[發明專利]存儲器控制電路及相關的存儲器控制方法

有效

• 申請號: 201410389977.7
• 申請日: 2014-08-08
• 公開（公告）號: CN105448323B
• 公開（公告）日: 2019-04-09
• 發明（設計）人: 余俊锜;張志偉;黃勝國
• 申請（專利權）人: 瑞昱半導體股份有限公司
• 主分類號: G11C11/4063
• 分類號: G11C11/4063
• 代理公司: 隆天知識產權代理有限公司 72003
• 代理人: 趙根喜;李昕巍

1.一種存儲器控制電路，包含有：

一比較器，用以比較一數據信號與一參考電壓，以產生一比較后數據信號；

一眼寬測量電路，耦接于該比較器，用以接收一時脈信號，并調整該時脈信號的相位，以使用多個不同相位的該時脈信號來對該比較后數據信號進行過取樣操作，以測量該比較后數據信號的眼寬，并產生一測量結果；以及

一校正電路，耦接于該比較器與該眼寬測量電路，用以根據該測量結果來調整該參考電壓的電平。

2.如權利要求1所述的存儲器控制電路，其中該數據信號為0/1交替的數據信號，且該眼寬測量電路測量該比較后數據信號中對應到位元值0的眼寬以及對應到位元值1的眼寬，并產生該測量結果。

3.如權利要求1所述的存儲器控制電路，其中該測量結果包含了該比較后數據信號中對應到位元值0的眼寬以及對應到位元值1的眼寬，且當該測量結果指出該比較后數據信號中對應到位元值0的眼寬大于對應到位元值1的眼寬時，該校正電路降低該參考電壓的電平；以及當該測量結果指出該比較后數據信號中對應到位元值0的眼寬小于對應到位元值1的眼寬時，該校正電路增加該參考電壓的電平。

4.如權利要求1所述的存儲器控制電路，其中該數據信號為0/1交替的數據信號，且該存儲器控制電路另包含有：

一工作周期檢測電路，用以檢測該比較后數據信號的工作周期，以產生一檢測結果；

其中該校正電路還根據該檢測結果來調整該參考電壓的電平。

5.如權利要求4所述的存儲器控制電路，其中當該檢測結果指出該比較后數據信號的工作周期小于50％時，該校正電路降低該參考電壓的電平；以及當該檢測結果指出該比較后數據信號的工作周期大于50％時，該校正電路增加該參考電壓的電平。

6.如權利要求1所述的存儲器控制電路，其中該校正電路首先主動調整該參考電壓的電平，并根據該眼寬測量電路所產生的該測量結果來繼續增加或是降低該參考電壓的電平，直到該眼寬測量電路所產生的該測量結果指出該比較后數據信號的眼寬到達一最大值為止。

7.一種存儲器控制方法，包含有：

比較一數據信號與一參考電壓，以產生一比較后數據信號；

接收來一時脈信號，并調整該時脈信號的相位，以使用多個不同相位的該時脈信號來對該比較后數據信號進行過取樣操作，測量該比較后數據信號的眼寬，以產生一測量結果；以及

根據該測量結果來調整該參考電壓的電平。

8.如權利要求7所述的存儲器控制方法，其中該數據信號為0/1交替的數據信號，且測量該比較后數據信號的眼寬以產生該測量結果的步驟包含有：

測量該比較后數據信號中對應到位元值0的眼寬以及對應到位元值1的眼寬，并產生該測量結果。

9.如權利要求7所述的存儲器控制方法，其中該測量結果包含了該比較后數據信號中對應到位元值0的眼寬以及對應到位元值1的眼寬，且根據該測量結果來調整該參考電壓的電平的步驟包含有：

當該測量結果指出該比較后數據信號中對應到位元值0的眼寬大于對應到位元值1的眼寬時，降低該參考電壓的電平；以及

當該測量結果指出該比較后數據信號中對應到位元值0的眼寬小于對應到位元值1的眼寬時，增加該參考電壓的電平。

10.如權利要求7所述的存儲器控制方法，其中該數據信號為0/1交替的數據信號，且該存儲器控制方法還包含有：

檢測該比較后數據信號的工作周期，以產生一檢測結果；以及

根據該檢測結果來調整該參考電壓的電平。

11.如權利要求10所述的存儲器控制方法，還包含有：

當該檢測結果指出該比較后數據信號的工作周期小于50％時，降低該參考電壓的電平；以及

當該檢測結果指出該比較后數據信號的工作周期大于50％時，增加該參考電壓的電平。