[發(fā)明專利]光學(xué)構(gòu)件的檢查方法、光學(xué)產(chǎn)品的制造方法以及光學(xué)構(gòu)件的檢查裝置

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201410384065.0
• 申請日: 2014-08-06
• 公開（公告）號: CN104345062B
• 公開（公告）日: 2018-09-28
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 田村透;古澤修也
• 申請（專利權(quán)）人: 日東電工株式會社
• 主分類號: G01N21/89
• 分類號: G01N21/89
• 代理公司: 北京林達(dá)劉知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 11277
• 代理人: 劉新宇;張會華

1.一種光學(xué)構(gòu)件的檢查方法，在該檢查方法中，將片狀的光學(xué)構(gòu)件作為被檢查物向具有光源部和拍攝部的檢查裝置供給，一邊使上述光學(xué)構(gòu)件通過上述光源部與上述拍攝部之間，一邊自上述光源部向該光學(xué)構(gòu)件的一面?zhèn)日丈涔馇易陨鲜龉鈱W(xué)構(gòu)件的另一面?zhèn)壤蒙鲜雠臄z部對上述光學(xué)構(gòu)件的被該光照射的部位進(jìn)行拍攝而檢測上述光學(xué)構(gòu)件的缺陷，其特征在于，

使上述光學(xué)構(gòu)件以相對于水平方向傾斜的狀態(tài)通過上述光源部與上述拍攝部之間，

使通過上述光源部與上述拍攝部之間的上述光學(xué)構(gòu)件成為朝向移動方向去逐漸上升的傾斜狀態(tài)，

使上述光源部和上述拍攝部中的位于上述光學(xué)構(gòu)件的上側(cè)的一者位于比光學(xué)構(gòu)件的上述拍攝部所拍攝的拍攝部位的正上方靠該光學(xué)構(gòu)件的移動方向上游側(cè)的位置，并且，以使將上述光源部和上述拍攝部相連的線段成為與上述光學(xué)構(gòu)件的移動方向正交的方向的方式配置上述光源部和上述拍攝部，

在上述拍攝部位的正上方不存在上述光源部和上述拍攝部的任一者的狀態(tài)下，實施上述缺陷的檢測。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光學(xué)構(gòu)件的檢查方法，其中，

上述光學(xué)構(gòu)件是在最外表面具有粘合層且在該粘合層的背面?zhèn)壬蠈盈B有偏振膜的層疊體，使該光學(xué)構(gòu)件以上述粘合層位于上表面?zhèn)鹊姆绞酵ㄟ^上述光源部與上述拍攝部之間。

3.一種光學(xué)產(chǎn)品的制造方法，在該制造方法中，從片狀的光學(xué)構(gòu)件中切出比該光學(xué)構(gòu)件小的片材，使用該片材來制造光學(xué)產(chǎn)品，其中，

使用被實施了權(quán)利要求1或2所述的光學(xué)構(gòu)件的檢查方法的光學(xué)構(gòu)件，并從經(jīng)上述檢查方法沒有發(fā)現(xiàn)缺陷的部分中切出上述片材。

4.一種光學(xué)構(gòu)件的檢查裝置，其用于檢查片狀的光學(xué)構(gòu)件，該光學(xué)構(gòu)件的檢查裝置具有光源部和拍攝部，自上述光源部向通過該光源部與上述拍攝部之間的上述光學(xué)構(gòu)件的一面?zhèn)日丈涔馇易陨鲜龉鈱W(xué)構(gòu)件的另一面?zhèn)壤蒙鲜雠臄z部對上述光學(xué)構(gòu)件的被該光照射的部位進(jìn)行拍攝而檢測缺陷，其特征在于，

以使通過上述光源部與上述拍攝部之間的光學(xué)構(gòu)件成為相對于水平方向傾斜的狀態(tài)、使通過上述光源部與上述拍攝部之間的上述光學(xué)構(gòu)件成為朝向移動方向去逐漸上升的傾斜狀態(tài)的方式形成上述光學(xué)構(gòu)件的移動路徑，使上述光源部和上述拍攝部中的位于上述光學(xué)構(gòu)件的上側(cè)的一者位于比上述光學(xué)構(gòu)件的上述拍攝部所拍攝的拍攝部位的正上方靠該光學(xué)構(gòu)件的移動方向上游側(cè)的位置，并且，以使將上述光源部和上述拍攝部相連的線段成為與上述移動路徑正交的方向的方式配置上述光源部和上述拍攝部，

在上述拍攝部位的正上方不存在上述光源部和上述拍攝部的任一者。