[發明專利]配線電路基板的導通檢查方法和配線電路基板的制造方法

在審

• 申請號: 201410454097.3
• 申請日: 2014-09-05
• 公開（公告）號: CN104422851A
• 公開（公告）日: 2015-03-18
• 發明（設計）人: 井原輝一;一之瀨幸史
• 申請（專利權）人: 日東電工株式會社
• 主分類號: G01R31/02
• 分類號: G01R31/02;H05K1/11;H05K3/00
• 代理公司: 北京林達劉知識產權代理事務所(普通合伙) 11277
• 代理人: 劉新宇;張會華

技術領域

本發明涉及配線電路基板的導通檢查方法和配線電路基板的制造方法。

背景技術

在硬盤驅動裝置等驅動裝置中使用驅動器。這種驅動器包括以能夠旋轉的方式設置在旋轉軸上的臂和安裝在臂上的磁頭用的帶電路的懸掛基板。帶電路的懸掛基板是用于將磁頭定位于磁盤的所希望的磁道的配線電路基板。

在日本特開2010－135754號公報的配線電路基板中，在絕緣層的一表面上形成有第1電極盤～第4電極盤。第1電極盤和第2電極盤通過第1配線圖案電連接，第3電極盤和第4電極盤通過第2配線圖案電連接。

在第1配線圖案中，與第1電極盤相連接的第1線路分支為第2線路和第3線路。第2線路和第3線路匯合而成為第4線路，第4線路與第2電極盤相連接。在第2配線圖案中，與第3電極盤相連接的第5線路分支為第6線路和第7線路。第6線路和第7線路匯合而成為第8線路，第8線路與第4電極盤相連接。

此處，第2線路、第6線路、第3線路以及第7線路以按照第2線路、第6線路、第3線路以及第7線路的順序排列的方式配置。為了避免第3線路與第6線路之間的干涉，第3線路的與第6線路相交叉的部分配置于絕緣層的另一表面。第3線路的配置于絕緣層的另一表面的部分經由一對第1導通部與配置于絕緣層的一表面的第3線路電連接。同樣地，第6線路的與第3線路相交叉的部分配置于絕緣層的另一表面。第6線路的配置于絕緣層的另一表面的部分經由一對第2導通部與配置于絕緣層的一表面的第6線路電連接。

在配線電路基板的制造過程中，通過對電極盤之間的導通進行檢查，從而判斷配線電路基板的良好與否(例如日本特開2005－337811號公報)。

然而，在日本特開2010－135754號公報的配線電路基板中，在第1導通部存在異常的情況下或者分支后的第2線路或第3線路斷線的情況下，第1電極盤與第2電極盤之間仍被導通。同樣地，在第2導通部存在異常的情況下或者分支后的第6線路或第7線路斷線的情況下，第3電極盤與第4電極盤之間仍被導通。因此，即使采用日本特開2005－337811號公報的導通檢查方法來檢查日本特開2010－135754號公報的配線電路基板，有時也不能檢測出電極盤之間的導通的異常。

發明內容

本發明的目的在于，提供一種即使在電極盤之間通過多條線路電連接起來的情況下、也能夠檢測出電極盤之間的導通異常的配線電路基板的導通檢查方法和配線電路基板的制造方法。

(1)本發明的一技術方案提供一種配線電路基板的導通檢查方法，其為利用多條線路將第1電極盤和第2電極盤相互電連接起來的配線電路基板的導通檢查方法，其中，該配線電路基板的導通檢查方法包括如下步驟：使第1測定探頭與第1電極盤相接觸并使第2測定探頭與第2電極盤相接觸，并且，使第3測定探頭與第1電極盤相接觸并使第4測定探頭與第2電極盤相接觸的步驟；以使電流經由第1測定探頭和第2測定探頭流至第1電極盤和第2電極盤以及多條線路的方式形成電流路徑的步驟；測定電流路徑的電流值的步驟；對第3測定探頭與第4測定探頭之間的電壓值進行測定的步驟；以及根據所測定的電流值和所測定的電壓值來對第1電極盤與第2電極盤之間的導通進行檢查的步驟。

采用該配線電路基板的導通檢查方法，使第1測定探頭與第1電極盤相接觸、使第2測定探頭與第2電極盤相接觸，并使第3測定探頭與第1電極盤相接觸、使第4測定探頭與第2電極盤相接觸。在該狀態下，使電流經由第1測定探頭和第2測定探頭流至包括第1電極盤和第2電極盤以及多條線路在內的電流路徑中。

測定電流路徑的電流值，并測定第3測定探頭與第4測定探頭之間的電壓值。在該情況下，第3測定探頭和第4測定探頭中沒有電流流過。因而，第3測定探頭與第4測定探頭之間的電壓值不受接觸電阻的影響。由此，能夠以較高的精度和較高的再現性來測定第3測定探頭與第4測定探頭之間的電壓值。

能夠根據所測定的電流值和所測定的電壓值來檢查第1電極盤與第2電極盤之間的導通。此處，由于能夠以較高的精度和較高的再現性來測定電壓值，因此能夠識別多條線路為正常的情況下的導通狀態和多條線路中的某條線路為異常的情況下的導通狀態。其結果，即使在第1電極盤與第2電極盤之間通過多條線路電連接起來的情況下，也能夠檢測出電極盤之間的導通異常。

(2)也可以是，第1測定探頭和第3測定探頭的直徑分別為20μm～50μm。

采用該結構，即使在第1電極盤的尺寸較小的情況下，也能夠容易地使第1測定探和第3測定探頭在不相互接觸的情況下分別與第1電極盤相接觸。