[發明專利]光學構件的檢查方法、光學產品的制造方法以及光學構件的檢查裝置

有效

• 申請號: 201410384065.0
• 申請日: 2014-08-06
• 公開（公告）號: CN104345062B
• 公開（公告）日: 2018-09-28
• 發明（設計）人: 田村透;古澤修也
• 申請（專利權）人: 日東電工株式會社
• 主分類號: G01N21/89
• 分類號: G01N21/89
• 代理公司: 北京林達劉知識產權代理事務所(普通合伙) 11277
• 代理人: 劉新宇;張會華

本發明提供光學構件的檢查方法、光學產品的制造方法以及光學構件的檢查裝置。將光學構件作為被檢查物向具有光源部和拍攝部的檢查裝置供給，使上述光學構件通過特定配置后的上述光源部與上述拍攝部之間而進行該光學構件的檢查。

技術領域

本發明涉及光學構件的檢查方法、光學產品的制造方法以及光學構件的檢查裝置，更詳細而言，涉及具有用于向被檢查物照射光的光源部和用于自相反一側對被檢查物的被該光源部照射有光的部位進行拍攝的拍攝部的檢查裝置、利用該檢查裝置來檢查光學構件的方法以及使用該檢查過的光學構件的光學產品的制造方法。

背景技術

以往，作為應用于圖像顯示裝置等光學產品的光學膜而使用偏振膜(偏振片)。

在光學膜廠商處，該偏振膜是以例如在該偏振膜的至少一個面上借助粘合層層疊了保護膜而成的膜層疊體的狀態實現產品化的。

并且，在光學產品廠商處，將偏振膜在剝離上述保護膜后安裝于圖像顯示裝置等。

另外，通常，偏振膜被連續地制作而成為長條的帶狀。

然后，偏振膜被制成在至少一個面上借助粘合層層疊了上述保護膜而成的膜層疊體，并將該膜層疊體以卷取成卷狀的被稱作原料卷(日文：原反ロール)的形式暫時保管。

之后，利用沖裁等將偏振膜自上述原料卷加工成具有規定形狀的片材，該片材成為用于安裝于光學產品的產品。

此外，上述原料卷未必在整個面上均是合格品，通常，在上述沖裁前，會輸入到檢查裝置來檢測缺陷部位。

作為用于檢查該原料卷那樣的片狀的光學構件的檢查裝置，公知有如下類型的檢查裝置，該檢查裝置公知有具有光源部和拍攝部，在該檢查裝置中，一邊使作為被檢查物的光學構件沿水平方向通過在上下方向上相對配置的拍攝部與光源部之間，一邊自下表面側利用上述光源部向該光學構件照射光且自光學構件的上側利用上述拍攝部拍攝該光照射部位而檢測缺陷(參照下述專利文獻1)。

另外，還公知有如下那樣的檢查方法：并不是以使光學構件呈水平狀態的方式檢查光學構件，而是以使光學構件的移動方向成為鉛垂方向的方式進行檢查(參照下述專利文獻2)。

即，在以往的光學產品的制造方法中，實施檢測片狀的光學構件的缺陷的工序和從該工序后的光學構件中切出比該光學構件小的片材的工序，使用該片材來制造光學產品。

并且，檢測上述光學構件的缺陷的工序通常是以如下方法進行的：將上述光學構件中的被來自上述光源部的光照射的光照射部位固定并將該光照射部位作為上述拍攝部所拍攝的拍攝部位，通過使光學構件通過該拍攝部與上述光源部之間而沿著該光學構件的長度方向依次檢測缺陷。

專利文獻1：日本特開2007－213016號公報

專利文獻2：日本特開2009－069142號公報

發明內容

發明要解決的問題

在使用上述那樣的檢查裝置的檢查方法中，當然不能利用該檢查裝置檢測在利用拍攝部進行拍攝后附著在光學構件上的附著物。

因而，為了防止附著物被帶入到最終的光學產品中而使光學產品的成品率降低，要求在通過上述拍攝部位之后不產生附著物。

尤其是，光學構件是在最外表面具有粘合層且在該粘合層的背面側上層疊有上述偏振膜的層疊體，使光學構件以該粘合層位于上表面側的方式通過上述光源部與上述拍攝部之間，在以上那樣的形態中，在粘合層的表面粘合力的作用下，附著物難以脫落，從而難以期待在拍攝后附著的附著物自然地從光學構件脫落。

因而，在這樣的形態中，特別強烈要求在上述拍攝后不產生附著物。