[發(fā)明專利]腐蝕檢測方法、裝置及系統(tǒng)

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201410455564.4
• 申請日: 2014-09-09
• 公開（公告）號: CN105466841B
• 公開（公告）日: 2018-12-07
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 曹金燦
• 申請（專利權(quán)）人: 華為技術(shù)有限公司
• 主分類號: G01N17/00
• 分類號: G01N17/00;G01N17/02
• 代理公司: 北京同達(dá)信恒知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11291
• 代理人: 馮艷蓮

1.一種腐蝕檢測方法，用于檢測電子設(shè)備的腐蝕情況，其特征在于，包括：

獲取腐蝕功能檢測電路的檢測結(jié)果，所述腐蝕功能檢測電路連接在電子設(shè)備的腐蝕薄弱部位；

根據(jù)獲取到的檢測結(jié)果確定所述電子設(shè)備的腐蝕失效壽命；

所述腐蝕功能檢測電路與預(yù)先確定的腐蝕模式相對應(yīng)；

當(dāng)所述腐蝕模式為電化學(xué)腐蝕時，獲取腐蝕功能檢測電路的檢測結(jié)果，具體包括：

所述腐蝕功能檢測電路中包括對插的梳狀電極結(jié)構(gòu)的金屬走線及電阻；所述對插的梳狀電極結(jié)構(gòu)的金屬走線的一側(cè)與所述電阻的一側(cè)相連，另一側(cè)接地；所述電阻的另一側(cè)用于連接所述電子設(shè)備的腐蝕薄弱部位，則獲取所述腐蝕功能檢測電路中對插的梳狀電極結(jié)構(gòu)的金屬走線兩端點之間的電壓差；或者

所述腐蝕功能檢測電路中包括兩條并行且不相交的螺旋形狀的金屬走線及電阻；其中一條螺旋形狀金屬走線的最外圈的線端接地，另一條螺旋形狀金屬走線的最外圈的線端連接所述電阻的一側(cè)，所述電阻的另一側(cè)用于連接待檢測電子設(shè)備的腐蝕薄弱位置，則獲取所述腐蝕功能檢測電路中螺旋形狀的金屬走線兩端點之間的電壓差；或者

所述腐蝕功能檢測電路中包括兩條并行且不相交的螺旋形狀的金屬走線及時域反射計TDR；其中一條螺旋形狀金屬走線的最外圈的線端接地，另一條螺旋形狀金屬走線的最外圈的線端連接所述TDR的一側(cè)，所述TDR的另一側(cè)連接所述電子設(shè)備的腐蝕薄弱部位，所述兩條螺旋形狀的金屬走線之間的間距由最內(nèi)圈至最外圈逐漸增大，則獲取所述腐蝕功能檢測電路中的時域反射計TDR檢測到的螺旋形狀的金屬走線發(fā)生腐蝕的時間；

根據(jù)獲取到的檢測結(jié)果確定所述電子設(shè)備的腐蝕失效壽命，具體包括：

根據(jù)所述電壓差或者所述時間確定所述電子設(shè)備的的腐蝕失效壽命。

2.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法還包括：根據(jù)所述電子設(shè)備的散熱風(fēng)道確定所述腐蝕薄弱部位。

3.一種腐蝕檢測裝置，用于檢測電子設(shè)備的腐蝕情況，其特征在于，所述裝置包括：

獲取單元，用于獲取腐蝕功能檢測電路的檢測結(jié)果，所述腐蝕功能檢測電路連接在電子設(shè)備的腐蝕薄弱部位；

確定單元，用于根據(jù)所述獲取單元獲取到的檢測結(jié)果確定所述電子設(shè)備的腐蝕失效壽命；

所述確定單元，還用于確定電子設(shè)備的腐蝕模式，所述腐蝕功能檢測電路與所述確定單元確定的腐蝕模式相對應(yīng)；

所述獲取單元，具體用于：

在所述確定單元確定的腐蝕模式為電化學(xué)腐蝕時，所述腐蝕功能檢測電路中包括對插的梳狀電極結(jié)構(gòu)的金屬走線及電阻；所述對插的梳狀電極結(jié)構(gòu)的金屬走線的一側(cè)與所述電阻的一側(cè)相連，另一側(cè)接地；所述電阻的另一側(cè)用于連接所述電子設(shè)備的腐蝕薄弱部位，則獲取所述腐蝕功能檢測電路中對插的梳狀電極結(jié)構(gòu)的金屬走線兩端點之間的電壓差；或者

所述腐蝕功能檢測電路中包括兩條并行且不相交的螺旋形狀的金屬走線及電阻；其中一條螺旋形狀金屬走線的最外圈的線端接地，另一條螺旋形狀金屬走線的最外圈的線端連接所述電阻的一側(cè)，所述電阻的另一側(cè)用于連接待檢測電子設(shè)備的腐蝕薄弱位置，則獲取所述腐蝕功能檢測電路中螺旋形狀的金屬走線兩端點之間的電壓差；或者

所述腐蝕功能檢測電路中包括兩條并行且不相交的螺旋形狀的金屬走線及時域反射計TDR；其中一條螺旋形狀金屬走線的最外圈的線端接地，另一條螺旋形狀金屬走線的最外圈的線端連接所述TDR的一側(cè)，所述TDR的另一側(cè)連接所述電子設(shè)備的腐蝕薄弱部位，所述兩條螺旋形狀的金屬走線之間的間距由最內(nèi)圈至最外圈逐漸增大，則獲取所述腐蝕功能檢測電路中的時域反射計TDR檢測到的螺旋形狀的金屬走線發(fā)生腐蝕的時間；

所述確定單元，具體用于根據(jù)所述獲取單元獲取到的電壓差或者所述時間確定所述電子設(shè)備的的腐蝕失效壽命。

4.如權(quán)利要求3所述的裝置，其特征在于，所述確定單元，還用于根據(jù)電子設(shè)備的散熱風(fēng)道確定所述腐蝕薄弱部位。

5.一種腐蝕檢測系統(tǒng)，其特征在于，包括：

如權(quán)利要求3或4所述的電子設(shè)備腐蝕檢測裝置；和

至少一個腐蝕功能檢測電路，所述腐蝕功能檢測電路連接在電子設(shè)備的腐蝕薄弱部位；

所述腐蝕功能檢測電路與預(yù)先確定的腐蝕模式相對應(yīng)，在所述腐蝕模式為電化學(xué)腐蝕時，所述腐蝕功能檢測電路包括：

對插的梳狀電極結(jié)構(gòu)的金屬走線及電阻；所述對插的梳狀電極結(jié)構(gòu)的金屬走線的一側(cè)與所述電阻的一側(cè)相連，另一側(cè)接地；所述電阻的另一側(cè)用于連接待檢測電子設(shè)備的腐蝕薄弱位置；或者

兩條并行且不相交的螺旋形狀的金屬走線及電阻；其中一條螺旋形狀金屬走線的最外圈的線端接地，另一條螺旋形狀金屬走線的最外圈的線端連接所述電阻的一側(cè)，所述電阻的另一側(cè)用于連接待檢測電子設(shè)備的腐蝕薄弱位置；或者

兩條并行且不相交的螺旋形狀的金屬走線及時域反射計TDR；其中一條螺旋形狀金屬走線的最外圈的線端接地，另一條螺旋形狀金屬走線的最外圈的線端連接所述TDR的一側(cè)，所述TDR的另一側(cè)連接待檢測電子設(shè)備的腐蝕薄弱位置，所述兩條螺旋形狀的金屬走線之間的間距由最內(nèi)圈至最外圈逐漸增大。