[發明專利]電子裝置、效能分類系統與方法、電壓自動校正系統有效
申請號: | 201410375083.2 | 申請日: | 2014-08-01 |
公開(公告)號: | CN104459366B | 公開(公告)日: | 2017-10-10 |
發明(設計)人: | 陳世豪;方勇勝 | 申請(專利權)人: | 創意電子股份有限公司;臺灣積體電路制造股份有限公司 |
主分類號: | G01R31/00 | 分類號: | G01R31/00 |
代理公司: | 北京律誠同業知識產權代理有限公司11006 | 代理人: | 徐金國 |
地址: | 中國臺灣新*** | 國省代碼: | 臺灣;71 |
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摘要: | |||
搜索關鍵詞: | 電子 裝置 效能 分類 系統 方法 電壓 自動 校正 | ||
技術領域
本發明是有關于一種集成電路的測試方式,且特別是有關于一種對集成電路的效能進行分類的方法與系統。
背景技術
傳統上,功能與交流掃描模式(AC-scan pattern)常用于測試集成電路的功能與效能。也就是說,功能性與交流性的模式常用以驗證芯片的操作速度與操作正確性。隨著測試模式,一個時脈速度常被輸入至待測的芯片中。
圖1為將一個芯片的實際操作速度與功能性測試模式進行關聯的傳統流程圖。在步驟101中,在布局與驗證完成后,芯片下線制作完成。在步驟102中,在芯片制作完成后,通過后芯片測試(post-silicon testing)來對芯片收集數據以進行進一步地的測試。在步驟103中,芯片的效能與功能性或交流掃描模式的關聯可被決定。在步驟104中,利用前述的關聯而對效能進行分類。然而,這種測試方式需要較高的成本,且將大量的功能性或交流性測試模式與實際芯片的操作速度進行關聯,會需要較長的操作時間。
在不同態樣的傳統方法中,臨界路徑(critical paths)常被用來感測,以獲得臨界路徑上的延遲時間,借此決定芯片的效能。然而,在后芯片制作中,可能會有上千條路徑可以被當作所謂的臨界路徑。在后芯片制作中,利用單一的環形震蕩器或復制的臨界路徑,無法對多個變化的臨界路徑有效率地進行關聯。因此,利用臨界路徑來對芯片的實際操作速度不是有效率的方式。
因此,現行仍需要一種有效且具有效率的方式來決定芯片的效能或速度。
發明內容
本發明的一方面提供了一種計算集成電路的效能的方法,此方法包含下列步驟:將多個硬件效能監視器放置于多個集成電路中的每一者中,其中每一硬件效能監視器根據對應的集成電路的效能產生數值;根據多個硬件效能監視器產生的多個數值,提供一個效能函數,其中效能函數包含多個項目,且每一項目各自關聯于一權重;根據多個集成電路中的第一組集成電路計算多個項目的多個權重,其中第一組集成電路的效能為已知;以及根據效能函數計算多個集成電路中的多個第一集成電路的效能,其中效能函數與多個權重內建于多個第一集成電路中。
本發明的一方面提供了一種電子裝置。電子裝置用于計算多個集成電路中的一者的效能,電子裝置包含多個硬件效能監視器、儲存單元與內建自我測試模塊。多個硬件效能監視器位于多個集成電路中,其中每一硬件效能監視器根據對應的集成電路的效能產生數值。儲存單元用以根據多個硬件效能監視器產生的多個數值以儲存一效能函數中的多個權重,效能函數包含多個項目,其中效能函數中的每一項目分別關聯于多個權重中的一對應者,且每一項目的權重是根據多個集成電路中的第一組集成電路的效能所決定,第一組集成電路的效能為已知。內建自我測試模塊用以根據在多個集成電路中的多個硬件效能監視器產生的多個數值與儲存單元儲存的所述權重,獲得效能函數的一量值,借此計算多個集成電路中的一者的效能。
本發明的一方面提供了一種電路系統。電路系統包含多個集成電路、多個硬件效能監視器、儲存單元與內建自我測試模塊。多個硬件效能監視器位于多個集成電路中,其中每一硬件效能監視器根據對應的集成電路的效能產生數值。儲存單元用以根據多個硬件效能監視器產生的多個數值以儲存一效能函數中的多個權重,效能函數包含多個項目,其中效能函數中的每一項目分別關聯于多個權重中的一對應者,且每一項目的權重是根據多個集成電路中的第一組集成電路的效能所決定,第一組集成電路的效能為已知。內建自我測試模塊用以根據在多個集成電路中的多個硬件效能監視器產生的多個數值與儲存單元儲存的所述權重,獲得效能函數的一量值,借此計算多個集成電路中的一者的效能。
本發明的一方面提供了一種分類系統。分類系統包含前述的電路系統與接口。接口耦接至電路系統,以獲得多個集成電路的效能。
本發明的一方面提供了一種電壓自動校正系統,可適用于前述的電子裝置。電壓自動校正系統包含電源管理模塊與電壓調整模塊。電源管理模塊用以根據控制信號產生驅動電壓,以驅動多個集成電路。電壓調整模塊電性耦接電源管理模塊,用以對效能函數的該量值與一目標值進行比較,以產生控制信號。
綜上所述,本發明的分類系統與計算效能的方法可有效率地同時對多個集成電路或芯片進行準確的效能估算。此外,搭配了電壓自動校正的設計,本發明降低芯片制作后產生的變異或老化現象,可讓多個芯片具有更穩定的效能,并同時節省不必要的功率消耗。
附圖說明
為讓本發明的上述和其他目的、特征、優點與實施例能更明顯易懂,所附附圖的說明如下:
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