[發明專利]掃描儀有效
| 申請號: | 201410418108.2 | 申請日: | 2014-08-22 |
| 公開(公告)號: | CN104427195B | 公開(公告)日: | 2018-09-28 |
| 發明(設計)人: | 花村修;小原敏光 | 申請(專利權)人: | 精工愛普生株式會社 |
| 主分類號: | H04N1/04 | 分類號: | H04N1/04;H04N1/028;H04N1/00 |
| 代理公司: | 北京三友知識產權代理有限公司 11127 | 代理人: | 李輝;黃綸偉 |
| 地址: | 日本*** | 國省代碼: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 掃描儀 | ||
掃描儀。本發明的掃描儀在設置有測光部的多個位置中,根據被設置在判定對象位置的所述測光部在與原稿蓋打開且發光部不發光的第1測光條件不同的測光條件下檢測出的光的強度來確定原稿尺寸,其中,所述判定對象位置是在所述第1測光條件下檢測出第1閾值以上的強度的光的位置以外的位置。
技術領域
本發明涉及根據檢測出的光的強度來確定原稿尺寸的技術。
背景技術
以往,已知根據1維圖像傳感器接收到的光的強度來確定掃描的原稿的原稿尺寸的技術(例如,專利文獻1)。在專利文獻1中,在從原稿蓋打開的狀態成為原稿蓋關閉的狀態之前,取得由1維圖像傳感器接收到的光的強度的變化量,判定為在該變化量不超過閾值的位置不存在原稿,并且判定為在該變化量超過閾值的位置存在原稿。針對1維圖像傳感器上的各位置進行這樣的有無原稿的判定,由此,在1維圖像傳感器的方向上確定原稿的長度。
專利文獻1:日本特開2007-28185號公報
但是,在周邊光以接近于與原稿臺平行的角度入射的情況下,即使關閉原稿蓋,1維圖像傳感器接收到的光的強度也不會大幅變化。因此,存在誤判原稿尺寸的問題。
發明內容
本發明是鑒于所述問題而完成的,目的在于提供能夠高精度地確定原稿尺寸的技術。
用于達成所述目的掃描儀具有:發光部,其向原稿照射光;多個測光部,它們與所述發光部相對于所述原稿配置在同一側,輸出來自所述發光部的光在所述原稿處反射后的光的強度;檢測部,其檢測從所述測光部的相反側覆蓋所述原稿的原稿蓋的狀態;以及控制部,其在設置有所述測光部的多個位置,根據被設置在判定對象位置的所述測光部在與第1測光條件不同的測光條件下檢測出的光的強度,確定原稿尺寸,其中,該第1測光條件是所述原稿蓋打開且所述發光部不發光,該判定對象位置是在所述第1測光條件下檢測出第1閾值以上的強度的光的位置以外的位置。
在上述結構中,在發光部不發光的情況下,可以認為由測光部檢測出的光是掃描儀外部的光源發出的周邊光。此外,在原稿蓋打開的情況下,原稿蓋對周邊光的遮光率變小。因此,在原稿蓋打開的情況下,在不存在原稿的位置,周邊光不會被原稿遮蔽,而由測光部檢測出。因此,在第1測光條件下檢測出第1閾值以上的強度的光的位置是存在原稿的可能性較小的位置。與此相對,在第1測光條件下檢測出第1閾值以上的強度的光的位置以外的判定對象位置是存在原稿的可能性較大的位置。
進而,控制部根據在設置有測光部的位置中的、存在原稿的可能性較大的判定對象位置處設置的測光部在與第1測光條件不同的測光條件下檢測出的光的強度,確定原稿尺寸。可以不在設置有測光部的全部位置處,根據測光部在與第1測光條件不同的測光條件下檢測出的光的強度確定原稿尺寸,因此,能夠高效地進行確定原稿尺寸的處理。
即使在原稿蓋打開且發光部不發光的第1測光條件下,測光部也能夠檢測以接近與原稿平行的角度入射的周邊光。因此,即使在周邊光以接近與原稿平行的角度入射的情況下,也能夠將存在原稿的可能性較小的位置從判定對象位置中去除。因此,將判定對象位置作為對象而進行確定原稿尺寸的處理,由此,能夠高精度地確定原稿尺寸。
此外,控制部可以取得判定差值,該判定差值是測光部在原稿蓋的角度變化且發光部發光的第2測光條件下檢測出的光的強度的最小值與測光部在原稿蓋關閉且發光部發光的第3測光條件下檢測出的光的強度之差。進而,控制部可以將判定差值小于第2閾值的判定對象位置判定為存在原稿的位置,將判定差值為第2閾值以上的判定對象位置判定為不存在原稿的位置,由此,確定原稿尺寸。
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