[發(fā)明專利]一種N型PERC晶體硅太陽能電池及其制備方法無效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201410467137.8 | 申請日: | 2014-09-15 |
| 公開(公告)號: | CN104218113A | 公開(公告)日: | 2014-12-17 |
| 發(fā)明(設計)人: | 夏正月;高艷濤;崔會英;錢亮;何銳;張斌;邢國強 | 申請(專利權)人: | 奧特斯維能源(太倉)有限公司 |
| 主分類號: | H01L31/068 | 分類號: | H01L31/068;H01L31/0216;H01L31/18 |
| 代理公司: | 南京蘇高專利商標事務所(普通合伙) 32204 | 代理人: | 劉燕嬌 |
| 地址: | 215434 江蘇省蘇州*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 perc 晶體 太陽能電池 及其 制備 方法 | ||
1.一種N型PERC晶體硅太陽能電池,其特征在于:以電阻率為0.5-12?ohm·cm?的N型硅片作為基體,正面設有硼擴散(3)P性發(fā)射結并設有絲網印刷的銀鋁電極(1),背面從上至下依次設有氧化鋁鈍化膜(5)和蒸鍍鋁層(6),所述氧化鋁鈍化膜(5)上設有點陣或者線陣型鏤空,所述蒸鍍鋁層(6)通過氧化鋁鈍化膜(5)與硅基體(4)局域接觸。
2.一種N型PERC晶體硅太陽能電池的制備方法,其特征在于:包括以下步驟:
(1).硅片去損傷并制絨;
(2).電池正面通過硼擴散形成P型發(fā)射結;
(3).利用擴散自然形成的硼硅玻璃作為電池正面掩膜,實現硅片背面去除反射結以及拋光的目的,同時,去除硅片正面制絨面的硼硅玻璃并進行清洗;
(4).電池兩表面對稱生長氧化鋁鈍化膜;?
(5).電池正面生長氮化硅作為減反膜;
(6).硅片正面印刷銀鋁漿柵線并燒結;
(7).硅片背面用激光在氧化鋁鈍化膜上開孔;
(8).硅片背面蒸鍍鋁層;
(9).在forming?gas氣氛下退火;
其中:步驟(1)所述的硅片采用N型單晶硅片作為基體,電阻率控制在0.5-12?ohm·cm;
步驟(2)采用管式硼擴散;
步驟(3)采用濕法設備對硅片背面進行硼硅玻璃去除,采用溶液濃度為0.1-20%的氫氟酸溶液進行清洗;
步驟(5)硅片正面采用PECVD的方法生長氮化硅減反膜。
3.根據權利要求2所述的一種N型PERC晶體硅太陽能電池的制備方法,其特征在于:所述步驟(2)中的硼擴散方阻控制在45-140?ohm/sq。
4.根據權利要求2所述的一種N型PERC晶體硅太陽能電池的制備方法,其特征在于:所述步驟(4)中的鈍化膜厚度控制在2-40nm。
5.根據權利要求2所述的一種N型PERC晶體硅太陽能電池的制備方法,其特征在于:所述步驟(5)中正面氮化硅減反膜厚度控制在50-90nm。
6.根據權利要求5所述的一種N型PERC晶體硅太陽能電池的制備方法,其特征在于:所述步驟(5)中正面氮化硅減反膜折射率控制在1.9-2.3。
7.根據權利要求2所述的一種N型PERC晶體硅太陽能電池的制備方法,其特征在于:所述步驟(7)中的激光刻蝕為線陣列或點陣列,刻蝕線寬控制在10-100um,間距控制在0.3-2.5mm。
8.根據權利要求2所述的一種N型PERC晶體硅太陽能電池的制備方法,其特征在于:所述步驟(8)中蒸鍍的鋁層厚度控制在0.5-3um。
9.根據權利要求2所述的一種N型PERC晶體硅太陽能電池的制備方法,其特征在于:所述步驟(9)的退火溫度控制在200-400℃,時間控制在5-60℃。
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H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L31-00 對紅外輻射、光、較短波長的電磁輻射,或微粒輻射敏感的,并且專門適用于把這樣的輻射能轉換為電能的,或者專門適用于通過這樣的輻射進行電能控制的半導體器件;專門適用于制造或處理這些半導體器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半導體本體為特征的
H01L31-04 .用作轉換器件的
H01L31-08 .其中的輻射控制通過該器件的電流的,例如光敏電阻器
H01L31-12 .與如在一個共用襯底內或其上形成的,一個或多個電光源,如場致發(fā)光光源在結構上相連的,并與其電光源在電氣上或光學上相耦合的





