[發明專利]一種基于β似然函數的參數估計方法

在審

• 申請號: 201410443198.0
• 申請日: 2014-09-02
• 公開（公告）號: CN104182377A
• 公開（公告）日: 2014-12-03
• 發明（設計）人: 王曉紅;余闖;王立志;謝安祺;李宇翔
• 申請（專利權）人: 北京航空航天大學
• 主分類號: G06F17/15
• 分類號: G06F17/15
• 代理公司: 北京慧泉知識產權代理有限公司 11232
• 代理人: 王順榮;唐愛華

1.一種基于β似然函數的參數估計方法，其特征在于：該方法具體步驟如下：

步驟一、故障數據的收集；

步驟二、平均秩次的計算；

步驟三、壽命分布的選取和β似然函數的構造；

步驟四、壽命分布參數的求解。

2.根據權利要求1所述的一種基于β似然函數的參數估計方法，其特征在于：在步驟一中所述的“故障數據”是指在壽命試驗中產生的故障數據，具體包括樣本量n、發生故障的試件數m、各故障試件的工作時間即由短到長排序為t₁,t₂,...,t_i,...,t_m、未故障而撤離試驗的各試件的工作時間。

3.根據權利要求1所述的一種基于β似然函數的參數估計方法，其特征在于：在步驟二中所述的“平均秩次”是指，對于有未故障而撤離試件的壽命數據，由于無法得知中途撤離的試件將在何時故障，假設中途撤離的試件將同等可能的在其撤離后的試件故障之間發生故障，則第i個故障試件在所有試件中的故障序號期望值即平均秩次A_i；在步驟二中所述的“平均秩次的計算”，其遞推計算公式如下：

A0=0ΔAi=n+1-Ai-1n-j+2Ai=Ai-1+ΔAi]]>

式中，n為樣本量、i為故障序號、j為第i個故障在故障時間和撤離時間中的共同排序號。