[發明專利]一種導體電阻及其電阻率測量裝置

在審

• 申請號: 201410429538.4
• 申請日: 2014-08-28
• 公開（公告）號: CN104198819A
• 公開（公告）日: 2014-12-10
• 發明（設計）人: 佘長清;金愛民;郭富勝;李偉;肖雪;滿超楠;宋方超;王春;林祥艦;畢曉燕
• 申請（專利權）人: 國家電網公司;國網山東省電力公司煙臺供電公司
• 主分類號: G01R27/14
• 分類號: G01R27/14
• 代理公司: 無
• 代理人: 無

1.一種導體電阻及其電阻率測量裝置，其特征在于其包括恒流源（1），恒流源（1）連接AD采集模塊（2），AD采集模塊（2）連接輸入輸出單元（3），AD采集模塊（2）包括單片機（2-1）、取樣電阻（2-2）、被測導體（2-3）、取樣電阻AD采集模塊（2-4）、被測導體AD采集模塊（2-5）；取樣電阻AD采集模塊（2-4）包括取樣第一分壓電阻（2-4-1）、取樣第二分壓電阻（2-4-2）、取樣電阻比較放大器（2-4-3）、取樣電阻AD芯片（2-4-4）；被測導體AD采集模塊（2-5）包括被測第一分壓電阻（2-5-1）、被測第二分壓電阻（2-5-2）、被測導體比較放大器（2-5-3）、被測導體AD芯片（2-5-4）；取樣電阻（2-2）分別連接恒流源（1）及取樣第一分壓電阻（2-4-1）、取樣第二分壓電阻（2-4-2），取樣第一分壓電阻（2-4-1）、取樣第二分壓電阻（2-4-2）連接取樣電阻比較放大器（2-4-3），取樣電阻比較放大器（2-4-3）連接取樣電阻AD芯片（2-4-4）；被測導體（2-3）分別連接恒流源（1）及被測第一分壓電阻（2-5-1）、被測第二分壓電阻（2-5-2），被測第一分壓電阻（2-5-1）、被測第二分壓電阻（2-5-2）連接被測導體比較放大器（2-5-3），被測導體比較放大器（2-5-3）連接被測導體AD芯片（2-5-4），取樣電阻AD芯片（2-4-4）、被測導體AD芯片（2-5-4）均分別與單片機（2-1）連接。

2.根據權利要求1所述的一種導體電阻及其電阻率測量裝置，其特征在于所述的輸入輸出單元（3）包括打印機（3-1）、存儲器（3-2）、顯示單元（3-3）、按鍵（3-4），單片機（2-1）分別連接打印機（3-1）、存儲器（3-2）、顯示單元（3-3）、按鍵（3-4）。