[發明專利]一種利用X-熒光光譜分析地質樣品中主量元素的方法無效
| 申請號: | 201410438504.1 | 申請日: | 2014-08-29 |
| 公開(公告)號: | CN104267054A | 公開(公告)日: | 2015-01-07 |
| 發明(設計)人: | 萬光會;肖延安 | 申請(專利權)人: | 無錫英普林納米科技有限公司 |
| 主分類號: | G01N23/223 | 分類號: | G01N23/223;G01N1/28 |
| 代理公司: | 南京蘇高專利商標事務所(普通合伙) 32204 | 代理人: | 成立珍 |
| 地址: | 214192 江蘇省無*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 利用 熒光 光譜分析 地質 樣品 中主量 元素 方法 | ||
1.一種利用X射線熒光光譜分析地質中主量元素的方法,其特征在于,包括如下步驟:
(1)樣品的制備:將樣品在100~110℃條件下烘2~2.5h,然后將標樣或待測樣品、混合熔劑以及NH4NO3混合,放置在鉑金-金合金鉗鍋中,攪拌均勻,再向其中滴加脫模劑,置于熔樣機上,在700~800℃中放置3~6min,然后升溫至1100~1300℃,熔融5min,再搖動5min,靜置1min后倒入模具內澆鑄成玻璃熔片;
(2)標準曲線的制定:按照步驟的方法制備標準品,然后利用能量色散X-射線熒光光譜儀分析,制定校準曲線;
(3)測量條件:樣品中的各種物質測量條件如下:
Mn、Ti、Fe:選擇Kα線,管壓75kV,管流8mA,二級靶用Ge,測量時間為250s;
Al、Si、K、Ca選擇Kα線,管壓40kV,管流15mA,二級靶用Ti,測量時間為250s;
Na、Mg:選擇Kα線,管壓25kV,管流24mA,二級靶用Al,測量時間為300s。
2.根據權利要求1所述的方法,其特征在于,步驟(1)中所述的混合熔劑為Li2B4O7與LiBO2按照質量比為66:34混合的混合物。
3.根據權利要求1所述的方法,其特征在于,步驟(1)中待測樣品、混合熔劑和NH4NO3按照質量比為1:5:1的比例混合。
4.根據權利要求1所述的方法,其特征在于,步驟(1)中所述的脫模劑為LiBr飽和溶液,每克樣品添加量為200~300μL。
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