[發(fā)明專利]一種掩膜板在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201410446667.4 | 申請日: | 2014-09-03 |
| 公開(公告)號: | CN104267574A | 公開(公告)日: | 2015-01-07 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 張家祥;郭建 | 申請(專利權(quán))人: | 京東方科技集團股份有限公司;北京京東方光電科技有限公司 |
| 主分類號: | G03F1/26 | 分類號: | G03F1/26 |
| 代理公司: | 北京天昊聯(lián)合知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11112 | 代理人: | 柴亮;張?zhí)焓?/td> |
| 地址: | 100015 *** | 國省代碼: | 北京;11 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 掩膜板 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及顯示技術(shù)領(lǐng)域,具體地,涉及一種掩膜板。
背景技術(shù)
目前高像素產(chǎn)品越來越多的出現(xiàn),像素結(jié)構(gòu)也越來越小,這就要求接觸孔的直徑也越來越小。同樣用于制作像素結(jié)構(gòu)的掩膜板的過孔的直徑也越來越小,但由于掩膜板的過孔會產(chǎn)生的衍射效應(yīng)及設(shè)備限制,無法制作4um以下的接觸孔;只能通過更新曝光機,使用鏡口率(Numerical?Aperture)更高的曝光機來實現(xiàn)分辨率的提升。然而,更新一臺曝光機的成本非常昂貴,使許多面板廠商面臨成本壓力。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的是解決現(xiàn)有技術(shù)存在由于掩膜板的過孔產(chǎn)生衍射效應(yīng)導(dǎo)致無法制作4um以下的接觸孔的問題,提供一種能夠消除衍射效應(yīng)的掩膜板。
解決本發(fā)明技術(shù)問題所采用的技術(shù)方案是一種掩膜板,包括襯底和在所述襯底上依次設(shè)置的相位反轉(zhuǎn)層、擋光層;
其中,所述擋光層上設(shè)有鏤空區(qū)域;
所述相位反轉(zhuǎn)層在所述擋光層上的投影至少部分位于所述鏤空區(qū)域;
所述相位反轉(zhuǎn)層將從襯底側(cè)入射的光線進行相位反轉(zhuǎn)用于抵消所述光線經(jīng)過鏤空區(qū)域產(chǎn)生衍射的光線。
優(yōu)選的是,在所述的相位反轉(zhuǎn)層和所述襯底之間還設(shè)有增透層;所述增透層在所述擋光層上的投影覆蓋所述鏤空區(qū)域。
優(yōu)選的是,所述增透層的厚度范圍為200-400埃。
優(yōu)選的是,所述相位反轉(zhuǎn)層的厚度范圍為400-600埃。
優(yōu)選的是,所述相位反轉(zhuǎn)層的光線透過率范圍為5-8%。
優(yōu)選的是,所述擋光層的厚度范圍為1500-2000埃。
優(yōu)選的是,所述鏤空區(qū)域包括過孔。
優(yōu)選的是,所述過孔的直徑范圍為1.7-2.0um。
優(yōu)選的是,所述相位反轉(zhuǎn)層在所述擋光層上的投影的邊緣與所述過孔的邊緣的距離為0.5-0.8um。
優(yōu)選的是,所述增透層的材料包括MgF;所述擋光層的材料包括鉻;所述相位反轉(zhuǎn)層的材料包括SiMo。
本發(fā)明的掩膜板中相位反轉(zhuǎn)層2可以將經(jīng)過相位反轉(zhuǎn)層2的部分光線進行相位反轉(zhuǎn),此時,經(jīng)過鏤空區(qū)域的部分光線產(chǎn)生衍射效應(yīng)時,與經(jīng)過相位反轉(zhuǎn)的光線抵消,消除了掩膜板的鏤空區(qū)域的衍射效應(yīng),曝光形成的對應(yīng)鏤空區(qū)域的圖形的尺寸更小,能夠完成更小像素結(jié)構(gòu)的制備;同時,光線強度的從鏤空區(qū)域的中心向周邊的降低也更快,曝光形成的對應(yīng)鏤空區(qū)域的圖形的坡度角更大。
附圖說明
圖1為本發(fā)明實施例1中掩膜板的結(jié)構(gòu)示意圖;
圖2為本發(fā)明實施例1中具有相位反轉(zhuǎn)層的掩膜板和不具有相位反轉(zhuǎn)層的掩膜板的光路對比示意圖;
圖3為本發(fā)明實施例1中具有增透層的掩膜板的結(jié)構(gòu)示意圖;
附圖標記說明:
1.襯底;2.相位反轉(zhuǎn)層;3.擋光層;4.增透層;5.鏤空區(qū)域。
具體實施方式
為使本領(lǐng)域技術(shù)人員更好地理解本發(fā)明的技術(shù)方案,下面結(jié)合附圖和具體實施方式對本發(fā)明作進一步詳細描述。
實施例1:
圖1所示,本實施例提供一種掩膜板,包括襯底1和在所述襯底1上依次設(shè)置的相位反轉(zhuǎn)層2、擋光層3;
其中,擋光層3上設(shè)有鏤空區(qū)域5;
所述相位反轉(zhuǎn)層2在所述擋光層3上的投影至少部分位于所述鏤空區(qū)域5;
所述相位反轉(zhuǎn)層2將從襯底側(cè)入射的光線進行相位反轉(zhuǎn)用于抵消所述光線經(jīng)過鏤空區(qū)域5產(chǎn)生衍射的光線。
如圖2所示,光線經(jīng)過具有相位反轉(zhuǎn)層2的掩膜板和無相位反轉(zhuǎn)層2的掩膜板的對比圖,從圖2可見,具有相位反轉(zhuǎn)層2的掩膜板可以將經(jīng)過相位反轉(zhuǎn)層2的部分光線進行相位反轉(zhuǎn),此時,經(jīng)過鏤空區(qū)域5的部分光線產(chǎn)生衍射效應(yīng)時,與經(jīng)過相位反轉(zhuǎn)的光線抵消,消除了掩膜板的鏤空區(qū)域5的衍射效應(yīng)(圖2中黑圓錐的底面積更小),曝光形成的對應(yīng)鏤空區(qū)域5的圖形的尺寸更小,能夠完成更小像素結(jié)構(gòu)的制備;同時,光線強度的從鏤空區(qū)域5的中心向周邊的降低也更快(圖2中黑圓錐的高徑比更大),曝光形成的對應(yīng)鏤空區(qū)域5的圖形的坡度角更大。
如圖3所示,優(yōu)選的,在所述的相位反轉(zhuǎn)層2和所述襯底1之間還設(shè)有增透層4;所述增透層4在所述擋光層3上的投影覆蓋所述鏤空區(qū)域5。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于京東方科技集團股份有限公司;北京京東方光電科技有限公司,未經(jīng)京東方科技集團股份有限公司;北京京東方光電科技有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201410446667.4/2.html,轉(zhuǎn)載請聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 同類專利
- 專利分類
G03F 圖紋面的照相制版工藝,例如,印刷工藝、半導(dǎo)體器件的加工工藝;其所用材料;其所用原版;其所用專用設(shè)備
G03F1-00 用于圖紋面的照相制版的原版,例如掩膜,光掩膜;其所用空白掩膜或其所用薄膜;其專門適用于此的容器;其制備
G03F1-20 .用于通過帶電粒子束(CPB)輻照成像的掩膜或空白掩膜,例如通過電子束;其制備
G03F1-22 .用于通過100nm或更短波長輻照成像的掩膜或空白掩膜,例如 X射線掩膜、深紫外
G03F1-26 .相移掩膜[PSM];PSM空白;其制備
G03F1-36 .具有臨近校正特征的掩膜;其制備,例如光學(xué)臨近校正(OPC)設(shè)計工藝
G03F1-38 .具有輔助特征的掩膜,例如用于校準或測試的特殊涂層或標記;其制備





