[發明專利]一種光導測試裝置在審
| 申請號: | 201410431309.6 | 申請日: | 2014-08-28 |
| 公開(公告)號: | CN105444989A | 公開(公告)日: | 2016-03-30 |
| 發明(設計)人: | 嚴李李;劉小平;李景濤;牛紹龍;宋山山 | 申請(專利權)人: | 北京大基康明醫療設備有限公司 |
| 主分類號: | G01M11/00 | 分類號: | G01M11/00 |
| 代理公司: | 北京銀龍知識產權代理有限公司 11243 | 代理人: | 許靜;黃燦 |
| 地址: | 100176 北京市*** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 測試 裝置 | ||
技術領域
本發明涉及探測器技術領域,具體涉及一種光導測試裝置。
背景技術
正電子發射斷層成像裝置(PET,PositronEmissionTomography)是繼X射線斷層成像和磁共振成像技術之后,將計算機斷層技術應用于核醫學領域比較先進的臨床檢查影像技術,是目前惟一可在活體上顯示生物分子代謝、受體及神經介質活動的新型影像技術,現已廣泛用于多種疾病的診斷與鑒別診斷、病情判斷、療效評價、臟器功能研究和新藥開發等方面。
PET掃描儀由探測器、前端電子學、檢查床、計算機以及其他輔助部分組成,而探測器是PET的核心零部件,是PET的“眼睛”。一部PET掃描儀的位置分辨率、時間分辨率和靈敏度等技術指標主要取決于它所使用的探測器,即PET掃描儀最后提供圖像的質量和實用性評價首先取決于探測器。
探測器主要有晶體陣列和光電轉換器件組成,晶體陣列主要用于吸收γ光子,產生熒光,光電轉換器件主要作用是吸收熒光,經過光電轉換,并放大產生脈沖電流信號。
目前主要有兩種探測器,一種是普通光電倍增管探測器,一種是硅光電倍增管(SIPM)探測器。一個普通光電倍增管探測器一般由晶體陣列加4根普通光電倍增管組成,利用光導進行分光,不同位置的晶體條到達4根光電倍增管的光亮不一樣,通過比值來確定晶體條的位置。而影響光導性能的主要有光導的厚度、外縫隙深度、外縫隙距離、內縫隙距離、內縫隙深度等五個參數,五個參數如果進行組合將有無數個方案,需要加工大量的光導,實驗周期也很長,甚至無法尋找到合適尺寸的光導。
發明內容
為了克服傳統的普通光電倍增管探測器實驗周期長且效率低的問題,本發明提供了一種光導測試裝置。
為了解決上述技術問題,本發明采用如下技術方案:
本發明提供了一種光導測試裝置,包括:自上而下依次連接的放射源盒、晶體盒、光電倍增管盒以及底板;
放射源盒包括:放射源、放射源盒蓋以及放射源盒體;放射源方向朝下放置在所述放射源盒體內;放射源盒蓋位于放射源盒體上端;所述放射源盒體的底部設有通孔;
晶體盒包括:晶體盒體、晶體盒蓋、晶體盒固定板、晶體模塊以及待測光導;晶體盒體通過晶體盒固定板固定在待測光導上方;晶體模塊以及待測光導位于晶體盒內,晶體盒蓋位于晶體盒體上端;晶體盒蓋以及晶體盒體均為避光材質;
待測光導通過多個彈簧夾片固定在光電倍增管盒上方;光電倍增管盒固定于底板上;光電倍增管盒內設有多根光電倍增管;
光電倍增管盒外部設有接插件板,接插件板上設有高壓電源輸入端與數據輸出端;高壓電源輸入端與光電倍增管的電源輸入端連接;光電倍增管的信號輸出端通過數據輸出端與探測器測試平臺連接。
進一步地,晶體模塊包括:晶體陣列、工裝定位板以及工裝定位塊;晶體陣列包括晶體工裝和晶體條;晶體工裝設有多個網格,晶體條放置于網格之中;工裝定位板固定在光電倍增管盒蓋上;晶體工裝通過工裝定位塊與工裝定位板連接。
進一步地,待測光導外圍包有鋁箔;待測光導表面設有多條縫隙;縫隙中填充有反射層。
進一步地,晶體陣列包括至少一個晶體條。
進一步地,放射源為γ射線放射源。
進一步地,光電倍增管盒與底板之間設有密封條。
進一步地,光電倍增管安裝在光電倍增管裝配體上,光電倍增管盒內設有用于固定光電倍增管裝配體的固定板;光電倍增管裝配體通過螺釘安裝在固定板上。
進一步地,光電倍增管盒頂端外圍設置有密封圈;所述光電倍增管盒的材質為避光材質。
進一步地,所述彈簧夾片的材質為彈簧鋼。
進一步地,放射源盒的材質為屏蔽材質。
本發明的有益效果是:
本發明提供的光導測試裝置通過改變晶體和光導的相對位置,用來探究光導的厚度和縫隙距離以及晶體陣列的反射層對晶體散點圖的影響,總結規律,可以大幅減少光導加工的次數,加快實驗進度,確定光導的尺寸,設計出了性能優良的探測器方案;本發明采用晶體切透,利用光導進行分光,工藝簡單,可以對晶體進行打磨、拋光、退火等處理,晶體光學性能好,晶體陣列一致性高,有利于提高PET掃描儀的分辨率。
附圖說明
圖1為本發明實施例所述的光導測試裝置的示意圖;
圖2為本發明實施例所述的光導測試裝置的局部剖視圖;
圖3為本發明實施例所述的晶體盒的結構示意圖;
圖4為本發明實施例所述的晶體陣列結構示意圖;
圖5為本發明實施例所述的待測光導的結構示意圖。
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