[發明專利]可自動定位芯片的半導體芯片測試插座有效
| 申請號： | 201410443449.5 | 申請日： | 2014-09-02 |
| 公開（公告）號： | CN104155490B | 公開（公告）日： | 2017-01-11 |
| 發明（設計）人： | 孫鴻斐;賀濤 | 申請（專利權）人： | 法特迪精密科技（蘇州）有限公司 |
| 主分類號： | G01R1/04 | 分類號： | G01R1/04 |
| 代理公司： | 無錫市匯誠永信專利代理事務所(普通合伙)32260 | 代理人： | 張歡勇 |
| 地址： | 215000 江蘇省蘇州*** | 國省代碼： | 江蘇;32 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 自動 定位 芯片 半導體 測試 插座 | ||
1.一種可自動定位芯片的半導體芯片測試插座，包括測試座(1)和測試蓋(2)，所述測試蓋(2)設置于測試座(1)上方，所述測試蓋(2)與測試座(1)卡接；其特征在于：所述測試座(1)上設有可移動的定位裝置(11)，測試蓋(2)上設有與定位裝置(11)相配合的鎖緊裝置(21)。
2.如權利要求1所述的可自動定位芯片的半導體芯片測試插座，其特征在于：所述定位裝置(11)包括定位滑塊(111)和定位滑塊復位彈簧(112)，鎖緊裝置(21)包括壓塊(211)和壓塊復位彈簧(212)；所述定位滑塊(111)通過定位滑塊復位彈簧(112)與測試座(1)相連，所述壓塊(211)通過壓塊復位彈簧(222)和測試蓋(2)相連，定位滑塊復位彈簧(12)的彈力小于壓塊復位彈簧(22)的彈力。
3.如權利要求2所述的可自動定位芯片的半導體芯片測試插座，其特征在于：所述測試座(1)和測試蓋(2)內還分別設有下滑軌槽(12)和上滑軌槽(22)，所述定位滑塊(111)和壓塊(211)分別設置在下滑軌槽(12)和上滑軌槽(22)內。
4.如權利要求3所述的可自動定位芯片的半導體芯片測試插座，其特征在于：所述測試座(1)和測試蓋(2)上分別設有下蓋板(13)和上蓋板(23)；所述下蓋板(13)和上蓋板(23)相應位置分別設有開口。
5.如權利要求3所述的可自動定位芯片的半導體芯片測試插座，其特征在于：所述定位滑塊復位彈簧(112)設置于定位滑塊(111)靠近測試座(1)中心一側，壓塊復位彈簧(212)設置于靠近測試蓋(2)外緣一側。
6.如權利要求3所述的半導體芯片測試插座，其特征在于：所述定位滑塊(111)設置于測試座(1)上芯片孔的對角線上，且與芯片接觸處為直角結構。
7.如權利要求3至6任一所述的半導體芯片測試插座，其特征在于：所述測試座和測試蓋通過卡勾結構(3)卡接；所述卡勾結構(3)包括卡勾、銷釘和復位彈簧，所述卡勾通過銷釘與測試蓋(2)相連，測試座(2)上設置有與卡勾相配合的卡槽。
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