[發明專利]一種基于欠采樣技術鎖相環長周期抖動片上測量電路

有效

• 申請號: 201410422608.3
• 申請日: 2014-08-25
• 公開（公告）號: CN104158542B
• 公開（公告）日: 2017-04-05
• 發明（設計）人: 許浩博;蔡志匡;徐亮;任力爭;楊軍
• 申請（專利權）人: 東南大學
• 主分類號: H03L7/18
• 分類號: H03L7/18;G01R31/28
• 代理公司: 南京蘇高專利商標事務所(普通合伙)32204
• 代理人: 柏尚春

1.一種基于欠采樣技術鎖相環長周期抖動片上測量電路，其特征在于：包括欠采樣實現電路、控制電路、移位寄存器A、二選一MUX、移位寄存器B和CDF合成電路；

鎖相環輸出信號F_d和采樣信號F_s接入至欠采樣實現電路中，采樣信號F_s同時為系統時鐘，由欠采樣實現電路輸出的信號Q_out分別接入控制電路、移位寄存器A和二選一MUX；

控制電路的輸出信號Select為二選一MUX的選通信號，控制電路的輸出信號CDF_en_a和CDF_en_b分別接入移位寄存器A和移位寄存器B，分別作為移位寄存器A和移位寄存器B輸出信號Shift_a和Shift_b的觸發控制信號；

二選一MUX的輸出信號接入至移位寄存器B中，移位寄存器A和移位寄存器B中的每一位都接入CDF合成電路，CDF合成電路的測量輸出結果通過信號Shift_out輸出。

2.如權利要求1所述的基于欠采樣技術鎖相環長周期抖動片上測量電路，其特征在于：所述移位寄存器A和移位寄存器B的位數相等，且均可以覆蓋欠采樣實現電路的輸出信號Q_out邊沿與理想輸出信號邊沿之間出現的最大偏差。

3.如權利要求2所述的基于欠采樣技術鎖相環長周期抖動片上測量電路，其特征在于：所述移位寄存器A和移位寄存器B中的每個觸發器的輸出端都接入CDF合成電路。

4.如權利要求1-3任意一項所述的基于欠采樣技術鎖相環長周期抖動片上測量電路，其特征在于：通過周期對齊欠采樣后處理技術得到被測信號長周期抖動。

5.如權利要求4所述的基于欠采樣技術鎖相環長周期抖動片上測量電路，其特征在于：周期對齊欠采樣后處理具體如下：被測信號中的抖動，在欠采樣實現電路輸出的Q_out信號中會產生不穩定跳變位；同時由于長周期抖動的影響，此時Q_out信號與無抖動信號相比會有偏差；將Q_out信號邊沿區域按照其周期T_Q對齊后，在邊沿區域內測量出Q_out信號與理想信號之間的偏移，即抖動。

6.如權利要求5所述的基于欠采樣技術鎖相環長周期抖動片上測量電路，其特征在于：實現周期對齊的方法為：假設Q_out周期內包括(2P+N)個采樣時鐘周期，當采樣輸出信號Q_out第一個周期內第一個“0-1”跳變點出現時，記為時刻t₁，將其接入移位寄存器B，由移位寄存器B記錄Q_out信號在第一個周期內所有的不穩定位；當移位寄存器B記錄位數滿移位寄存器B的P位后，CDF合成電路使能信號CDF_en_a和CDF_en_b置為“1”，在下個周期置為“0”，并開始對周期數值計數，當計數滿N周期時，Q_out信號接入移位寄存器A并記錄之后2P位邏輯值，當記錄滿2P位后，CDF_en_a和CDF_en_b置為“1”并開始記錄周期數，如此循環往復。