[發(fā)明專利]一種基于PAD控制多路信號測試的方法及系統(tǒng)

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 201410375296.5
• 申請日: 2014-07-31
• 公開（公告）號: CN104155598A
• 公開（公告）日: 2014-11-19
• 發(fā)明（設計）人: 丁一;吳勁;胡建國;段志奎;王德明;郝志剛
• 申請（專利權(quán)）人: 中山大學;廣州中大數(shù)碼科技有限公司;廣州中大微電子有限公司
• 主分類號: G01R31/3177
• 分類號: G01R31/3177
• 代理公司: 廣州三環(huán)專利代理有限公司 44202
• 代理人: 郝傳鑫;熊永強

1.一種基于PAD控制多路信號測試的方法，其特征在于，包括如下步驟：

基于多路信號源設置多選一邏輯門可控電路，所述多選一邏輯門可控電路由非門、或非門、與非門和可控開關(guān)組合而成；

將多路測試信號接入到多選一邏輯門可控電路的可控開關(guān)上，每一路測試信號接入一路可控開關(guān)；

基于可變寄存器中數(shù)字控制源控制著多路測試信號的單向輸出到集成電路中的壓焊塊PAD；

PAD輸出單向輸出的測試信號到測試端。

2.如權(quán)利要求1所述的基于PAD控制多路信號測試的方法，其特征在于，所述多路測試信號為數(shù)字信號或者模擬信號。

3.如權(quán)利要求1所述的基于PAD控制多路信號測試的方法，其特征在于，所述可變寄存器可控制的多路信號源的路數(shù)為2ⁿ⁺¹。

4.如權(quán)利要求1至3任一項所述的基于PAD控制多路信號測試的方法，其特征在于，所述基于可變寄存器中數(shù)字控制源控制著多路測試信號的單向輸出到集成電路中的壓焊塊PAD還包括：

將多路測試信號中單向輸出的測試信號基于緩沖器輸出到PAD。

5.一種基于PAD測試的系統(tǒng)，其特征在于，包括：

可變寄存器，用于輸出數(shù)字控制源控制著連接到多選一邏輯門可控電路上的多路測試信號的單向輸出到集成電路中的壓焊塊PAD；

多選一邏輯門可控電路，包括由非門、或非門、與非門和可控開關(guān)組合而成，多選一邏輯門可控電路中的每一可控開關(guān)可接入一路測試信號，用于受控于可變寄存器的控制，接通測試信號輸入到PAD上；

PAD，用于接收多選一邏輯門可控電路輸入的測試信號，并輸出到測試端。

6.如權(quán)利要求5所述的基于PAD測試的系統(tǒng)，其特征在于，所述多路測試信號為數(shù)字信號或者模擬信號。

7.如權(quán)利要求5所述的基于PAD測試的系統(tǒng)，其特征在于，所述可變寄存器可控制的多路信號源的路數(shù)為2ⁿ⁺¹。

8.如權(quán)利要求5至7任一項所述的基于PAD測試的系統(tǒng)，其特征在于，所述系統(tǒng)還包括緩沖器，所述緩沖器位于PAD和多選一邏輯門可控電路的通路上，將多選一邏輯門可控電路中單向輸出的信號輸出到PAD。