[發(fā)明專利]腐蝕檢測方法、裝置及系統(tǒng)

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201410455564.4
• 申請日: 2014-09-09
• 公開（公告）號: CN105466841B
• 公開（公告）日: 2018-12-07
• 發(fā)明（設計）人: 曹金燦
• 申請（專利權）人: 華為技術有限公司
• 主分類號: G01N17/00
• 分類號: G01N17/00;G01N17/02
• 代理公司: 北京同達信恒知識產(chǎn)權代理有限公司 11291
• 代理人: 馮艷蓮

本發(fā)明公開了一種腐蝕檢測方法、裝置及系統(tǒng)，用于檢測電子設備的腐蝕情況，節(jié)省了腐蝕檢測成本并增加了腐蝕檢測的精確度。該方法包括：獲取腐蝕功能檢測電路的檢測結果，所述腐蝕功能檢測電路連接在電子設備的腐蝕薄弱部位；根據(jù)獲取到的檢測結果確定所述電子設備的腐蝕失效壽命。

技術領域

本發(fā)明涉及環(huán)境監(jiān)測領域，尤其涉及腐蝕檢測方法、裝置及系統(tǒng)。

背景技術

由于近年來空氣污染日益嚴重，電子設備應用環(huán)境變得越來越復雜，例如電子設備常常應用在如高溫高濕、高含硫量、鹽霧、灰塵、酸性等惡劣環(huán)境下。電子設備長期處于上述環(huán)境下，容易被腐蝕，從而出現(xiàn)故障。

目前的腐蝕檢測主要從檢測環(huán)境變量方面開展：

通過實時監(jiān)測環(huán)境量，例如，溫度、濕度、氫粒子濃度(Potential of Hydrogen，簡稱PH)值、鹽霧等，的變化，來判定設備腐蝕程度的影響。具體過程如下：

各個環(huán)境量對應的傳感器采集環(huán)境數(shù)據(jù)，并將采集到的環(huán)境數(shù)據(jù)發(fā)送給控制器，控制器根據(jù)接收到的環(huán)境數(shù)據(jù)運行監(jiān)測預警算法對電子設備的腐蝕程度進行判斷。

利用上述方法判斷電子設備的腐蝕程度具體有以下缺點：

1、由于上述方法需要多種傳感器來檢測環(huán)境量的變化，因此腐蝕檢測成本較高并難以批量復制推廣。

2、由于腐蝕是一個復雜的化學變化過程，涉及到環(huán)境變量太多，無法從環(huán)境量的變化來真實反映電子設備的腐蝕狀況。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明實施例提供一種腐蝕檢測方法、裝置及系統(tǒng)，用以解決現(xiàn)有技術中檢測電子設備的腐蝕情況，不夠實時，檢測成本高及檢測精度低的問題。

第一方面，本發(fā)明實施例提供了一種腐蝕檢測方法，用于檢測電子設備的腐蝕情況，包括：

獲取腐蝕功能檢測電路的檢測結果，所述腐蝕功能檢測電路連接在電子設備的腐蝕薄弱部位；

根據(jù)獲取到的檢測結果確定所述電子設備的腐蝕失效壽命。

結合第一方面，在第一方面的第一種可能的實現(xiàn)方式中，所述腐蝕功能檢測電路與預先確定的腐蝕模式相對應；

當所述腐蝕模式為電化學腐蝕時，獲取腐蝕功能檢測電路的檢測結果，具體包括：

獲取所述腐蝕功能檢測電路中對插的梳狀電極結構的金屬走線兩端點之間的電壓差；或者

獲取所述腐蝕功能檢測電路中螺旋形狀的金屬走線兩端點之間的電壓差；或者

獲取所述腐蝕功能檢測電路中的時域反射計TDR檢測到的螺旋形狀的金屬走線發(fā)生腐蝕的時間；

根據(jù)獲取到的檢測結果確定所述電子設備的腐蝕失效壽命，具體包括：

根據(jù)所述電壓差或者所述時間確定所述電子設備的的腐蝕失效壽命。

結合第一方面，在第一方面的第二種可能的實現(xiàn)方式中，所述腐蝕功能檢測電路與預先確定的腐蝕模式相對應；

當所述腐蝕模式為化學腐蝕時，獲取腐蝕功能檢測電路的檢測結果，具體包括：

獲取所述腐蝕功能檢測電路中普通電阻或者抗化學腐蝕電阻兩端的電壓值；

根據(jù)獲取到的檢測結果確定所述電子設備的腐蝕失效壽命，具體包括：

根據(jù)所述普通電阻或者抗化學腐蝕電阻兩端的電壓值確定所述電子設備的腐蝕時間；

根據(jù)所述電子設備的使用壽命及所述電子設備的腐蝕時間確定所述電子設備的腐蝕失效壽命。