[發明專利]存儲器地址的測試方法及測試裝置

在審

• 申請號: 201410428598.4
• 申請日: 2014-08-27
• 公開（公告）號: CN104200847A
• 公開（公告）日: 2014-12-10
• 發明（設計）人: 柯遙
• 申請（專利權）人: 上海華力微電子有限公司
• 主分類號: G11C29/56
• 分類號: G11C29/56
• 代理公司: 上海天辰知識產權代理事務所(特殊普通合伙) 31275
• 代理人: 吳世華;林彥之

1.一種存儲器地址的測試方法，其特征在于，包括以下步驟：

S1：將所述存儲器的地址空間轉換為二進制的M位地址；

S2：指定所述二進制的M位地址中特定的N位均為1時或特定的N位均為0時所對應的地址為所述地址空間中需跳過測試的地址，M、N和M-N為正整數；

S3：將該N位地址分配至第一地址組，將剩余M-N位地址分配至第二地址組；

S4：將所述第一地址組的N位地址和所述第二地址組的M-N位地址按所述二進制的M位地址的位階順序，以特定規則對所述第一地址組和第二地址組遍歷以對對應的地址進行測試；

其中所述特定規則為：對于所述第一地址組，對除N位均為1或均為0的地址外的其他各地址進行遍歷；對于所述第二地址組，對全部地址進行遍歷。

2.根據權利要求1所述的存儲器地址的測試方法，其特征在于，在所述第一地址組中，該特定的N位地址從低位至高位依次排列；在所述第二地址組中，該剩余的M-N位地址從低位至高位依次排列。

3.根據權利要求2所述的存儲器地址的測試方法，其特征在于，對于所述第一地址組，當指定所述二進制的M位地址中N位均為1時對應的地址為需跳過測試的地址時，從該第一地址組的最小地址至僅小于最大地址的次最大地址依次遍歷，當指定所述二進制的M位地址中N位均為0時對應的地址為需跳過測試的地址時從該第一地址組的僅大于所述最小地址的次最小地址至所述最大地址依次遍歷。

4.根據權利要求3所述的存儲器地址的測試方法，其特征在于，對于所述第二地址組從其最小地址至其最大地址依次遍歷。

5.根據權利要求1所述的存儲器地址的測試方法，其特征在于，若步驟S2中指定所述二進制的M位地址中最高位為1時所對應的地址為需跳過測試的地址，該需跳過測試的地址為所述存儲器全部地址的第2^M/2～2^M-1個地址；若步驟S2中指定所述二進制的M位地址中最高位為0時所對應的地址為需跳過測試的地址，該需跳過測試的地址為所述存儲器全部地址的第0～2^M/2-1個地址。

6.根據權利要求1所述的存儲器地址的測試方法，其特征在于，若步驟S2中指定所述二進制的M位地址中最低位為1時所對應的地址為需跳過測試的地址，該需跳過測試的地址為所述存儲器全部地址的奇數位的地址；若步驟S2中指定所述二進制的M位地址中最低位為0時所對應的地址為需跳過測試的地址，該需跳過測試的地址為所述存儲器全部地址的偶數位的地址。

7.一種存儲器地址的測試裝置，其特征在于，包括：

轉換模塊，用于將所述存儲器的地址空間轉換為二進制的M位地址；

指定模塊，用于指定所述二進制的M位地址中特定的N位均為1時或特定的N位均為0時所對應的地址為所述地址空間中需跳過測試的地址，M、N和M-N為正整數；

分配模塊，用于將該特定的N位地址分配至第一地址組，將剩余M-N位地址分配至第二地址組；以及

測試模塊，用于將所述第一地址組的N位地址和所述第二地址組的M-N位地址按所述二進制的M位地址的位階順序，以特定規則對所述第一地址組和第二地址組遍歷并對對應的地址進行測試；其中所述特定規則為：對于所述第一地址組，對除N位均為1或均為0的地址外的其他各地址進行遍歷；對于所述第二地址組，對全部地址進行遍歷。

8.根據權利要求7所述的測試裝置，其特征在于，所述分配模塊將所述第一地址組中的該特定的N位地址從低位至高位依次排列；將所述第二地址組中的該剩余的M-N位地址從低位至高位依次排列。

9.根據權利要求8所述的測試裝置，其特征在于，當所述指定模塊指定所述二進制的M位地址中N位均為1時對應的地址為需跳過測試的地址時，所述測試模塊從該第一地址組的最小地址至僅小于最大地址的次最大地址依次遍歷，當所述指定模塊指定所述二進制的M位地址中N位均為0時對應的地址為需跳過測試的地址時，所述測試模塊從該第一地址組的僅大于所述最小地址的次最小地址至所述最大地址依次遍歷。

10.根據權利要求9所述的測試裝置，其特征在于，所述測試模塊從所述第二地址組的最小地址至其最大地址依次遍歷。