[發明專利]一種無壓燒結連接大功率GTO模塊的方法有效
| 申請號: | 201410470189.0 | 申請日: | 2014-09-15 |
| 公開(公告)號: | CN104319241B | 公開(公告)日: | 2017-01-18 |
| 發明(設計)人: | 梅云輝;李萬里;陸國權;李欣 | 申請(專利權)人: | 天津大學 |
| 主分類號: | H01L21/60 | 分類號: | H01L21/60 |
| 代理公司: | 天津市北洋有限責任專利代理事務所12201 | 代理人: | 王麗 |
| 地址: | 300072 天*** | 國省代碼: | 天津;12 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 燒結 連接 大功率 gto 模塊 方法 | ||
1.一種無壓燒結連接大功率GTO模塊的方法,其特征是以鈦為中間金屬層,利用磁控濺射設備實現鉬基板表面鍍銀,接著通過納米銀焊膏低溫無壓燒結實現芯片與基板大面積互連。
2.如權利要求1所述的方法,其特征是具體步驟如下:
(1)對鉬基板進行預處理,去除表面污染物,使表面清潔;
(2)進行鍍膜,在鉬基板上依次鍍鈦膜和銀膜;
(3)對鍍膜試樣進行退火處理,隨爐冷,保護氣氛為高純度≥99.99%在氮氣或惰性氣體氬氣;
(4)使用納米銀焊膏作為互連材料,焊膏涂抹厚度為30-90um,芯片與基板的連接面積為314-1256mm2,將互連接頭放在加熱臺或者加熱爐中,實現芯片與基板的低溫無壓燒結互連,其升溫速率為3-8℃/min,加熱到250-320℃,保溫5-30min;芯片與鉬基板實現連接,中間的焊膏層的厚度降為15-45um。
3.如權利要求2所述的方法,其特征是所述的步驟(1)通過磁控濺射設備自帶的等離子清洗裝置清洗鉬基板表面。
4.如權利要求2所述的方法,其特征是所述的步驟(2),通過調節濺射功率來控制鍍膜的速率,調節濺射時間來控制最終膜層的厚度。
5.如權利要求2所述的方法,其特征是所述的步驟(2),鍍鈦是功率為20-30W,時間為10-30min。
6.如權利要求2所述的方法,其特征是所述的步驟(2),鍍銀功率為20-30W,時間為30-80min。
7.如權利要求2所述的方法,其特征是所述的步驟(3),退火處理溫度300-900℃,時間60-240min。
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H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導體或固體器件或其部件的方法或設備
H01L21-02 .半導體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內或其上形成的多個固態組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





