cè)試過(guò)程復(fù)雜、耗時(shí)耗人力的問(wèn)題。

為了達(dá)到上述目的，本發(fā)明提供基座的同軸通路測(cè)試裝置，該基座具有與電子產(chǎn)品的機(jī)臺(tái)同軸接口連接的第一同軸接口以及與該第一同軸接口通過(guò)同軸線連接的第二同軸接口，該裝置包括：