[發(fā)明專利]二線測(cè)試探針裝置及其應(yīng)用方法

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201410476692.7
• 申請(qǐng)日: 2014-09-17
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN104251923B
• 公開(kāi)（公告）日: 2017-06-30
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 譚艷萍;黃俊華;陳百?gòu)?qiáng);王星;翟學(xué)濤;楊朝輝;高云峰
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 大族激光科技產(chǎn)業(yè)集團(tuán)股份有限公司;深圳市大族數(shù)控科技有限公司
• 主分類號(hào): G01R1/067
• 分類號(hào): G01R1/067;G01R31/00
• 代理公司: 廣州華進(jìn)聯(lián)合專利商標(biāo)代理有限公司44224
• 代理人: 何平

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及印制電路板(PCB)測(cè)試裝置，特別是涉及一種二線測(cè)試探針裝置及其應(yīng)用方法。

背景技術(shù)

探針測(cè)試裝置一般用于對(duì)印刷電路板(PCB)進(jìn)行檢測(cè)，檢測(cè)時(shí)，需要用測(cè)試探針與電路板接觸。按照測(cè)試方法的不同有二線和四線兩種測(cè)試探針裝置。二線測(cè)試探針裝置用于測(cè)試阻值精度要求不高的場(chǎng)合，而四線測(cè)試探針裝置則用于測(cè)試阻值要求高的低阻測(cè)試場(chǎng)合。

傳統(tǒng)的二線測(cè)試探針裝置在測(cè)試時(shí)，探針通常以每秒10～50次的速度下針和抬針以接觸不同測(cè)試點(diǎn)。為達(dá)到可靠的測(cè)試的要求，探針需牢固扎到測(cè)試板上。同時(shí)也要保證探針與待測(cè)印刷電路板的接觸力合適，避免印刷電路板表面被扎花，這就要求其彈簧支架需要有合適的剛度及測(cè)試過(guò)程中振動(dòng)小。但是，由于運(yùn)動(dòng)速度快，測(cè)試探針裝置施加在印刷電路板上的壓力很難控制，測(cè)試探針與印刷電路板接觸后接觸力過(guò)大，導(dǎo)致印刷電路板有刮痕或者凹痕，致使印刷電路板報(bào)廢。

發(fā)明內(nèi)容

基于此，有必要提供一種能夠有效控制測(cè)試探針與印刷電路板之間接觸力的二線測(cè)試探針裝置及其應(yīng)用方法。

一種二線測(cè)試探針裝置，用于對(duì)印刷電路板進(jìn)行測(cè)試，包括：

牽引機(jī)構(gòu)；

主體固定座，固定于所述牽引機(jī)構(gòu)上，所述主體固定座能夠在牽引機(jī)構(gòu)的帶動(dòng)下運(yùn)動(dòng)；

測(cè)試探針，包括固定于所述主體固定座上的彈性支架及設(shè)置在彈性支架上的探頭，所述彈性支架上設(shè)有凸出的遮光塊；

光電傳感器，設(shè)置于所述主體固定座上，并與所述牽引機(jī)構(gòu)通信連接，所述光電傳感器靠近所述測(cè)試探針的一側(cè)開(kāi)設(shè)有凹口，所述光電傳感器具有由所述凹口的一側(cè)發(fā)射向所述凹口的另一側(cè)的對(duì)射光，所述光電傳感器用于實(shí)時(shí)測(cè)量所接收到的所述對(duì)射光的光量，并產(chǎn)生隨所述對(duì)射光的光量變化的輸出電壓；

其中，所述遮光塊能夠伸入所述凹口并遮擋所述對(duì)射光，所述彈性支架在測(cè)試時(shí)產(chǎn)生變形，以使所述遮光塊所遮擋的所述對(duì)射光的光量的產(chǎn)生變化，并通過(guò)光電傳感器產(chǎn)生變化的輸出電壓，所述牽引機(jī)構(gòu)根據(jù)所述輸出電壓的值控制所述測(cè)試探針施加在所述印刷電路板上的壓力。

在其中一個(gè)實(shí)施例中，還包括支架固定座，所述支架固定座設(shè)于所述主體固定座的一端，所述彈性支架固定于所述支架固定座上。

在其中一個(gè)實(shí)施例中，所述支架固定座還包括限位塊，所述限位塊與所述彈性支架遠(yuǎn)離所述主體固定座的端部相接觸。

在其中一個(gè)實(shí)施例中，還包括傳感器調(diào)整座，所述傳感器調(diào)整座可滑動(dòng)地設(shè)置于所述主體固定座上，所述光電傳感器固定于所述傳感器調(diào)整座上。

在其中一個(gè)實(shí)施例中，所述主體固定座上開(kāi)設(shè)有卡槽；所述傳感器調(diào)整座上開(kāi)設(shè)有第一螺孔；所述二線測(cè)試探針裝置還包括調(diào)節(jié)螺釘，所述調(diào)節(jié)螺釘?shù)穆菝笨ǔ钟谒隹ú蹆?nèi)，且所述調(diào)節(jié)螺釘與所述第一螺孔相螺合，以使所述調(diào)節(jié)螺釘與所述傳感器調(diào)整座共同形成螺紋副結(jié)構(gòu)，轉(zhuǎn)動(dòng)所述調(diào)節(jié)螺釘，可調(diào)節(jié)所述傳感器調(diào)整座相對(duì)所述主體固定座的位置。

在其中一個(gè)實(shí)施例中，所述傳感器調(diào)整座上開(kāi)設(shè)有條形孔，所述主體固定座上開(kāi)設(shè)有第二螺孔，所述二線測(cè)試探針裝置還包括固定螺釘，所述固定螺釘穿設(shè)于所述條形孔內(nèi)，并與所述第二螺孔配合，且所述固定螺釘在所述條形孔內(nèi)能夠移動(dòng)，以使傳感器調(diào)整座可滑動(dòng)地設(shè)置于所述主體固定座上。

在其中一個(gè)實(shí)施例中，所述彈性支架由塑料制成。

在其中一個(gè)實(shí)施例中，所述探頭包括連接臂及設(shè)置于所述連接臂一端上的接觸針頭，所述連接臂設(shè)于所述彈性支架上。

在其中一個(gè)實(shí)施例中，所述接觸針頭為刀片狀結(jié)構(gòu)或針形結(jié)構(gòu)。

一種二線測(cè)試探針裝置的應(yīng)用方法，包括以下步驟：

提供兩個(gè)上述二線測(cè)試探針裝置；

分別將兩個(gè)所述二線測(cè)試探針裝置的測(cè)試探針扎在校正板任意一聯(lián)通線路的兩端的焊盤上；

其中一個(gè)所述二線測(cè)試探針裝置保持不動(dòng)，另一個(gè)所述二線測(cè)試探針裝置移動(dòng)以調(diào)整其測(cè)試探針施加于校正板上的接觸力；

實(shí)時(shí)獲取所述二線測(cè)試探針裝置的位移量及所述光電傳感器的輸出電壓，以將所述接觸力與所述輸出電壓進(jìn)行關(guān)聯(lián)；

根據(jù)所述接觸力與所述輸出電壓間的關(guān)系對(duì)所述二線測(cè)試探針裝置進(jìn)行調(diào)節(jié)。