[發明專利]一種導體電阻及其電阻率測量裝置

在審

• 申請號: 201410429538.4
• 申請日: 2014-08-28
• 公開（公告）號: CN104198819A
• 公開（公告）日: 2014-12-10
• 發明（設計）人: 佘長清;金愛民;郭富勝;李偉;肖雪;滿超楠;宋方超;王春;林祥艦;畢曉燕
• 申請（專利權）人: 國家電網公司;國網山東省電力公司煙臺供電公司
• 主分類號: G01R27/14
• 分類號: G01R27/14
• 代理公司: 無
• 代理人: 無

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技術領域：

本發明涉及一種導體電阻及其電阻率測量裝置，屬于電力系統變電檢修技術領域。

背景技術：

在電力設備交接和狀態檢修中，變壓器、開關等導體回路的電阻與電阻率的測量是檢測設備狀態的有效手段，它可以發現設備是否存在設計和制造等缺陷，以次充好等問題。但目前對導體電阻和電阻率的測量仍采用傳統方法即電流電壓法進行測量，現場計算，工作量很大，且由于受到表計精度的影響和人員眼睛的誤差，導致測量誤差較大且工作效率很低。

發明內容：

本發明的目的在于克服上述已有技術的不足而提供一種大大降低了勞動強度，極大地降低了測量設備的重量和體積，單人即可完成,功能強大，可進行自動操作，可準確分析和判斷變壓器、開關導體的材質情況的導體電阻及其電阻率測量裝置。

本發明的目的可以通過如下措施來達到：一種導體電阻及其電阻率測量裝置，其特征在于其包括恒流源，恒流源連接AD采集模塊，AD采集模塊連接輸入輸出單元，AD采集模塊包括單片機、取樣電阻、被測導體、取樣電阻AD采集模塊、被測導體AD采集模塊；取樣電阻AD采集模塊包括取樣第一分壓電阻、取樣第二分壓電阻、取樣電阻比較放大器、取樣電阻AD芯片；被測導體AD采集模塊包括被測第一分壓電阻、被測第二分壓電阻、被測導體比較放大器、被測導體AD芯片；取樣電阻分別連接恒流源及取樣第一分壓電阻、取樣第二分壓電阻，取樣第一分壓電阻、取樣第二分壓電阻連接取樣電阻比較放大器，取樣電阻比較放大器連接取樣電阻AD芯片；被測導體分別連接恒流源及被測第一分壓電阻、被測第二分壓電阻，被測第一分壓電阻、被測第二分壓電阻連接被測導體比較放大器，被測導體比較放大器連接被測導體AD芯片，取樣電阻AD芯片、被測導體AD芯片均分別與單片機連接。

為了進一步實現本發明的目的，所述的輸入輸出單元包括打印機、存儲器、顯示單元、按鍵，單片機分別連接打印機、存儲器、顯示單元、按鍵。

本發明同已有技術相比可產生如下積極效果：本發明采用一體化設計，大大降低了勞動強度，極大地降低了測量設備的重量和體積，單人即可完成測量，功能強大，可進行自動操作，可準確分析和判斷變壓器、開關導體的材質情況狀況，更適合現場使用，使復雜繁瑣的導體材質試驗變得更簡單便捷，大大提高了相關工作的效率，從而為及時發現變壓器的缺陷、確保設備安全穩定運行奠定堅實的基礎。

附圖說明：

圖1為本發明的結構框圖；

圖2?為AD采集模塊的電路原理圖。

具體實施方式：下面結合附圖對本發明的最佳實施方式做詳細說明：

實施例：一種導體電阻及其電阻率測量裝置（參見圖1-圖2），其包括恒流源1、AD采集模塊2以及輸入輸出單元3。AD采集模塊2包括單片機2-1、取樣電阻2-2、被測導體2-3、取樣電阻AD采集模塊2-4、被測導體AD采集模塊2-5；取樣電阻AD采集模塊2-4包括取樣第一分壓電阻2-4-1、取樣第二分壓電阻2-4-2、取樣電阻比較放大器2-4-3、取樣電阻AD芯片（ICL7135）2-4-4；被測導體AD采集模塊2-5包括被測第一分壓電阻2-5-1、被測第二分壓電阻2-5-2、被測導體比較放大器2-5-3、被測導體AD芯片（ICL7135）2-5-4。取樣電阻2-2分別連接恒流源1及取樣第一分壓電阻2-4-1、取樣第二分壓電阻2-4-2，取樣第一分壓電阻2-4-1、取樣第二分壓電阻2-4-2連接取樣電阻比較放大器2-4-3，取樣電阻比較放大器2-4-3連接取樣電阻AD芯片（ICL7135）2-4-4；被測導體2-3分別連接恒流源1及被測第一分壓電阻2-5-1、被測第二分壓電阻2-5-2，被測第一分壓電阻2-5-1、被測第二分壓電阻2-5-2連接被測導體比較放大器2-5-3，被測導體比較放大器2-5-3連接被測導體AD芯片（ICL7135）2-5-4。輸入輸出單元3包括熱敏打印機3-1、存儲器3-2、顯示單元3-3、按鍵3-4，單片機2-1分別連接取樣電阻AD芯片（ICL7135）2-4-4、被測導體AD芯片（ICL7135）2-5-4、熱敏打印機3-1、存儲器3-2、顯示單元3-3、按鍵3-4。