[發明專利]一種基于PAD控制多路信號測試的方法及系統

在審

• 申請號: 201410375296.5
• 申請日: 2014-07-31
• 公開（公告）號: CN104155598A
• 公開（公告）日: 2014-11-19
• 發明（設計）人: 丁一;吳勁;胡建國;段志奎;王德明;郝志剛
• 申請（專利權）人: 中山大學;廣州中大數碼科技有限公司;廣州中大微電子有限公司
• 主分類號: G01R31/3177
• 分類號: G01R31/3177
• 代理公司: 廣州三環專利代理有限公司 44202
• 代理人: 郝傳鑫;熊永強

技術領域

本發明涉及信號測試技術領域，具體涉及一種基于PAD控制多路信號測試的方法及系統。

背景技術

集成電路產品研發和換代周期較短。按照摩爾定律，集成芯片上所集成的電路數目，微處理器的性能，每隔一個周期就翻一番；可比單位貨幣所能購買到的電腦性能，每隔一個周期就翻兩番。芯片制造商要以最短時間，盡其所能，開發新技術，將技術標準更新換代，以實現產品性價比迅速優化，并大規模鎖定消費者群體，乃至防止自身技術標準鎖定的消費者、使用者群體流失到競爭廠商那兒去。

在整個集成電路產品的研發過程中，需要從降低成本和減少研發周期入手。而要減少研發周期，在測試階段就需要在一次流片中測到大量的信號，確保下次流片可以解決所有問題。而要測試到大量的信號，就需要把這些信號都用集成電路中的壓焊塊(PAD)引出來，PAD是連接集成電路內部電路和外部電路封裝引腳Pin的中間節點。現有的PAD一般實現點對點模式，由一路PAD引出一路測試信號到測試端實現測試，如果將多個PAD封裝在一起來引出多路測試信號，會導致PAD的版圖面積過大，不但會增加成本，而且大量的PAD會導致封裝困難，測試困難等問題。

發明內容

針對現有PAD無法引出多路信號測試的問題，本發明提供了一種基于PAD控制多路信號測試的方法和PAD及系統，通過可變寄存器來控制多路測試信號單向通過PAD來實現多路測試信號的測試。

本發明提供了一種基于PAD控制多路信號測試的方法，包括如下步驟：

基于多路信號源設置多選一邏輯門可控電路，所述多選一邏輯門可控電路由非門、或非門、與非門和可控開關組合而成；

將多路測試信號接入到多選一邏輯門可控電路的可控開關上；

基于可變寄存器中數字控制源控制著多路測試信號的單向輸出到集成電路中的壓焊塊PAD；

PAD輸出單向輸出的測試信號到測試端。

所述多路測試信號為數字信號或者模擬信號。

所述可變寄存器可控制的多路信號源的路數為2ⁿ⁺¹。

所述基于可變寄存器中數字控制源控制著多路測試信號的單向輸出到集成電路中的壓焊塊PAD還包括：

將多路測試信號中單向輸出的測試信號基于緩沖器輸出到PAD。

相應的，本發明還提供了一種基于PAD測試的系統，包括：

可變寄存器，用于輸出數字控制源控制著連接到多選一邏輯門可控電路上的多路測試信號的單向輸出到集成電路中的壓焊塊PAD；

多選一邏輯門可控電路，包括由非門、或非門、與非門和可控開關組合而成，多選一邏輯門可控電路中的每一可控開關可接入一路測試信號，用于受控于可變寄存器的控制，接通測試信號輸入到PAD上；

PAD，用于接收多選一邏輯門可控電路輸入的測試信號，并輸出到測試端。

所述多路測試信號為數字信號或者模擬信號。

所述可變寄存器可控制的多路信號源的路數為2ⁿ⁺¹。

所述系統還包括緩沖器，所述緩沖器位于PAD和多選一邏輯門可控電路的通路上，將多選一邏輯門可控電路中單向輸出的信號輸出到PAD。

本發明實施例由一個可變寄存器[n:0]控制著多選一電路，根據非門、或非門和與非門的組合可有2ⁿ⁺¹種配置，每種配置對應一個可控開關，每個可控開關的一端接同一個輸出而另一端接不同的測試信號。不同的配置打開不同的開關，使得輸出信號在配置不同時而有所不同，從而可以達到一個PAD可以測到多個測試信號的效果。通過可變寄存器來選擇需要測試的信號，可以大大縮小了版圖面積，更是讓測試更加便利，節約了投片和測試的成本，大大提高了測試力度。

附圖說明

為了更清楚地說明本發明實施例或現有技術中的技術方案，下面將對實施例或現有技術描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本發明的一些實施例，對于本領域普通技術人員來講，在不付出創造性勞動的前提下，還可以根據這些附圖獲得其它的附圖。

圖1是本發明實施例中的基于PAD控制多路信號測試的方法流程圖；

圖2是本發明實施例中的八選一的多選一邏輯門可控電路的結構示意圖；

圖3是本發明實施例中的緩沖器結構示意圖；

圖4是本發明實施例中的基于PAD的測試系統結構示意圖。

具體實施方式