[發明專利]掃描儀有效
| 申請號： | 201410418108.2 | 申請日： | 2014-08-22 |
| 公開（公告）號： | CN104427195B | 公開（公告）日： | 2018-09-28 |
| 發明（設計）人： | 花村修;小原敏光 | 申請（專利權）人： | 精工愛普生株式會社 |
| 主分類號： | H04N1/04 | 分類號： | H04N1/04;H04N1/028;H04N1/00 |
| 代理公司： | 北京三友知識產權代理有限公司 11127 | 代理人： | 李輝;黃綸偉 |
| 地址： | 日本*** | 國省代碼： | 日本;JP |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 掃描儀 | ||
1.一種掃描儀，其中，該掃描儀具有：
發光部，其向原稿照射光；
多個測光部，它們與所述發光部相對于所述原稿配置在同一側，輸出來自所述發光部的光在所述原稿處反射后的光的強度；
檢測部，其檢測從所述測光部的相反側覆蓋所述原稿的原稿蓋的狀態；以及
控制部，其在設置有所述測光部的多個位置，根據被設置在判定對象位置的所述測光部在與第1測光條件不同的測光條件下檢測出的光的強度，確定原稿尺寸，其中，該第1測光條件是所述原稿蓋打開且所述發光部不發光，該判定對象位置是在所述第1測光條件下檢測出第1閾值以上的強度的光的位置以外的位置，
所述控制部取得判定差值，該判定差值是所述測光部在所述原稿蓋的角度變化且所述發光部發光的第2測光條件下檢測出的光的強度的最小值與所述測光部在所述原稿蓋關閉且所述發光部發光的第3測光條件下檢測出的光的強度之差，
將所述判定差值小于第2閾值的所述判定對象位置判定為存在所述原稿的位置，將所述判定差值為所述第2閾值以上的所述判定對象位置判定為不存在所述原稿的位置，由此，確定原稿尺寸。
2.根據權利要求1所述的掃描儀，其中，
所述第1測光條件是所述原稿蓋與原稿臺之間的角度為30度以下。
3.根據權利要求1所述的掃描儀，其中，
所述第2測光條件是如下條件：所述原稿蓋與原稿臺之間的角度以小于所述第1測光條件的角度進行變化。
4.一種掃描儀，其中，該掃描儀具有：
發光部，其向原稿照射光；
多個測光部，它們與所述發光部相對于所述原稿配置在同一側，輸出來自所述發光部的光在所述原稿處反射后的光的強度；
檢測部，其檢測從所述測光部的相反側覆蓋所述原稿的原稿蓋的狀態；以及
控制部，其在設置有所述測光部的多個位置，根據被設置在判定對象位置的所述測光部在與第1測光條件不同的測光條件下檢測出的光的強度，確定原稿尺寸，其中，該第1測光條件是所述原稿蓋打開且所述發光部不發光，該判定對象位置是在所述第1測光條件下檢測出第1閾值以上的強度的光的位置以外的位置，
當所述測光部在所述原稿蓋關閉且所述發光部不發光的第4測光條件下檢測出的光的強度與所述測光部在所述原稿蓋關閉且所述發光部發光的第3測光條件下檢測出的光的強度之差小于第3閾值的情況下，所述控制部判定為所述測光部和所述發光部中的至少一方發生故障。
5.根據權利要求4所述的掃描儀，其中，
所述第1測光條件是所述原稿蓋與原稿臺之間的角度為30度以下。
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