[發明專利]二線測試探針裝置及其應用方法

有效

• 申請號: 201410476692.7
• 申請日: 2014-09-17
• 公開（公告）號: CN104251923B
• 公開（公告）日: 2017-06-30
• 發明（設計）人: 譚艷萍;黃俊華;陳百強;王星;翟學濤;楊朝輝;高云峰
• 申請（專利權）人: 大族激光科技產業集團股份有限公司;深圳市大族數控科技有限公司
• 主分類號: G01R1/067
• 分類號: G01R1/067;G01R31/00
• 代理公司: 廣州華進聯合專利商標代理有限公司44224
• 代理人: 何平

1.一種二線測試探針裝置，用于對印刷電路板進行測試，其特征在于，包括：

牽引機構；

主體固定座，固定于所述牽引機構上，所述主體固定座能夠在牽引機構的帶動下運動；

測試探針，包括固定于所述主體固定座上的彈性支架及設置在彈性支架上的探頭，所述彈性支架上設有凸出的遮光塊；及

光電傳感器，設置于所述主體固定座上，并與所述牽引機構通信連接，所述光電傳感器靠近所述測試探針的一側開設有凹口，所述光電傳感器具有由所述凹口的一側發射向所述凹口的另一側的對射光，所述光電傳感器用于實時測量所接收到的所述對射光的光量，并產生隨所述對射光的光量變化的輸出電壓；

其中，所述遮光塊能夠伸入所述凹口并遮擋所述對射光，所述彈性支架在測試時產生變形，以使所述遮光塊所遮擋的所述對射光的光量產生變化，并通過光電傳感器產生變化的輸出電壓，所述牽引機構根據所述輸出電壓的值控制所述測試探針施加在所述印刷電路板上的壓力；

所述二線測試探針裝置還包括傳感器調整座，所述傳感器調整座可滑動地設置于所述主體固定座上，所述光電傳感器固定于所述傳感器調整座上；

所述主體固定座上開設有卡槽；所述傳感器調整座上開設有第一螺孔；所述二線測試探針裝置還包括調節螺釘，所述調節螺釘的螺帽卡持于所述卡槽內，且所述調節螺釘與所述第一螺孔相螺合，以使所述調節螺釘與所述傳感器調整座共同形成螺紋副結構，轉動所述調節螺釘，可調節所述傳感器調整座相對所述主體固定座的位置。

2.根據權利要求1所述的二線測試探針裝置，其特征在于，還包括支架固定座，所述支架固定座設于所述主體固定座的一端，所述彈性支架固定于所述支架固定座上。

3.根據權利要求2所述的二線測試探針裝置，其特征在于，所述支架固定座還包括限位塊，所述限位塊與所述彈性支架遠離所述主體固定座的端部相接觸。

4.根據權利要求1所述的二線測試探針裝置，其特征在于，所述傳感器調整座上開設有條形孔，所述主體固定座上開設有第二螺孔，所述二線測試探針裝置還包括固定螺釘，所述固定螺釘穿設于所述條形孔內，并與所述第二螺孔配合，且所述固定螺釘在所述條形孔內能夠移動，以使傳感器調整座可滑動地設置于所述主體固定座上。

5.根據權利要求1所述的二線測試探針裝置，其特征在于，所述彈性支架由塑料制成。

6.根據權利要求1所述的二線測試探針裝置，其特征在于，所述探頭包括連接臂及設置于所述連接臂一端上的接觸針頭，所述連接臂設于所述彈性支架上。

7.根據權利要求6所述的二線測試探針裝置，其特征在于，所述接觸針頭為刀片狀結構或針形結構。

8.一種二線測試探針裝置的應用方法，其特征在于，包括以下步驟：

提供兩個權利要求1至權利要求7任意一項所述的二線測試探針裝置；

分別將兩個所述二線測試探針裝置的測試探針扎在校正板上任意一聯通線路的兩端的焊盤上；

其中一個所述二線測試探針裝置保持不動，另一個所述二線測試探針裝置移動以調整其測試探針施加于校正板上的接觸力；

實時獲取所述二線測試探針裝置的位移量及所述光電傳感器的輸出電壓，以將所述接觸力與所述輸出電壓進行關聯；

根據所述接觸力與所述輸出電壓間的關系對所述二線測試探針裝置進行調節。